[發明專利]光檢測裝置以及電子裝置

在審

• 申請號: 202010155416.6
• 申請日: 2020-03-09
• 公開（公告）號: CN112540361A
• 公開（公告）日: 2021-03-23
• 發明（設計）人: T·T·塔;崔明秀;大國英德;杉本俊貴
• 申請（專利權）人: 株式會社東芝
• 主分類號: G01S7/481
• 分類號: G01S7/481;G01S7/486;G01S7/4865;G01S17/08;G01S17/894;G01S17/931
• 代理公司: 中國貿促會專利商標事務所有限公司 11038
• 代理人: 肖靖

1.一種光檢測裝置，具備：

受光陣列，具有能夠切換為接收光的開啟狀態或者不接收光的關閉狀態的多個受光元件；以及

控制部，在由所述受光陣列接收來自第1方向的光的情況下，將所述多個受光元件中的被決定為被照射來自所述第1方向的光的區域與能夠受光的區域至少一部分重復的1個以上的受光元件控制成開啟狀態，將除此以外的受光元件控制成關閉狀態。

2.根據權利要求1所述的光檢測裝置，其中，

來自所述第1方向的光包括投射的光被物體反射后的反射光，

所述第1方向為所述反射光到來的方向，

所述控制部將被決定為被照射來自所述第1方向的所述反射光的區域與能夠受光的區域至少一部分重復的所述1個以上的受光元件控制成開啟狀態。

3.根據權利要求2所述的光檢測裝置，其中，

所述控制部根據所述受光陣列的受光面上的所述反射光的受光位置以及射束點直徑，決定所述多個受光元件中的設為開啟狀態的所述1個以上的受光元件。

4.根據權利要求2或者3所述的光檢測裝置，其中，

所述第1方向為投射的光在與時間相應地在預定范圍內被掃描之后被所述物體反射后的所述反射光的方向，

所述控制部根據所述反射光的方向動態地控制所述多個受光元件中的設為開啟狀態的所述1個以上的受光元件。

5.根據權利要求4所述的光檢測裝置，其中，

所述控制部根據光的掃描方向以及掃描速度，切換所述多個受光元件中的設為開啟狀態的所述1個以上的受光元件。

6.根據權利要求1至5中的任意一項所述的光檢測裝置，其中，

所述受光陣列具有：

受光元件列，至少包括在第2方向上配置的m個所述受光元件，m為2以上的整數；以及

比所述m小的n根輸出布線，傳送由所述m個受光元件受光并進行光電變換后得到的電信號，n為1以上的整數。

7.根據權利要求6所述的光檢測裝置，其中，

在所述第2方向上鄰接地配置的n個所述受光元件分別連接于不同的所述輸出布線。

8.根據權利要求7所述的光檢測裝置，其中，

分別與不同的所述輸出布線連接的所述n個所述受光元件具有與所述受光陣列的受光面上的來自所述第1方向的光的射束點直徑相應的尺寸。

9.根據權利要求7或者8所述的光檢測裝置，其中，

所述受光陣列具有在與所述第2方向交叉的第3方向上配置的p個所述受光元件列，p為2以上的整數，

數量與所述n個受光元件相同的所述輸出布線配置于在所述第3方向上鄰接地配置的兩個所述受光元件列之間。

10.一種電子裝置，具備：

權利要求1至9中的任意一項所述的光檢測裝置；以及

測量部，根據光的投射定時與開啟狀態的所述1個以上的受光元件中的受光定時的時間差來測量直至物體為止的距離。