[發明專利]零陷展寬方法、裝置及終端設備

有效

• 申請號: 202010301227.5
• 申請日: 2020-04-16
• 公開（公告）號: CN111487653B
• 公開（公告）日: 2022-02-11
• 發明（設計）人: 王曉君;李笑添
• 申請（專利權）人: 河北科技大學
• 主分類號: G01S19/21
• 分類號: G01S19/21;G01S19/01
• 代理公司: 石家莊國為知識產權事務所 13120
• 代理人: 付曉娣

1.一種零陷展寬方法，其特征在于，包括：

獲取陣列天線的接收信號，并確定所述接收信號的采樣協方差矩陣；

確定所述采樣協方差矩陣對應的陣列流型矩陣、特征值對角陣以及特征矢量張成子空間；

基于所述陣列流型矩陣、特征值對角陣以及特征矢量張成子空間確定目標功率矢量；

基于目標功率矢量對預設零陷展寬范圍內的信號功率進行重置，得到干擾加噪聲協方差矩陣；

將所述干擾加噪聲協方差矩陣輸入至預設采樣矩陣求逆模型實現零陷展寬；

其中，所述基于所述陣列流型矩陣、特征值對角陣以及特征矢量張成子空間確定目標功率矢量，包括：

基于所述特征值對角陣確定目標對角矩陣；

基于所述特征矢量張成子空間與所述陣列流型矩陣確定投影系數矩陣；

根據所述投影系數矩陣與所述目標對角矩陣確定目標功率矢量。

2.如權利要求1所述的零陷展寬方法，其特征在于，所述確定所述采樣協方差矩陣對應的陣列流型矩陣、特征值對角陣以及特征矢量張成子空間，包括：

對所述采樣協方差矩陣進行波達方向估計，得到該采樣協方差矩陣對應的陣列流型矩陣；

對所述采樣協方差矩陣進行特征值分解，得到該采樣協方差矩陣對應的特征值對角陣以及特征矢量張成子空間。

3.如權利要求1所述的零陷展寬方法，其特征在于，所述特征值對角陣確定目標對角矩陣，包括：

基于所述特征值對角陣確定目標特征值序列；

根據所述目標特征值序列確定噪聲功率，并基于所述噪聲功率與所述特征值對角陣確定目標對角矩陣。

4.如權利要求3所述的零陷展寬方法，其特征在于，所述基于所述特征值對角陣確定目標特征值序列，包括：

對所述特征值對角陣中的各個特征值進行排序，得到初始序列；

提取初始序列中前N個較小的特征值組成目標特征值序列；其中，N為預設值。

5.如權利要求1所述的零陷展寬方法，其特征在于，所述基于所述特征矢量張成子空間與所述陣列流型矩陣確定投影系數矩陣的方法為：

其中，為投影系數矩陣，為特征矢量張成子空間，為陣列流型矩陣，(·)^H表示矩陣共軛轉置運算。

6.如權利要求1所述的零陷展寬方法，其特征在于，所述根據所述投影系數矩陣與所述目標對角矩陣確定目標功率矢量的方法為：

其中，為目標功率矢量，為投影系數矩陣，為目標對角矩陣，表示Moore-Penrose偽逆。

7.一種零陷展寬裝置，其特征在于，包括：

信號獲取模塊，用于獲取陣列天線的接收信號，并確定所述接收信號的采樣協方差矩陣；

數據處理模塊，用于確定所述采樣協方差矩陣對應的陣列流型矩陣、特征值對角陣以及特征矢量張成子空間；

功率估計模塊，用于基于所述陣列流型矩陣、特征值對角陣以及特征矢量張成子空間確定目標功率矢量；其中，所述基于所述陣列流型矩陣、特征值對角陣以及特征矢量張成子空間確定目標功率矢量，包括：基于所述特征值對角陣確定目標對角矩陣；基于所述特征矢量張成子空間與所述陣列流型矩陣確定投影系數矩陣；根據所述投影系數矩陣與所述目標對角矩陣確定目標功率矢量；

矩陣重構模塊，用于基于目標功率矢量對預設零陷展寬范圍內的信號功率進行重置，得到干擾加噪聲協方差矩陣；

零陷展寬模塊，用于將所述干擾加噪聲協方差矩陣輸入至預設采樣矩陣求逆模型實現零陷展寬。

8.一種終端設備，包括存儲器、處理器以及存儲在所述存儲器中并可在所述處理器上運行的計算機程序，其特征在于，所述處理器執行所述計算機程序時實現如權利要求1至6任一項所述方法的步驟。

9.一種計算機可讀存儲介質，所述計算機可讀存儲介質存儲有計算機程序，其特征在于，所述計算機程序被處理器執行時實現如權利要求1至6任一項所述方法的步驟。