[發明專利]基于anapole模式的可動態調控的石墨烯超材料太赫茲器件及其制備方法與應用有效
| 申請號: | 202010163345.4 | 申請日: | 2020-03-10 |
| 公開(公告)號: | CN111352175B | 公開(公告)日: | 2021-04-27 |
| 發明(設計)人: | 時彥朋;劉笑宇;劉自正;花明;王陸堯 | 申請(專利權)人: | 山東大學 |
| 主分類號: | G02B1/00 | 分類號: | G02B1/00;G02F1/00;G02F1/355 |
| 代理公司: | 濟南圣達知識產權代理有限公司 37221 | 代理人: | 鄭平 |
| 地址: | 250101 *** | 國省代碼: | 山東;37 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 基于 anapole 模式 動態 調控 石墨 材料 赫茲 器件 及其 制備 方法 應用 | ||
1.一種基于anapole模式的可動態調控的石墨烯超材料太赫茲器件,其特征在于,主要包括周期結構的單層超材料;所述單層超材料為圓環結構,其由兩個對稱設置的金屬材質的半圓形分裂環組成,每個分裂環均由環體和延伸臂組成,所述延伸臂從環體開始向環體的圓心方向延伸;兩個分裂環之間設置有一條開口,所述開口貫穿兩個半圓形分裂環組成的圓環結構的直徑,且延伸臂垂直開口;所述環體和延伸臂處的開口中填充有石墨烯。
2.如權利要求1所述的基于anapole模式的可動態調控的石墨烯超材料太赫茲器件,其特征在于,所述環體處的開口寬度為0.5μm-10μm,延伸臂處的開口寬度為0.5μm-10μm。
3.如權利要求1所述的基于anapole模式的可動態調控的石墨烯超材料太赫茲器件,其特征在于,所述石墨烯的寬度和開口寬度一致,石墨烯長度為0.5μm-10μm。
4.如權利要求1所述的基于anapole模式的可動態調控的石墨烯超材料太赫茲器件,其特征在于,所述圓環結構的直徑為10μm-100μm;
或者,所述周期結構的單層超材料的厚度為1μm-10μm;
或者,所述周期性排列的分裂環的周期為10μm-100μm,且兩個相鄰分裂環邊緣之間的距離為5μm-50μm。
5.如權利要求1-4任一項所述的基于anapole模式的可動態調控的石墨烯超材料太赫茲器件,其特征在于,所述分裂環的材質為Au、Al、Ag、Pt、Cu中的任意一種。
6.權利要求1-5任一項所述的基于anapole模式的可動態調控的石墨烯超材料太赫茲器件的制備方法,其特征在于,包括如下步驟:
(1)利用機械旋涂法在高阻硅上旋涂一層光刻膠,烘干、冷卻后進行曝光、顯影和定影工藝,形成所述周期結構的光刻膠掩膜結構,周期結構中的每個單元結構均由兩個對稱設置的半圓形分裂環組成,兩個分裂環之間形成有一條開口,所述開口貫穿兩個半圓形分裂環組成的圓環結構的直徑,且延伸臂垂直開口;
(2)利用材料生長工藝在步驟(1)所得所述周期結構的光刻膠掩膜結構上淀積金屬,完成后剝離金屬,并去除光刻膠,清洗后吹干,獲得圖形化的金屬材質的所述圓環結構;
(3)將石墨烯轉移到上述圖形化的金屬材質圓環結上,然后利用機械旋涂法在石墨烯表面上旋涂一層光刻膠,烘干、冷卻后進行曝光、顯影和定影,獲得石墨烯帶的光刻膠掩膜結構;
(4)對步驟(3)的石墨烯帶的光刻膠掩膜結構進行氧等離子刻蝕,以刻蝕掉沒有被光刻膠掩膜的石墨烯,然后除去光刻膠掩膜,清洗后吹干,即得。
7.權利要求6所述的基于anapole模式的可動態調控的石墨烯超材料太赫茲器件的制備方法,其特征在于,步驟(1)中,所述機械旋涂法的步驟為:先以450-550r/min的轉速旋涂15-25s,然后以3900-4100r/min的轉速旋涂55-65s,再以450-550r/min的轉速旋涂15-25s;
或者,步驟(1)中,所述烘干的條件為:在100-105℃下烘55-65秒;
或者,步驟(1)和(3)中,所述光刻膠均為SU-8光刻膠、PMMA光刻膠、AZ光刻膠中的任意一種。
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