[發(fā)明專利]一種測定邊坡模型內(nèi)部位移變化的方法

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 202010314787.4
• 申請日: 2020-04-21
• 公開（公告）號: CN111426272B
• 公開（公告）日: 2021-12-03
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 董輝;何山山;朱憲明;羅正東;程子華;彭搏程
• 申請（專利權(quán)）人: 湘潭大學(xué)
• 主分類號: G01B11/02
• 分類號: G01B11/02
• 代理公司: 長沙和誠容創(chuàng)知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 43251
• 代理人: 雷石清

1.一種測定邊坡模型內(nèi)部位移變化的方法，其特征在于，包括以下步驟：

步驟一：通過FC接頭(2)將光時域反射儀(1)和光纖預(yù)留段(3)的接頭連接；

步驟二：將光纖測試段(5)分多次纏繞于相同直徑的PVC管(4)上，且每次纏繞圈數(shù)不同，通過光時域反射儀(1)的測試結(jié)果可測得光損耗穩(wěn)定時光纖的纏繞圈數(shù)；

步驟三：將光纖測試段(5)分多次纏繞于不同直徑的PVC管(4)上，且每次纏繞圈數(shù)為步驟二中測得的光損耗穩(wěn)定時光纖的纏繞圈數(shù)，根據(jù)纏繞不同直徑的PVC管(4)時分別測得的穩(wěn)定光損耗值，推出穩(wěn)定光損耗與彎曲直徑之間的關(guān)系；

步驟四：將經(jīng)過步驟一至三標(biāo)定后的光纖(11)通過第一固定管(6)和第二固定管(7)將光纖(11)引入邊坡模型(8)中以連接邊坡模型(8)中不同高程的邊坡測點(diǎn)(10)，然后在每層的測試面上的邊坡測點(diǎn)(10)處分別預(yù)先放置一塊圓盤(13)，分別將邊坡測點(diǎn)(10)處的光纖(11)纏繞在對應(yīng)的圓盤(13)上，且纏繞圈數(shù)為穩(wěn)定光損耗時光纖的纏繞圈數(shù)，在掩埋圓盤(13)周邊的部分光纖(11)后，再將圓盤(13)取出，然后掩埋光纖(11)其余部分，通過試驗可得邊坡模型(8)內(nèi)邊坡測點(diǎn)(10)處光纖(11)的宏彎損耗，以此測出光纖(11)的變化半徑，進(jìn)而推算得出邊坡模型(8)內(nèi)部的部分土體沿滑動面(9)滑動的位移數(shù)值。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種測定邊坡模型內(nèi)部位移變化的方法，其特征在于，所述光纖(11)為單模G652D裸光纖，所述光纖(11)的前端與所述FC接頭(2)相連，所述光纖(11)上從與所述FC接頭(2)連接處至其測試區(qū)之間的部分為所述光纖預(yù)留段(3)，且所述光纖預(yù)留段(3)的長度大于所述光纖(11)總長的十分之一。

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種測定邊坡模型內(nèi)部位移變化的方法，其特征在于，所述PVC管的直徑在20mm至50mm范圍之間選擇。

4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種測定邊坡模型內(nèi)部位移變化的方法，其特征在于，所述第一固定管(6)包括第一圓弧段和第一直線段，所述第一圓弧段的半徑為100mm，所述第一直線段的長度為25mm。

5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的一種測定邊坡模型內(nèi)部位移變化的方法，其特征在于，所述第二固定管(7)包括前后兩段第二圓弧段和位于中間的第二直線段，所述第二圓弧段的半徑為100mm，所述第二直線段的長度視所述邊坡模型(8)內(nèi)部兩層邊坡測點(diǎn)(10)之間的高度差而定。

6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的一種測定邊坡模型內(nèi)部位移變化的方法，其特征在于，所述第一固定管(6)和第二固定管(7)的直徑為5mm，所述光纖(11)通過膠帶(12)分別與所述第一固定管(6)的第一直線段和第二固定管(7)的第二直線段連接，所述第一固定管(6)和第二固定管(7)的材質(zhì)為鐵質(zhì)或銅質(zhì)。

7.根據(jù)權(quán)利要求2所述的一種測定邊坡模型內(nèi)部位移變化的方法，其特征在于，在所述邊坡模型(8)中每層的測試面上的邊坡測點(diǎn)(10)處預(yù)先放置圓盤(13)，所述圓盤(13)的直徑為0.3m，先將所述光纖(11)纏繞在所述圓盤(13)上，再將所述圓盤(13)周邊的光纖(11)部分通過掩埋光纖土體(14)掩埋后再將圓盤(13)取出，然后掩埋所述光纖(11)的其他部位。