[發明專利]儲層改造方法及裝置

有效

• 申請號: 202010317298.4
• 申請日: 2020-04-21
• 公開（公告）號: CN113622903B
• 公開（公告）日: 2023-09-26
• 發明（設計）人: 李松;劉飛;馬輝運;周長林;李力;陳偉華;曾嶸;葉頡梟;付艷;官文婷
• 申請（專利權）人: 中國石油天然氣股份有限公司
• 主分類號: E21B49/00
• 分類號: E21B49/00;E21B47/00;E21B43/25
• 代理公司: 北京三高永信知識產權代理有限責任公司 11138
• 代理人: 董亞軍

1.一種儲層改造方法，其特征在于，所述方法包括：

基于儲層中的測試儲層段的多個測試樣本點，獲取產量數據和多項第一錄測井數據，所述多項第一錄測井數據包括多項影響因素對應的錄測井數據；

對所述產量數據和所述多項第一錄測井數據進行無因次化處理；

獲取經過無因次化處理過的產量數據與各項第一錄測井數據之間的多項第一相關系數；

將第一相關系數大于預設閾值的影響因素獲取為目標影響因素；

獲取經過無因次化處理過的產量數據與各項目標影響因素對應的第一錄測井數據之間的第二相關系數；

采用偏最小二乘法對每項所述第一相關系數和所述第二相關系數進行多元線性回歸處理，得到各項目標影響因素對產量的投影重要性指標；

獲取所述儲層中的目標儲層段的多項第二錄測井數據，所述第二錄測井數據包括各項所述目標影響因素對應的錄測井數據；

對于所述目標儲層段，將每項第二錄測井數據與相應的投影重要性指標相乘，將乘積之和獲取為儲層改造系數；

基于所述儲層改造系數，對所述目標儲層段進行改造。

2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述多項影響因素包括：有效厚度、儲層垂厚、Ⅰ+Ⅱ比例、井斜角、漏失量、全烴、深淺電阻率比、孔隙度、滲透率、含水飽和度、儲能系數、補償聲波、補償密度、深淺電阻率差、自然伽馬、深側向和淺側向，所述Ⅰ+Ⅱ比例是指在測井解釋中I、II類儲層厚度占總儲層厚度的比例。

3.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述對所述產量數據和所述多項第一錄測井數據進行無因次化處理，包括：

獲取每項第一錄測井數據的多個樣本點的平均數；

對于每項數據，將每個樣本點的數值除以所述數據的平均數，得到所述每個樣本點的無因次化處理后的數據。

4.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述獲取經過無因次化處理過的產量數據與各項第一錄測井數據之間的第一相關系數，包括：

基于下述公式（2）計算所述第一相關系數：

（2）

其中，表示所述第一相關系數；

X_a表示產量數據；

X_b表示一項或多項第一錄測井數據；

j表示樣本點的序號；

m表示樣本點的總個數；

avg表示平均數。

5.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述采用偏最小二乘法對每項所述第一相關系數和所述第二相關系數進行多元線性回歸處理，得到各項目標影響因素對產量的投影重要性指標，包括：

基于下述公式（4）計算所述投影重要性指標：

（4）

式中：I_vip,j表示影響因素t對測試產量的投影重要性指標；

p為自變量個數；

r（y，t₁，t₂，…t_m）表示所述第二相關系數；

r（y，t_j）表示所述第一相關系數；

W_j表示測試產量。