[發明專利]平板探測器殘影校正方法、裝置、存儲介質及醫療設備有效

申請號：	202010158713.6	申請日：	2020-03-09
公開（公告）號：	CN111445397B	公開（公告）日：	2023-07-04
發明（設計）人：	李海春;李天華;朱洪陽	申請（專利權）人：	東軟醫療系統股份有限公司
主分類號：	G06T5/00	分類號：	G06T5/00
代理公司：	北京博思佳知識產權代理有限公司 11415	代理人：	靳玫
地址：	110167 遼寧***	國省代碼：	遼寧;21
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摘要：
搜索關鍵詞：	平板探測器校正方法裝置存儲介質醫療設備
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【說明書】：

本申請提供一種平板探測器殘影校正方法、裝置、存儲介質及醫療設備，用以快速準確地校正平板探測器殘影。該方法中對于當前幀DR圖像之前飽和曝光的任一組DR圖像，根據已確定的飽和曝光殘影補償系數、該組DR圖像中的亮場圖像，以及已確定的最終連續型飽和殘影衰減曲線，確定其亮場圖像殘留在當前幀DR圖像中的殘影值；并對于之前非飽和曝光的任一組DR圖像，根據已確定的非飽和曝光殘影補償系數、該組DR圖像中的暗場圖像，以及已確定的最終連續型非飽和殘影衰減曲線，確定其亮場圖像殘留在當前幀DR圖像中的殘影值；然后以當前幀DR圖像減去各組DR圖像中的亮場圖像殘留在當前幀DR圖像中的殘影值之和，獲得殘影校正后的DR圖像。

技術領域

本申請涉及醫療圖像技術領域，尤其涉及一種平板探測器殘影校正方法、裝置、存儲介質及醫療設備。

背景技術

隨著醫療技術的不斷發展，數字X射線成像系統(DR成像系統)得到了廣泛應用，而平板探測器是DR成像系統中的關鍵器件。平板探測器根據其材料主要有非晶硅平板探測器和非晶硒平板探測器，但其存在一個共同問題就是殘影，殘影即由于平板探測器本身的物理特性，在一定劑量曝光下，曝光之后平板探測器接收到X射線的信號并非立即消失，而是隨著時間的推移而逐漸衰減并消失，如果在殘余信號未消失之前進行再一次曝光，曝光圖像上會存在上一次曝光的“影子”，即所謂的殘影，殘影會使臨床診斷產生誤診。

為了解決平板探測器的殘影問題，目前可以用硬件和軟件兩種方法去除殘影，通過硬件設計或改善工藝等硬件方法可以去除殘影，但是成本會大大提高，效果也不是特別理想，而軟件方法去除殘影因其不僅節省成本及人力，而且靈活性強，可以適用同材料的所有產品，所以得到了普遍青睞，但是相關技術中軟件方法算法復雜度高，耗時多，去除效果也不是特別理想，極易引起校正過量或校正不足。

發明內容

有鑒于此，本申請提供一種平板探測器殘影校正方法、裝置、存儲介質及醫療設備，用以快速準確地校正平板探測器殘影。

第一方面，本申請實施例提供了一種平板探測器殘影校正方法，所述方法包括：

獲得對被檢體掃描得到的當前幀DR圖像及之前的多組連續的DR圖像，每組所述DR圖像包括亮場圖像和暗場圖像；

對于所述多組連續的DR圖像中的任一組，判斷該組DR圖像對應的曝光屬于飽和曝光還是非飽和曝光；

若為飽和曝光，則根據已確定的飽和曝光殘影補償系數、該組DR圖像中的亮場圖像，以及已確定的最終連續型飽和殘影衰減曲線，確定該組DR圖像中的亮場圖像殘留在所述當前幀DR圖像中的殘影值；

若為非飽和曝光，則根據已確定的非飽和曝光殘影補償系數、該組DR圖像中的暗場圖像，以及已確定的最終連續型非飽和殘影衰減曲線，確定該組DR圖像中的亮場圖像殘留在所述當前幀DR圖像中的殘影值；

以所述當前幀DR圖像減去各組所述DR圖像中的亮場圖像殘留在所述當前幀DR圖像中的殘影值之和，獲得殘影校正后的DR圖像。

在一可能的實現方式中，所述最終連續型飽和/非飽和殘影衰減曲線的確定包括如下步驟：

采集曝光之前的暗場圖像；

采集無負載飽和曝光/非飽和曝光情況下的亮場圖像，并在曝光之后設定時間段內每間隔設定時間采集一張暗場圖像；

根據曝光之前的所述暗場圖像、無負載飽和曝光/非飽和曝光情況下的所述亮場圖像、以及曝光之后的各所述暗場圖像，生成離散型飽和/非飽和殘影衰減曲線；