[發(fā)明專利]芯片外觀不良識別設備和方法以及芯片測試系統(tǒng)和方法

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 202010210457.0
• 申請日: 2020-03-23
• 公開（公告）號: CN111323432B
• 公開（公告）日: 2022-12-20
• 發(fā)明（設計）人: 鄭挺;鐘峰;唐緒偉;崔劍波;鄭朝生;袁俊;肖思文;辜詩濤;張亦鋒;魏強;盧旭坤;容成昌
• 申請（專利權(quán)）人: 廣東利揚芯片測試股份有限公司
• 主分類號: G01N21/956
• 分類號: G01N21/956
• 代理公司: 廣州三環(huán)專利商標代理有限公司 44202
• 代理人: 張艷美;劉光明

本發(fā)明公開一種芯片外觀不良識別設備和方法以及芯片測試系統(tǒng)和方法，其中芯片外觀不良識別設備包括第一控制裝置、掃描器、打碼裝置、第一掃碼裝置以及視覺掃描裝置，掃描器用于將芯片板的產(chǎn)品信息導入第一控制裝置；打碼裝置用于根據(jù)產(chǎn)品信息在芯片板上打上識別碼；第一掃碼裝置用于識別芯片板上的識別碼信息并傳送至第一控制裝置；視覺掃描裝置用于獲取芯片板上的若干芯片的圖像并傳送至第一控制裝置；第一控制裝置根據(jù)芯片板上的若干芯片的圖像識別出外觀不良芯片并建立芯片板的MAP圖以及MAP圖和識別碼信息的對應關系，MAP圖包含有外觀不良芯片的坐標信息。本發(fā)明可使得在電性性能測試時不會對外觀不良芯片進行測試。

技術領域

本發(fā)明涉及芯片性能測試技術領域，尤其涉及一種芯片外觀不良識別設備和方法以及芯片測試系統(tǒng)和方法。

背景技術

圖9提供了一種芯片板產(chǎn)品，其上網(wǎng)格式分布有若干芯片，芯片板上經(jīng)常會有個別芯片會有外觀不良，這些外觀不良是在上游生產(chǎn)時產(chǎn)生并會進行畫“X”進行標識，這些外觀不良的芯片大部分電性性能是正常的。芯片測試設備在對芯片板上的芯片進行電性性能測試時，由于無法知道哪些芯片來料時就存在外觀不良，所以會對外觀不良芯片一同進行測試。而由于外觀不良芯片的電性性能通常也是正常的，測試也會通過，這就會造成系統(tǒng)上的芯片數(shù)量比實物數(shù)量多，導致后段站別數(shù)據(jù)出現(xiàn)異常，給生產(chǎn)造成極大的困擾，影響效率。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明的目的在于提供一種芯片外觀不良識別設備，能夠識別出芯片板上的外觀不良芯片以便于在電性性能測試時不會對外觀不良芯片進行測試，從而不會影響后續(xù)生產(chǎn)。

本發(fā)明的另一目的在于提供一種芯片外觀不良識別方法，能夠識別出芯片板上的外觀不良芯片以便于在電性性能測試時不會對外觀不良芯片進行測試，從而不會影響后續(xù)生產(chǎn)。

本發(fā)明的又一目的在于提供一種芯片測試系統(tǒng)，在進行電性性能測試時不會對外觀不良芯片進行測試，從而不會影響后續(xù)生產(chǎn)。

本發(fā)明的再一目的在于提供一種芯片測試方法，在進行電性性能測試時不會對外觀不良芯片進行測試，從而不會影響后續(xù)生產(chǎn)。

為了實現(xiàn)上述目的，本發(fā)明提供了一種芯片外觀不良識別設備，用于識別芯片板上的外觀不良芯片，包括第一控制裝置、掃描器、打碼裝置、第一掃碼裝置以及視覺掃描裝置，所述掃描器用于將所述芯片板的產(chǎn)品信息導入所述第一控制裝置；所述打碼裝置用于根據(jù)所述產(chǎn)品信息在所述芯片板上打上識別碼；所述第一掃碼裝置用于識別所述芯片板上的識別碼信息并傳送至所述第一控制裝置；所述視覺掃描裝置用于獲取所述芯片板上的若干芯片的圖像并傳送至所述第一控制裝置；所述第一控制裝置根據(jù)所述芯片板上的若干芯片的圖像識別出外觀不良芯片并建立所述芯片板的MAP圖以及所述MAP圖和所述識別碼信息的對應關系，所述MAP圖包含有所述外觀不良芯片的坐標信息。

較佳地，所述芯片外觀不良識別設備還包括與所述第一控制裝置連接的顯示器。

較佳地，所述芯片外觀不良識別設備還包括定位治具及真空觸發(fā)器，所述定位治具被配置為真空吸附固定所述芯片板，所述真空觸發(fā)器與所述第一控制裝置連接，用于觸發(fā)所述定位治具的真空吸附功能；于常態(tài)下，所述第一控制裝置控制所述真空觸發(fā)器處于失效狀態(tài)，于所述第一控制裝置確認導入有對應的所述芯片板的產(chǎn)品信息時，所述第一控制裝置控制所述真空觸發(fā)器轉(zhuǎn)換為生效狀態(tài)。

較佳地，所述芯片外觀不良識別設備還包括打碼觸發(fā)器，所述打碼觸發(fā)器用于觸發(fā)所述打碼裝置進行打碼，所述打碼觸發(fā)器與所述第一控制裝置連接，所述第一控制裝置可控制所述打碼觸發(fā)器生效或失效。

為了實現(xiàn)上述另一目的，本發(fā)明提供了一種芯片外觀不良識別方法，用于識別芯片板上的外觀不良芯片，包括如下步驟：

將所述芯片板的產(chǎn)品信息導入第一控制裝置；

根據(jù)所述產(chǎn)品信息在所述芯片板上打上識別碼；

識別所述芯片板上的識別碼信息；