[發明專利]圖像匹配方法、計算機裝置及可讀存儲介質

在審

• 申請號: 202010157945.X
• 申請日: 2020-03-09
• 公開（公告）號: CN113450299A
• 公開（公告）日: 2021-09-28
• 發明（設計）人: 陳魯;李艷波;黃有為;佟異;張嵩
• 申請（專利權）人: 深圳中科飛測科技股份有限公司
• 主分類號: G06T7/00
• 分類號: G06T7/00;G06T7/33;G06K9/32;G06K9/46;G06K9/62
• 代理公司: 深圳市賽恩倍吉知識產權代理有限公司 44334
• 代理人: 劉麗華;徐麗

1.一種圖像匹配方法，其特征在于，所述方法包括：

獲取樣品的標準模板圖和所述樣品的測試圖，所述標準模板圖包括模板單位圖，所述測試圖包括測試單位圖；

獲取所述標準模板圖的標準輪廓圖，所述標準輪廓圖標記出所述模板單位圖的邊界輪廓；

獲取所述測試圖的測試輪廓圖，所述標準輪廓圖標記出所述測試單位圖的邊界輪廓；

基于所述標準輪廓圖以及所述測試輪廓圖獲取所述標準模板圖和測試圖之間的偏差信息。

2.如權利要求1所述的圖像匹配方法，其特征在于，所述偏差信息包括所述標準模板圖和測試圖之間的旋轉角度，其中，獲取所述標準模板圖和測試圖之間的偏差信息包括：獲取所述標準模板圖和測試圖之間的旋轉角度。

3.如權利要求1所述的圖像匹配方法，其特征在于，所述偏差信息包括所述標準模板圖和測試圖之間的偏移量，其中，獲取所述標準模板圖和測試圖之間的偏差信息包括：獲取所述標準模板圖和測試圖之間的偏移量；

獲取所述標準模板圖和測試圖之間的偏移量之前，獲取所述標準模板圖和測試圖之間的偏差信息的步驟還包括：

根據所述標準輪廓圖以及所述測試輪廓圖獲取所述標準模板圖和測試圖之間的旋轉角度；

基于所述旋轉角度對所述測試輪廓圖和/或所述標準輪廓圖進行旋轉，減小所述測試輪廓圖和標準輪廓圖之間的角度偏差；

獲取所述標準模板圖和測試圖之間的偏移量包括：根據旋轉之后的所述測試輪廓圖和標準輪廓圖，獲取所述標準模板圖和測試圖之間的偏移量。

4.如權利要求2或3所述的圖像匹配方法，其特征在于，獲取所述標準模板圖和測試圖之間的旋轉角度包括：

以所述標準輪廓圖所在的平面建立第一極坐標系，其中，以所述標準輪廓圖的中心作為所述第一極坐標系的極點o，將自第一極坐標系o點發出的一條射線作為第一極坐標系的極軸；

從所述極點o向所述標準輪廓圖的邊緣拋出多根第一射線；

獲取每根第一射線在所述標準輪廓圖的所述模板單位圖的邊界輪廓所占的像素點總數；

獲取每根第一射線的像素點總數與該每根第一射線在第一極坐標系中的角度值之間的第一對應關系；

以所述測試輪廓圖所在的平面建立第二極坐標系，其中，以所述測試輪廓圖的中心作為所述第二極坐標系的極點o’，將自第二極坐標系的極點o’發出的一條射線作為第二極坐標系的極軸，所述第一極坐標系的極軸與第二極坐標系的極軸之間的夾角為預設值；

從所述極點o’向所述測試輪廓圖的邊緣拋出多根第二射線；

獲取每根第二射線在所述測試輪廓圖的所述測試單位圖的邊界輪廓所占的像素點總數，獲取每根第二射線的像素點總數與該每根第二射線在第二極坐標系中的角度值之間的第二對應關系；

基于所述第一對應關系和所述第二對應關系獲取所述標準模板圖和測試圖之間的旋轉角度。

5.如權利要求4所述的圖像匹配方法，其特征在于，基于所述第一對應關系和所述第二對應關系獲取所述標準模板圖和測試圖之間的旋轉角度包括：

通過所述預定的夾角對第一對應關系和第二對應關系進行補償處理，將第一對應關系和第二對應關系統一至同一角度標準下；

所述補償處理之后，分別對所述第一對應關系和第二對應關系進行模擬，獲取同一坐標系下第一曲線和第二曲線；

根據所述第一曲線和第二曲線的角度偏差，獲取所述旋轉角。