[發明專利]激光干涉測量系統

在審

• 申請號: 202010316331.1
• 申請日: 2020-04-21
• 公開（公告）號: CN111351511A
• 公開（公告）日: 2020-06-30
• 發明（設計）人: 張少林;張萬禎;周秋玲;劉團結
• 申請（專利權）人: 深圳市威富視界有限公司
• 主分類號: G01D5/26
• 分類號: G01D5/26
• 代理公司: 廣州華進聯合專利商標代理有限公司 44224
• 代理人: 汪潔麗

本申請涉及一種激光干涉測量系統。所述激光干涉測量系統包括激光干涉裝置和數據處理終端。所述激光干涉裝置包括網絡攝像機，所述網絡攝像機用于采集干涉條紋圖像。所述數據處理終端與所述網絡攝像機通過網絡通信連接，用于根據所述干涉條紋圖像得到測量結果。本申請提供的所述激光干涉測量系統數據處理效率高。

技術領域

本申請涉及電池安全測試技術領域，特別是涉及一種激光干涉測量系統。

背景技術

激光干涉測量技術是以光波干涉原理為基礎進行測量的一門技術。激光干涉測量是非接觸測量，而且具有很高的測量靈敏度和精度，因此，被廣泛應用于各種測量儀器中以進行距離測量、光譜測量、頻率測量、快速過程觀測以及加工等。

傳統的激光干涉測量系統主要包括激光源、干涉儀和數據采集裝置。數據采集裝置將從干涉儀采集的光信號轉換為電信號。之后，將電信號導入計算機設備，在計算機設備上預先安裝的數據處理軟件對電信號進行處理，得到測量結果。

然而，這樣的激光干涉測量系統存在數據處理效率低下的問題。

發明內容

基于此，有必要針對上述技術問題，提供一種激光干涉測量系統。

一種激光干涉測量系統，包括：

激光干涉裝置，所述激光干涉裝置包括網絡攝像機，所述網絡攝像機用于采集干涉條紋圖像；

數據處理終端，與所述網絡攝像機通過網絡通信連接，用于根據所述干涉條紋圖像得到測量結果。

在其中一個實施例中，所述數據處理終端與所述網絡攝像機無線通信連接。

在其中一個實施例中，所述數據處理終端為云服務終端。

在其中一個實施例中，所述數據處理終端包括：

圖像接收模塊，與所述網絡攝像機通過網絡通信連接，用于接收所述干涉條紋圖像；

處理模塊，與所述圖像接收模塊通信連接，用于對所述干涉條紋圖像進行處理得到所述測量結果。

在其中一個實施例中，所述數據處理終端還包括：

反饋模塊，與所述處理模塊通信連接，用于將所述測量結果與預設標準進行對比，確定所述測量結果是否符合要求。

在其中一個實施例中，所述激光干涉裝置包括：

激光源，用于產生測量光束；

干涉儀，所述干涉儀包括所述網絡攝像機，所述干涉儀設置于所述測量光束的光路上，所述測量光束經過所述干涉儀照射至被測物體，并經所述被測物體反射后入射至所述干涉儀，形成干涉條紋。

在其中一個實施例中，所述激光源和所述干涉儀的數量均為多個，每個所述激光源對應向一個所述干涉儀發射所述測量光束。

在其中一個實施例中，所述干涉儀的數量為多個，所述激光源的數量少于所述干涉儀的數量，所述激光干涉裝置還包括：

分光單元，設置于所述測量光束的光路上，所述測量光束經過所述分光單元分為多路測量光束，所述多路測量光束分別入射至多個所述干涉儀。

在其中一個實施例中，所述干涉儀還包括：

分光鏡，設置于所述測量光束的光路上，用于將所述測量分光束分為垂直的子測量光和子參考光；

第一反射鏡，設置于所述子參考光的光路上，用于將所述子參考光反射回至所述分光鏡；

所述子測量光照射至所述被測物體，被所述被測物體反射至所述分光鏡，與經所述第一反射鏡反射的所述子參考光混合，得到混合光；

第二反射鏡，設置于所述混合光的光路上；