[發明專利]光學傳感器裝置和用于操作光學傳感器裝置的方法在審
| 申請號: | 202010177104.5 | 申請日: | 2020-03-13 |
| 公開(公告)號: | CN111766595A | 公開(公告)日: | 2020-10-13 |
| 發明(設計)人: | 托比亞斯·賴寧;曼紐爾·布朗納 | 申請(專利權)人: | 巴魯夫公司 |
| 主分類號: | G01S17/10 | 分類號: | G01S17/10;G01S7/484;G01S7/4861 |
| 代理公司: | 北京律誠同業知識產權代理有限公司 11006 | 代理人: | 徐金國;吳啟超 |
| 地址: | 德國諾*** | 國省代碼: | 暫無信息 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 光學 傳感器 裝置 用于 操作 方法 | ||
1.一種光學傳感器裝置(10),其具有:用于發出光的發射單元(24)、用于由所述發射單元(24)發出的光的接收單元(26)以及用于評估基于所述接收到的光的接收信號(50a-50c)的評估單元(30),其中所述發出的光被設計為基于發射信號(44)的光脈沖,所述發射信號(44)具有帶有上升和/或下降沿的信號形狀,其中所述接收信號(50a–50c)具有與所述發射信號(44)基本上相同的所述信號形狀,其中所述評估單元(30)適用于在其上升和/或下降沿中的至少一個掃描點(52a–52n)處掃描所述接收信號(50a–50c)。
2.如前述權利要求所述的光學傳感器裝置(10),其中在掃描操作中,所述至少一個掃描點(52a–52n)在時間上是固定的。
3.如前述權利要求中的一項所述的光學傳感器裝置(10),其中掃描點(52a–52n)相對于時間被分配給發射路徑(12)中的低發射電流。
4.如前述權利要求中的一項所述的光學傳感器裝置(10),其中掃描點(52a–52n)相對于時間被分配給發射路徑(12)中的高發射電流。
5.如前述權利要求中的一項所述的光學傳感器裝置(10),其中所述發射信號(44)的信號形狀和所述接收信號(50a–50c)的信號形狀是三角形、梯形、拋物線或正弦曲線。
6.如前述權利要求中的一項所述的光學傳感器裝置(10),其中所述評估單元(30)適用于在其上升沿中的至少兩個掃描點(52a–52n)處和/或在其下降沿中的至少兩個掃描點(52a–52n)處掃描所述接收信號(50a–50c)。
7.如前述權利要求中的一項所述的光學傳感器裝置(10),其中所述接收信號(50a–50c)被放大以用于在掃描點(52a–52n)處以分配的低發射電流進行的所述掃描,和/或所述接收信號(50a–50c)可被減小以用于在掃描點(52a–52n)處以分配的高電流進行的所述掃描。
8.如權利要求7所述的光學傳感器裝置(10),其中所述接收信號(50a–50c)的放大和/或所述接收信號(50a–50c)的縮減在時間上是恒定的。
9.如前述權利要求中的一項所述的光學傳感器裝置(10),其中所述傳感器裝置(10)在所述評估單元(30)已經掃描了可評估的掃描點(52a–52n)時,適用于終止所述發射信號(44)。
10.如前述權利要求中的一項所述的光學傳感器裝置(10),其中所述評估單元(30)適用于在掃描所述上升沿中的至少兩個掃描點(52a–52n)處時和/或在掃描所述下降沿中的至少兩個掃描點(52a–52n)處時測定所述沿的斜率。
11.如權利要求10所述的光學傳感器裝置(10),其中所述評估單元(30)適用于在測定所述沿的所述斜率時,放棄所述兩個掃描值(S1–Sn)中的至少一個,為其測定的斜率與對應的閾值相比偏離所述沿的剩余斜率較多或較少。
12.如前述權利要求中的一項所述的光學傳感器裝置(10),其中所述評估單元(30)適用于測定所述至少一個掃描的掃描點(52a–52n)是否足以測定有效的傳感器信號(S)。
13.如前述權利要求中的一項所述的光學傳感器裝置(10),其中所述評估單元(30)適用于掃描至少一個另外的掃描點(53),所述另外的掃描點(53)在時間上偏移要掃描的所述接收信號(50a–50c)并且適用于在測定傳感器信號(S)時考慮分配給另外的掃描點(53)的掃描值(D)。
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