[發明專利]目標檢測方法、裝置、電子設備和計算機可讀介質

有效

• 申請號: 202010197847.9
• 申請日: 2020-03-19
• 公開（公告）號: CN111444807B
• 公開（公告）日: 2023-09-22
• 發明（設計）人: 馬宇宸;邱晗;黎澤明
• 申請（專利權）人: 北京邁格威科技有限公司
• 主分類號: G06V20/60
• 分類號: G06V20/60;G06V10/46;G06V10/774;G06V10/82;G06N3/0464;G06N3/08
• 代理公司: 北京潤澤恒知識產權代理有限公司 11319
• 代理人: 莎日娜

1.一種目標檢測方法，其特征在于，所述方法包括：

將待檢測圖像輸入至預先訓練的特征提取網絡，得到特征圖；

將所述特征圖分別輸入至預先訓練的類別檢測網絡和位置檢測網絡，得到第一類別檢測結果和第一位置檢測結果；

將所述類別檢測網絡的其中一層的輸出和所述第一位置檢測結果輸入至預先訓練的第一邊界特征增強網絡，得到第二類別檢測結果，所述第一邊界特征增強網絡用于提取并增強所述第一位置檢測結果中各特征點對應的檢測框的邊界特征；

將所述位置檢測網絡的其中一層的輸出和所述第一位置檢測結果輸入至預先訓練的第二邊界特征增強網絡，得到第二位置檢測結果，所述第二邊界特征增強網絡用于提取并增強所述第一位置檢測結果中各特征點對應的檢測框的邊界特征；

基于各類別檢測結果，確定所述待檢測圖像中的對象的最終類別檢測結果，并基于各位置檢測結果，確定所述對象的最終位置檢測結果。

2.根據權利要求1所述的目標檢測方法，其特征在于，所述第一邊界特征增強網絡和所述第二邊界特征增強網絡分別依次包括第一卷積層、邊界特征提取層和第二卷積層；

其中，所述第一卷積層用于增加輸入至所述第一卷積層的特征圖的通道數，所述邊界特征提取層用于增強所述第一位置檢測結果所指示的檢測框的邊界特征，所述第二卷積層用于降低輸入至所述第二卷積層的特征圖的通道數。

3.根據權利要求2所述的目標檢測方法，其特征在于，所述第一位置檢測結果用于指示各特征點對應的檢測框的邊界位置，特征點與檢測框一一對應；以及，

所述邊界特征提取層通過如下步驟增強檢測框的邊界特征：

按照通道數量，將所述第一卷積層輸出的特征圖均分為五組，其中四組特征圖分別用于提取不同邊界的邊界特征；

基于各特征點對應的檢測框的邊界位置，從所述其中四組特征圖中，提取各特征點對應的檢測框的不同邊界的最大特征值；

將從同一特征圖中提取的最大特征值匯總為一個通道的增強特征圖，將其余一組特征圖中的每一個特征圖作為一個通道的增強特征圖，得到多通道的特征增強圖。

4.根據權利要求3所述的目標檢測方法，其特征在于，所述基于各特征點對應的檢測框的邊界位置，從所述其中四組特征圖中，提取各特征點對應的檢測框的不同邊界的最大特征值，包括：

依次將每一個特征點作為目標特征點，將所述目標特征點對應的檢測框作為目標檢測框，執行如下步驟：

分別對所述目標檢測框的各邊界設置多個采樣點；

基于所述目標檢測框的左邊界位置，從用于提取左邊界的特征的各特征圖中，獲取左邊界的各采樣點的特征值，并從所獲取的左邊界的各采樣點的特征值中，選取最大特征值；

基于所述目標檢測框的上邊界位置，從用于提取上邊界的特征的各特征圖中，獲取上邊界的各采樣點的特征值，并從所獲取的上邊界的各采樣點的特征值中，選取最大特征值；

基于所述目標檢測框的右邊界位置，從用于提取右邊界的特征的各特征圖中，獲取右邊界的各采樣點的特征值，并從所獲取的右邊界的各采樣點的特征值中，選取最大特征值；

基于所述目標檢測框的下邊界位置，從用于提取下邊界的特征的各特征圖中，獲取下邊界的各采樣點的特征值，并從所獲取的下邊界的各采樣點的特征值中，選取最大特征值。

5.根據權利要求1所述的目標檢測方法，其特征在于，所述第一類別檢測結果包括多個通道的第一類別得分圖，不同通道的第一類別得分圖對應不同的候選類別，每一個通道的第一類別得分圖中，包括各特征點對應的檢測框中的對象屬于該通道對應的候選類別的概率；以及，

所述第二類別檢測結果包括多個通道的第二類別得分圖，不同的通道的第二類別得分圖對應不同的候選類別，每一個通道的第二類別得分圖中，包括各特征點對應的檢測框中的對象屬于該通道對應的候選類別的概率。