[發明專利]一種測試石墨磁性雜質的可視化方法在審
| 申請號: | 202010254150.0 | 申請日: | 2020-04-02 |
| 公開(公告)號: | CN111443014A | 公開(公告)日: | 2020-07-24 |
| 發明(設計)人: | 仰永軍;湯占磊 | 申請(專利權)人: | 廣東凱金新能源科技股份有限公司 |
| 主分類號: | G01N15/00 | 分類號: | G01N15/00;G01N15/10;G01N23/00;G01N23/20091 |
| 代理公司: | 東莞市啟信展華知識產權代理事務所(普通合伙) 44579 | 代理人: | 馮蓉 |
| 地址: | 523000 廣*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 測試 石墨 磁性 雜質 可視化 方法 | ||
1.一種測試石墨磁性雜質的可視化方法,包括以下步驟:步驟一,安裝攪拌;步驟二,去除雜質;步驟三,轉移顆粒;步驟四,使用機器;步驟五,記錄分析;步驟六,關閉機器;其特征在于:
其中在上述步驟一中,先利用特殊制備PVC的中心處通過打孔機進行打孔,當打孔完成后,使金屬顆粒收集器放置在PVC上打孔處,且兩者相互對應,當固定完成后,使PVC和金屬顆粒收集器,同活性電極材料一同攪拌在不限于乙醇或水或乙醇和水的混合溶液;
其中在上述步驟二中,將步驟一中攪拌后的后的PVC和金屬顆粒收集器使用干凈玻璃棒取出,隨后放置在水中使用超聲波去除懸浮活性材料,后放置在表面皿中自然烘干;
其中在上述步驟三中,將步驟二中自然烘干的金屬顆粒收集器采用導電膠貼緊磁子的表面,將磁性顆粒轉移至導電膠上;
其中在上述步驟四中,將步驟三中的粘接有磁性顆粒的導電膠放置在電子顯微鏡和EDS觀察導電膠上粘接的磁性顆粒形貌、數量及雜質的化學成分;
其中在上述步驟五中,將步驟四中觀察到的磁性顆粒形貌、數量及雜質的化學成分進行打印記錄;
其中在上述步驟六中,隨后,將使用過的電子顯微鏡和EDS進行關閉即可。
2.根據權利要求1所述的一種測試石墨磁性雜質的可視化方法,其特征在于:所述步驟一中,PVC由乙烯、氯和催化劑經取代反應制成。
3.根據權利要求1所述的一種測試石墨磁性雜質的可視化方法,其特征在于:所述步驟一中,金屬顆粒收集器為銣磁鐵,且銣磁鐵的磁力范圍為500-5000Gs。
4.根據權利要求1所述的一種測試石墨磁性雜質的可視化方法,其特征在于:所述步驟一中,攪拌時間為30min-60min。
5.根據權利要求1所述的一種測試石墨磁性雜質的可視化方法,其特征在于:所述步驟二中,使用超聲波時間為1min。
6.根據權利要求1所述的一種測試石墨磁性雜質的可視化方法,其特征在于:所述步驟四中,電子顯微鏡包括電子顯微鏡主體(1)、固定柱(2)、移動罩(3)、底板(4)、滑塊(5)、滑軌(6)、固定罩(7)、延長板(8)、馬達(9)、防滑墊(10)、彈簧(11)、拉桿(12)、移動板(13)、限位柱(14)、固定塊(15)、固定座(16)和絲桿(17),所述底板(4)的頂端中心兩側分別嵌入安裝有滑軌(6),且滑塊(5)位于滑軌(6)上,所述滑塊(5)的頂端分別與電子顯微鏡主體(1)的底端中心兩側固定連接,所述電子顯微鏡主體(1)的一側底端中心處與固定塊(15)的一側固定連接,所述固定塊(15)的中心處開設有限位孔,且拉桿(12)的底端貫穿該限位孔以及底板(4)的中心一側開設的凹槽與固定座(16)的頂端固定連接,所述固定座(16)的底端粘接有防滑墊(10),且固定座(16)和防滑墊(10)均位于底板(4)的中心一側開設的凹槽內部,所述拉桿(12)上繞接有彈簧(11),且彈簧(11)位于固定座(16)的頂端和固定塊(15)的底端之間,所述底板(4)的頂端另一側中心兩端分別與固定柱(2)的底端固定連接,所述固定柱(2)的頂端分別固定罩(7)的內部頂端中心一側兩端固定連接,所述固定罩(7)的頂端中心一側分別與延長板(8)的底端一側固定連接,所述延長板(8)的頂端中心一側與馬達(9)的底端固定連接,所述馬達(9)的輸出端與絲桿(17)的頂端固定連接,且馬達(9)的輸出端與延長板(8)的連接處開設有通孔,所述絲桿(17)的底端與底板(4)的頂端另一側中心處安裝的軸承內部套接固定連接,且移動板(13)的中心處開設的螺紋孔與絲桿(17)相互配合連接,所述移動板(13)的一側與移動罩(3)的一側中心兩端固定連接,所述移動板(13)的中心兩端分別開設有通孔,且限位柱(14)的一端分別貫穿該通孔與底板(4)的頂端另一側中心兩端固定連接,所述限位柱(14)的頂端與延長板(8)的底端另一側中心兩端固定連接,所述移動罩(3)與電子顯微鏡主體(1)的連接處開設有凹槽。
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