[發明專利]天線測試方法、設備及計算機可讀存儲介質

有效

• 申請號: 202010144923.X
• 申請日: 2020-03-04
• 公開（公告）號: CN113359066B
• 公開（公告）日: 2022-09-13
• 發明（設計）人: 陳小平;熊德林;陳國丞;常建偉;林錚;陳智勇
• 申請（專利權）人: 佛山市云米電器科技有限公司;陳小平
• 主分類號: G01R31/66
• 分類號: G01R31/66
• 代理公司: 深圳市力道知識產權代理事務所(普通合伙) 44507
• 代理人: 賀小旺

1.一種天線測試方法，其特征在于，所述方法應用于天線測試設備，所述天線測試設備包括第一探針和第二探針，所述天線測試設備用于測試待測電路板，所述待測電路板包括探針接口和多個天線電路，每個所述天線電路與所述探針接口連接，每個所述天線電路包括待測天線，所述方法包括：

控制所述第一探針移動，以使所述第一探針與所述探針接口連接；

控制所述第二探針移動，以使所述第二探針分別與每個所述待測天線接觸，以形成每個所述待測天線的天線測試回路；

在每次形成所述天線測試回路時，檢測所述天線測試回路是否為通路，得到每個所述待測天線的連接測試結果。

2.如權利要求1所述的天線測試方法，其特征在于，所述控制所述第二探針移動，以使所述第二探針分別與每個所述待測天線接觸，以形成每個所述待測天線的天線測試回路，包括：

控制攝像頭對所述待測電路板進行俯拍，得到所述待測電路板的俯拍圖像；

根據所述待測電路板的俯拍圖像，確定每個所述待測天線在所述待測電路板中的位置；

根據每個所述待測天線在所述待測電路板中的位置，確定所述第二探針的移動路徑；

控制所述第二探針按照所述移動路徑移動，以使所述第二探針分別與每個所述待測天線接觸，以形成每個所述待測天線的天線測試回路。

3.如權利要求2所述的天線測試方法，其特征在于，所述根據所述待測電路板的俯拍圖像，確定每個所述待測天線在所述待測電路板中的位置，包括：

將所述俯拍圖像輸入至預設天線識別模型，得到所述俯拍圖像的天線識別結果，其中，所述預設天線識別模型為預先訓練好的神經網絡識別模型；

根據所述天線識別結果，在所述俯拍圖像中標記每個所述待測天線，以確定每個所述待測天線在所述待測電路板中的位置。

4.如權利要求1所述的天線測試方法，其特征在于，所述檢測所述天線測試回路是否為通路，包括：

檢測所述天線測試回路是否有電流；

若檢測到所述天線測試回路有電流，則確定所述天線測試回路為通路；

若檢測到所述天線測試回路無電流，則確定所述天線測試回路為斷路。

5.如權利要求1-4中任一項所述的天線測試方法，其特征在于，所述方法還包括：

在得到每個所述待測天線的連接測試結果后，根據每個所述待測天線的連接測試結果，確定連接異常的所述待測天線；

獲取連接異常的所述待測天線的天線編號，并顯示所述天線編號。

6.如權利要求1所述的天線測試方法，其特征在于，所述控制所述第一探針移動，以使所述第一探針與所述探針接口連接之前，還包括：

檢測天線檢測平臺是否放置有待測電路板；

當檢測到天線檢測平臺放置有待測電路板時，控制所述第一探針移動，以使所述第一探針與所述探針接口連接。

7.如權利要求1-4中任一項所述的天線測試方法，其特征在于，所述待測電路板放置于傳輸帶，所述傳輸帶分別與第一轉動裝置和第二轉動裝置連接，所述第一轉動裝置和第二轉動裝置分別與所述天線測試設備連接，所述方法還包括：

在得到每個所述待測天線的連接測試結果后，根據每個所述待測天線的連接測試結果，確定每個所述待測天線是否連接正常；

若每個所述待測天線均連接正常，則控制所述第一轉動裝置轉動以帶動所述傳輸帶，以將所述待測電路板傳輸至第一存放區域；

若存在至少一個所述待測天線連接異常，則控制所述第二轉動裝置轉動以帶動所述傳輸帶，以將所述待測電路板傳輸至第二存放區域。

8.如權利要求1-4中任一項所述的天線測試方法，其特征在于，所述天線電路包括待測天線、射頻線纜、射頻微帶傳輸線、電感和金屬導線，所述待測天線包括天線輻射體，所述天線輻射體與所述射頻線纜的一端連接，所述射頻線纜的另一端與所述射頻微帶傳輸線的一端連接，所述射頻微帶傳輸線另一端連接于電路板，所述電感與所述射頻微帶傳輸線并聯，所述電感的一端連接于所述射頻微帶傳輸線，所述電感的另一端連接于所述金屬導線的一端，所述金屬導線的另一端連接于所述電路板的探針接口。