[發明專利]基于X光源陣列的直立式計算機斷層掃描裝置在審
| 申請號： | 202010172315.X | 申請日： | 2020-03-12 |
| 公開（公告）號： | CN111184528A | 公開（公告）日： | 2020-05-22 |
| 發明（設計）人： | 杜一平 | 申請（專利權）人： | 上海交通大學 |
| 主分類號： | A61B6/03 | 分類號： | A61B6/03 |
| 代理公司： | 上海段和段律師事務所 31334 | 代理人： | 李佳俊;郭國中 |
| 地址： | 200240 *** | 國省代碼： | 上海;31 |
| 權利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 基于 光源 陣列 立式 計算機 斷層 掃描 裝置 | ||
1.一種基于X光源陣列的直立式計算機斷層掃描裝置，其特征在于，包括：分布式X光源陣列單元(1)、X光探測器陣列部件(2)以及準直器部件(3)；
所述X光探測器陣列部件(2)和準直器部件(3)設置于分布式X光源陣列單元(1)內側；
所述X光探測器陣列部件(2)設置于與準直器部件(3)相對的位置；
所述分布式X光源陣列單元(1)、X光探測器陣列部件(2)和準直器部件(3)在掃描期間能夠繞基于X光源陣列的直立式計算機斷層掃描裝置的垂直軸旋轉。
2.根據權利要求1所述的基于X光源陣列的直立式計算機斷層掃描裝置，其特征在于，所述分布式X光源陣列單元(1)采用碳納米管X光源陣列。
3.根據權利要求1所述的基于X光源陣列的直立式計算機斷層掃描裝置，其特征在于，所述分布式X光源陣列單元(1)、X光探測器陣列部件(2)和準直器部件(3)在掃描期間能夠沿基于X光源陣列的直立式計算機斷層掃描裝置的垂直軸上下移動。
4.根據權利要求1所述的基于X光源陣列的直立式計算機斷層掃描裝置，其特征在于，所述分布式X光源陣列單元(1)包括：X光探測器陣列；
所述X光探測器陣列采用以下任意一種形狀：
-圓環形；
-圓弧形；
-平板形；
-直條形。
5.根據權利要求1所述的基于X光源陣列的直立式計算機斷層掃描裝置，其特征在于，所述分布式X光源陣列單元(1)包括：圓環形X光源陣列；
所述圓環形X光源陣列采用以下任意一種陣列：
-單排陣列；
-多排陣列。
6.根據權利要求1所述的基于X光源陣列的直立式計算機斷層掃描裝置，其特征在于，所述分布式X光源陣列單元(1)包括：圓弧形X光源陣列；
所述圓弧形X光源陣列采用以下任意一種陣列：
-單排陣列；
-多排陣列。
7.根據權利要求1所述的基于X光源陣列的直立式計算機斷層掃描裝置，其特征在于，所述分布式X光源陣列單元(1)包括：平板形X光源陣列；
所述平板形X光源陣列采用二維陣列。
8.根據權利要求1所述的基于X光源陣列的直立式計算機斷層掃描裝置，其特征在于，所述分布式X光源陣列單元(1)包括：直條形X光源陣列；
所述直條形X光源陣列采用以下任意一種陣列：
-單排陣列；
-多排陣列。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息，商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于上海交通大學，未經上海交通大學許可，擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作，請聯系【客服】
本文鏈接：http://www.szxzyx.cn/pat/books/202010172315.X/1.html，轉載請聲明來源鉆瓜專利網。
- 上一篇：一種可收集木屑的木料打磨設備
- 下一篇：一種木板切割設備
