[發(fā)明專利]閃存特性分析方法及系統(tǒng)有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 202010312948.6 | 申請日： | 2020-04-20 |
| 公開（公告）號： | CN111627489B | 公開（公告）日： | 2023-09-29 |
| 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人： | 宋魏杰 | 申請（專利權(quán)）人： | 珠海妙存科技有限公司 |
| 主分類號： | G11C29/56 | 分類號： | G11C29/56;G06F11/36 |
| 代理公司： | 廣州嘉權(quán)專利商標(biāo)事務(wù)所有限公司 44205 | 代理人： | 張龍哺 |
| 地址： | 519000 廣東省珠海市橫琴新*** | 國省代碼： | 廣東;44 |
| 權(quán)利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 閃存 特性 分析 方法 系統(tǒng) | ||
1.一種閃存特性分析方法，其特征在于，包括以下步驟：
S10、將測試代碼錄入待測試閃存中；所述S10包括：
S11、根據(jù)目標(biāo)使用環(huán)境生成對應(yīng)的測試代碼；
S12、根據(jù)所述測試代碼生成對應(yīng)固件；
S13、通過系統(tǒng)級芯片將所述固件基于對應(yīng)閃存的傳輸協(xié)議接口錄入待測試閃存中；所述S13包括：
通過計(jì)算機(jī)終端對所述固件基于指定接口下發(fā)到所述系統(tǒng)級芯片中；
S20、所述待測試閃存中內(nèi)置的主控運(yùn)行所述測試代碼，執(zhí)行測試流程；所述S20包括：
S21、所述主控運(yùn)行所述測試代碼，并與系統(tǒng)級芯片建立通信連接；
S22、根據(jù)所述系統(tǒng)級芯片下發(fā)的測試指令，按照定義的測試規(guī)則執(zhí)行測試流程；所述S22還包括：
基于所述主控與所述系統(tǒng)級芯片建立通信連接，根據(jù)所述系統(tǒng)級芯片實(shí)時獲取所述主控執(zhí)行測試流程的數(shù)據(jù)；
S30、根據(jù)所述測試流程獲得對應(yīng)的測試數(shù)據(jù)。
2.一種閃存特性分析系統(tǒng)，其特征在于，包括：
燒錄模塊，用于將測試代碼錄入待測試閃存中；所述將測試代碼錄入待測試閃存中包括：
根據(jù)目標(biāo)使用環(huán)境生成對應(yīng)的測試代碼；
根據(jù)所述測試代碼生成對應(yīng)固件；
通過系統(tǒng)級芯片將所述固件基于對應(yīng)閃存的傳輸協(xié)議接口錄入待測試閃存中；通過計(jì)算機(jī)終端對所述固件基于指定接口下發(fā)到所述系統(tǒng)級芯片中；
閃存主控，用于所述待測試閃存中內(nèi)置的主控運(yùn)行所述測試代碼，執(zhí)行測試流程；所述主控運(yùn)行所述測試代碼，并與系統(tǒng)級芯片建立通信連接；根據(jù)所述系統(tǒng)級芯片下發(fā)的測試指令，按照定義的測試規(guī)則執(zhí)行測試流程；基于所述主控與所述系統(tǒng)級芯片建立通信連接，根據(jù)所述系統(tǒng)級芯片實(shí)時獲取所述主控執(zhí)行測試流程的數(shù)據(jù)；
回傳模塊，用于根據(jù)所述測試流程獲得對應(yīng)的測試數(shù)據(jù)。
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