[發(fā)明專利]顯示面板及其裂紋檢測方法、顯示裝置

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• 申請日: 2020-03-18
• 公開（公告）號: CN111366619A
• 公開（公告）日: 2020-07-03
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 晁晉予;胡國仁;熊正平;周詩博
• 申請（專利權(quán)）人: 京東方科技集團(tuán)股份有限公司;綿陽京東方光電科技有限公司
• 主分類號: G01N27/24
• 分類號: G01N27/24;G09F9/00
• 代理公司: 北京博思佳知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11415
• 代理人: 武娜

1.一種顯示面板，其特征在于，包括：顯示區(qū)與圍繞所述顯示區(qū)的非顯示區(qū)，所述非顯示區(qū)包括基板與裂紋檢測電路，所述裂紋檢測電路位于所述基板上；

所述裂紋檢測電路包括第一金屬層、絕緣介質(zhì)層與第二金屬層，所述第一金屬層位于所述基板上，所述絕緣介質(zhì)層位于所述第一金屬層上，所述第二金屬層位于所述絕緣介質(zhì)層上，所述第二金屬層用于接收檢測電壓。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的顯示面板，其特征在于，所述裂紋檢測電路還包括N個導(dǎo)電片，N為正整數(shù)；所述N個導(dǎo)電片分別與所述第二金屬層連接，所述導(dǎo)電片用于接收所述檢測電壓；

當(dāng)N大于1時，所述N個導(dǎo)電片與所述第二金屬層的連接位置不同。

3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的顯示面板，其特征在于，所述第二金屬層包括M個金屬片與M+1段第一導(dǎo)線，M為正整數(shù)，所述第一導(dǎo)線與所述金屬片同層；

第i段第一導(dǎo)線與第i個金屬片連接，第i個金屬片還與第i+1段第一導(dǎo)線連接，i＝1、2、3、……、M；

N為2，2個導(dǎo)電片中的一個導(dǎo)電片與第1段第一導(dǎo)線連接，另一個導(dǎo)電片與M+1段第一導(dǎo)線連接。

4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的顯示面板，其特征在于，M大于1。

5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的顯示面板，其特征在于，所述金屬片的形狀為多邊形或圓形。

6.根據(jù)權(quán)利要求3所述的顯示面板，其特征在于，M等于1，所述金屬片的形狀與所述第一金屬層的形狀相同，所述絕緣介質(zhì)層的形狀與所述第一金屬層的形狀相同；

所述絕緣介質(zhì)層在所述基板上的投影落在所述第一金屬層在所述基板上的投影內(nèi)，所述金屬片在所述基板上的投影落在所述絕緣介質(zhì)層在所述基板上的投影內(nèi)。

7.根據(jù)權(quán)利要求2所述的顯示面板，其特征在于，所述第二金屬層包括M個金屬片，所述裂紋檢測電路還包括M條第二導(dǎo)線，所述第二導(dǎo)線與所述導(dǎo)電片同層；M為正整數(shù)；所述M個金屬片與所述M條第二導(dǎo)線一一對應(yīng)地連接；

N等于M，M條第二導(dǎo)線與M個導(dǎo)電片一一對應(yīng)地連接。

8.根據(jù)權(quán)利要求2所述的顯示面板，其特征在于，所述裂紋檢測電路還包括層間介質(zhì)層，所述層間介質(zhì)層位于所述第二金屬層與所述導(dǎo)電片之間，所述層間介質(zhì)層包括過孔，所述第二金屬層經(jīng)所述過孔與所述導(dǎo)電片連接。

9.根據(jù)權(quán)利要求1所述的顯示面板，其特征在于，還包括地線，所述第一金屬層與所述地線連接；

當(dāng)所述第一金屬層與所述地線不同層時，所述第一金屬層與所述地線跳線連接。

10.根據(jù)權(quán)利要求1所述的顯示面板，其特征在于，還包括柵極驅(qū)動電路，所述柵極驅(qū)動電路位于所述非顯示區(qū)，所述裂紋檢測電路位于所述柵極驅(qū)動電路遠(yuǎn)離所述顯示區(qū)的一側(cè)。

11.根據(jù)權(quán)利要求10所述的顯示面板，其特征在于，所述柵極驅(qū)動電路包括晶體管，所述晶體管包括柵極、柵極絕緣層與源極；

所述柵極位于所述基板上，所述柵極與所述第一金屬層同層；所述柵極絕緣層位于所述柵極上，所述柵極絕緣層與所述絕緣介質(zhì)層同層；所述源極位于所述柵極絕緣層上，所述源極與所述第二金屬層同層。

12.一種顯示裝置，其特征在于，包括權(quán)利要求1至11任一項所述的顯示面板。

13.一種顯示面板的裂紋檢測方法，其特征在于，所述顯示面板為權(quán)利要求1至11任一項所述的顯示面板，所述裂紋檢測方法，包括：

利用電容電壓特性測試儀在所述第二金屬層上施加所述檢測電壓，并獲得測試電容值；

比較所述測試電容值與參考電容值，并根據(jù)比較結(jié)果判斷是否存在裂紋，在判定存在裂紋時根據(jù)所述比較結(jié)果獲取裂紋的位置信息。