[發(fā)明專利]一種園區(qū)綜合能源異常數(shù)據(jù)組合式插補(bǔ)方法

在審

• 申請?zhí)枺?/td>: 202010224425.6
• 申請日: 2020-03-26
• 公開（公告）號: CN111459925A
• 公開（公告）日: 2020-07-28
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 郭小璇;孫樂平;韓帥;吳宛潞;肖靜;陳衛(wèi)東;秦麗娟;楊藝云;吳寧;戴承承;廖敏樂
• 申請（專利權(quán)）人: 廣西電網(wǎng)有限責(zé)任公司電力科學(xué)研究院
• 主分類號: G06F16/215
• 分類號: G06F16/215;G06Q50/06
• 代理公司: 北京國帆知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 11334
• 代理人: 李增朝

本發(fā)明公開了一種園區(qū)綜合能源異常數(shù)據(jù)組合式插補(bǔ)方法，所述插補(bǔ)方法包括：將園區(qū)內(nèi)的綜合能源數(shù)據(jù)作為一個樣本數(shù)據(jù)集，獲取所述樣本數(shù)據(jù)集中的異常數(shù)據(jù)；基于所述異常數(shù)據(jù)的所在位置對所述樣本數(shù)據(jù)集進(jìn)行插補(bǔ)，獲取相應(yīng)的插補(bǔ)序列；對所述插補(bǔ)序列進(jìn)行誤差分析，確定所述樣本數(shù)據(jù)集的插補(bǔ)權(quán)重；基于所述插補(bǔ)權(quán)重對與所述樣本數(shù)據(jù)集特征相似的用戶數(shù)據(jù)進(jìn)行插補(bǔ)。在本發(fā)明實(shí)施例中，將提高綜合能源系統(tǒng)的數(shù)據(jù)插補(bǔ)效率，同時兼顧插補(bǔ)工作的高精準(zhǔn)率。

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及電氣技術(shù)領(lǐng)域，尤其涉及一種園區(qū)綜合能源異常數(shù)據(jù)組合式插補(bǔ)方法。

背景技術(shù)

園區(qū)綜合能源能耗數(shù)據(jù)真實(shí)反映了特定時間段內(nèi)企業(yè)生產(chǎn)用能多少。根據(jù)能耗數(shù)據(jù)是否滿足能耗曲線的連續(xù)性與相似性，通常將能耗數(shù)據(jù)分為兩大類：常規(guī)數(shù)據(jù)與異常數(shù)據(jù)，其中異常數(shù)據(jù)通常受到各種影響，致使監(jiān)測到的負(fù)荷值與實(shí)際負(fù)荷存在一定偏差。對綜合能源系統(tǒng)的實(shí)際運(yùn)行來講，異常數(shù)據(jù)的出現(xiàn)為非正常情況，將嚴(yán)重影響園區(qū)內(nèi)的其它實(shí)際業(yè)務(wù)的開展。針對異常數(shù)據(jù)的篩選剔除與空白插補(bǔ)這一問題，通常利用人工維護(hù)來完成，工作較為繁瑣，且存在較高的遺漏率與誤差率，然而目前還沒有提出一種高效的插補(bǔ)方法來解決人工維護(hù)所出現(xiàn)的弊端。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明的目的在于克服現(xiàn)有技術(shù)的不足，本發(fā)明提供了一種園區(qū)綜合能源異常數(shù)據(jù)組合式插補(bǔ)方法，將減少人工維護(hù)的工作量以及遺漏的可能性，極大地降低插補(bǔ)工作的誤差率。

為了解決上述技術(shù)問題，本發(fā)明實(shí)施例提供了一種園區(qū)綜合能源異常數(shù)據(jù)組合式插補(bǔ)方法，所述插補(bǔ)方法包括：

將園區(qū)內(nèi)的綜合能源數(shù)據(jù)作為一個樣本數(shù)據(jù)集，獲取所述樣本數(shù)據(jù)集中的異常數(shù)據(jù)；

基于所述異常數(shù)據(jù)的所在位置對所述樣本數(shù)據(jù)集進(jìn)行插補(bǔ)，獲取相應(yīng)的插補(bǔ)序列；

對所述插補(bǔ)序列進(jìn)行誤差分析，確定所述樣本數(shù)據(jù)集的插補(bǔ)權(quán)重；

基于所述插補(bǔ)權(quán)重對與所述樣本數(shù)據(jù)集特征相似的用戶數(shù)據(jù)進(jìn)行插補(bǔ)。

可選的，所述獲取所述樣本數(shù)據(jù)集中的異常數(shù)據(jù)包括：

分別獲取所述樣本數(shù)據(jù)集中的壞數(shù)據(jù)集與缺失數(shù)據(jù)集，將所述壞數(shù)據(jù)集中所包含的壞數(shù)據(jù)剔除并重新歸類到所述缺失數(shù)據(jù)集中，此時所述缺失數(shù)據(jù)集中所包含的缺失數(shù)據(jù)均為所述異常數(shù)據(jù)。

可選的，在獲取所述樣本數(shù)據(jù)集中的異常數(shù)據(jù)之后，包括：

將所述異常數(shù)據(jù)記錄在一個參考序列中，所述參考序列Y₀為：

Y₀＝{Y₀(1)，Y₀(2)，…，Y₀(m)}

其中，m為所述參考序列Y₀中的數(shù)值個數(shù)，即所述異常數(shù)據(jù)的總個數(shù)。

可選的，所述基于所述異常數(shù)據(jù)的所在位置對所述樣本數(shù)據(jù)集進(jìn)行插補(bǔ)，獲取相應(yīng)的插補(bǔ)序列包括：

利用期望最大化插補(bǔ)法對所述樣本數(shù)據(jù)集進(jìn)行插補(bǔ)，得到第一插補(bǔ)序列Y₁為：

Y₁＝{Y₁(1)，Y₁(2)，…，Y₁(m)}

利用回歸插補(bǔ)法對所述樣本數(shù)據(jù)集進(jìn)行插補(bǔ)，得到第二插補(bǔ)序列Y₂為：

Y₂＝{Y₂(1)，Y₂(2)，…，Y₂(m)}

其中，m為所述第一插補(bǔ)序列Y₁或者所述第二插補(bǔ)序列Y₂的數(shù)值個數(shù)，與所述異常數(shù)據(jù)的總個數(shù)相同。