[發明專利]基于全概率協同分割的極化合成孔徑雷達變化檢測方法有效
| 申請號: | 202010143794.2 | 申請日: | 2020-03-04 |
| 公開(公告)號: | CN111368914B | 公開(公告)日: | 2023-04-07 |
| 發明(設計)人: | 緱水平;張沛陽;牟金明;劉波;任海洋;毛莎莎;焦昶哲;李哲 | 申請(專利權)人: | 西安電子科技大學 |
| 主分類號: | G06V10/764 | 分類號: | G06V10/764;G06V10/40;G06V10/26;G06V10/762;G06V10/30;G06T7/11 |
| 代理公司: | 陜西電子工業專利中心 61205 | 代理人: | 王品華 |
| 地址: | 710071*** | 國省代碼: | 陜西;61 |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 基于 概率 協同 分割 極化 合成孔徑雷達 變化 檢測 方法 | ||
1.基于全概率協同分割的極化合成孔徑雷達變化檢測方法,其特征在于:
(1)輸入極化相干矩陣T,并從中提取極化特征;
(2)使用極化特征進行譜聚類和判別聚類,得到初始的分割結果;
(3)對初始的分割結果使用全概率協同分割,得到兩幅圖像的協同分割結果和變化檢測結果:
(3a)初始化迭代輪數控制變量j=1,第j輪的變化概率Pj(C)=0,設置最大迭代輪數Jmax,設置像素類別更新總數閾值Umax;
(3b)求出第一幅圖中每個像素點所屬類別的先驗概率P(w)、似然概率P(s|w),并根據P(w)和P(s|w)求出該像素點所屬類別的后驗概率P(L);
(3c)求出第二幅圖中每個像素點所屬類別的先驗概率P(w′)、似然概率P(s′|w′),并根據P(w′)和P(s′|w′)求出該像素點所屬類別的后驗概率P(L′);
(3d)根據兩幅圖像素點所屬類別的后驗概率P(L)、P(L′),求出該位置像素點的變化概率P(C);
(3e)令j=j+1,更新第j輪像素點變化的概率Pj(C)=0.9Pj-1(C)+0.1P(C),更新每個像素的類別為該像素點后驗概率最大的類別,記錄被更新的像素數量為U;
(3f)分別將j與最大迭代輪數Jmax和被更新類別像素數量U與閾值Umax進行比較:若j大于最大迭代輪數Jmax或被更新類別像素的數量U少于閾值Umax,則執行(3g),否則,返回到(3b);
(3g)根據像素類別發生變化的概率P(C),給出變化檢測的結果;
分別根據兩幅圖像素類別的后驗概率P(L)、p(L′),給出兩幅圖的協同分割結果;
(4)根據變化檢測結果和協同分割結果,確定發生變化的具體類別。
2.根據權利要求1所述的方法,其中,所述步驟(1)實現如下:
(2a)按如下公式對極化相干矩陣T進行相似對角化處理:
其中,H表示共軛轉置;λ1、λ2、λ3表示濾波后的極化相干矩陣T的三個不同的特征值;e1表示第一特征值λ1對應的特征向量;e2表示第二特征值λ2對應的特征向量;e3表示第三特征值λ3對應的特征向量,每一個特征值對應的特征向量如下:
(2b)根據三個不同的特征值λ1、λ2、λ3,得到如下極化特征:
散射角:α=p1α1+p2α2+p3α3
散射熵:H=p1log3(p1)+p2log3(p2)+p3log3(p3)
各向異性系數:
式中α1是目標的第1個散射角,α2是目標的第2個散射角,α3是目標的第3個散射角;是第一特征值和三個特征值和的比值,是第二特征值和三個特征值和的比值,是第三特征值和三個特征值和的比值。
3.根據權利要求1所述的方法,其中步驟(2)對極化特征進行譜聚類和判別聚類,是使用極化特征構造包含譜聚類項和判別聚類項的能量函數,使用EM算法優化該能量函數得到初始的分割結果。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于西安電子科技大學,未經西安電子科技大學許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作,請聯系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/202010143794.2/1.html,轉載請聲明來源鉆瓜專利網。





