[發明專利]一種基于圖像處理技術的絕緣子串缺陷快速檢測方法

有效

• 申請號: 202010188034.3
• 申請日: 2020-03-17
• 公開（公告）號: CN111507189B
• 公開（公告）日: 2022-12-06
• 發明（設計）人: 尚方;孫立業;張雷;樊永新;劉生;王孝余;林揚;姚越;李奇;侴海洋
• 申請（專利權）人: 國家電網有限公司;國網黑龍江省電力有限公司電力科學研究院
• 主分類號: G06V20/13
• 分類號: G06V20/13;G06V10/22;G06T7/00
• 代理公司: 哈爾濱市松花江專利商標事務所 23109
• 代理人: 時起磊

1.一種基于圖像處理技術的絕緣子串缺陷快速檢測方法，其特征在于包括以下步驟：

步驟一：獲取航拍圖像；

步驟二：濾除航拍圖像中非核心絕緣子串信息；

步驟三：定位每個絕緣子片區域；

步驟四：計算出每個絕緣子片的中心位置點C_k；

步驟五：將絕緣子片的中心位置點C_i進行擬合，其中i∈(1，k)，然后經過函數計算得到絕緣子串方向的直線L，最后標記出此時擬合直線L的條數及位置；

步驟六：分別計算所有同一條直線上的相鄰絕緣子直接的距離d_ij，即A_iA_j線段的長度；

步驟七：遍歷所有的同一條直線上的相鄰絕緣子直接的距離d_ij，找到最小值d_min；

步驟八：遍歷所有的d_ij，并判定是否存在d_ij＞1.5×d_min，若存在則判定該絕緣子中心點A_i(x_i，y_i)與A_j(x_j，y_j)之間存有絕緣子故障；

步驟九：在線段A_iA_j的中間點Fault進行標記；

步驟十：執行步驟六至步驟九，直至步驟五中所有的擬合直線L處理完畢。

2.根據權利要求1所述的一種基于圖像處理技術的絕緣子串缺陷快速檢測方法，其特征在于所述步驟三中定位每個絕緣子片區域利用橢圓算子檢測方法進行定位。

3.根據權利要求1所述的一種基于圖像處理技術的絕緣子串缺陷快速檢測方法，其特征在于所述步驟五中直線L的擬合函數為：

Cost＝n×10-m×1

其中，n為該種方案下擬合直線的條數，m為該種方案下納入擬合直線的絕緣子片的中心位置點的個數。

4.根據權利要求3所述的一種基于圖像處理技術的絕緣子串缺陷快速檢測方法，其特征在于所述步驟五中標記出此時擬合直線的條數及位置的方法為：

每多一條擬合直線，Cost加10，

每一個絕緣子片的中心位置點進入擬合直線，Cost減1，

每一個絕緣子片的中心位置點只能進入一次擬合直線，

Cost值最小時，認為該種方案最優，標記出此時擬合直線的條數及位置。

5.根據權利要求1所述的一種基于圖像處理技術的絕緣子串缺陷快速檢測方法，其特征在于所述相鄰絕緣子直接的距離d_ij的計算公式為：

其中，x_i為像素水平坐標，，y_i為像素垂直坐標。

6.根據權利要求1所述的一種基于圖像處理技術的絕緣子串缺陷快速檢測方法，其特征在于所述線段A_iA_j的中間點Fault的橫縱坐標分別為：

其中，x_i為像素水平坐標，，y_i為像素垂直坐標。