[發明專利]一種集成BGO晶體光波導的閉環電場檢測系統

在審

• 申請號: 202010141723.9
• 申請日: 2020-03-04
• 公開（公告）號: CN111337759A
• 公開（公告）日: 2020-06-26
• 發明（設計）人: 王瑾;陳秋荻;楊銘;張宇;胡煌;龍丹;韓炎暉
• 申請（專利權）人: 中國地質大學（武漢）;北京東方計量測試研究所
• 主分類號: G01R29/12
• 分類號: G01R29/12
• 代理公司: 武漢知產時代知識產權代理有限公司 42238
• 代理人: 郝明琴

1.一種集成BGO晶體光波導的閉環電場檢測系統，其特征在于，包括：寬譜光源超輻射發光二極管、三端口環形器、起偏器、相位調制器、準直透鏡、BGO集成光波導電場傳感器、光電探測器和信號處理模塊；所述寬譜光源超輻射發光二極管與三端口環形器的第一端口連接，所述起偏器與三端口環形器的第二端口連接，所述相位調制器與起偏器的尾纖45°對軸熔接，所述準直透鏡與相位調制器連接，所述BGO集成光波導電場傳感器置于準直透鏡的透射光路上，所述光電探測器與三端口環形器的第三端口連接，所述信號處理模塊與光電探測器連接。

2.根據權利要求1所述的集成BGO晶體光波導的閉環電場檢測系統，其特征在于，所述信息處理模塊包括：前置放大器、A/D轉換器、數字信號處理單元、D/A轉換器，所述前置放大器與光電探測器連接，所述A/D轉換器與前置放大器連接，所述數字信號處理單元與A/D轉換器連接，所述D/A轉換器與數字信號處理單元連接。

3.根據權利要求2所述的集成BGO晶體光波導的閉環電場檢測系統，其特征在于，所述D/A轉換器還與相位調制器相連接。

4.根據權利要求1所述的集成BGO晶體光波導的閉環電場檢測系統，其特征在于，還包括法拉第旋光鏡，所述法拉第旋光鏡置于準直透鏡和BGO集成光波導電場傳感器之間。

5.根據權利要求1所述的集成BGO晶體光波導的閉環電場檢測系統，其特征在于，還包括保偏光纖，所述保偏光纖用于連接相位調制器和準直透鏡。

6.根據權利要求1所述的集成BGO晶體光波導的閉環電場檢測系統，其特征在于，還包括單模光纖，所述光電探測器與三端口環形器的第三端口通過所述單模光纖連接。

7.根據權利要求1所述的集成BGO晶體光波導的閉環電場檢測系統，其特征在于，所述BGO集成光波導電場傳感器為一種在BGO晶體上采用飛秒激光加工技術制作的兩臂非對稱的Y型包層通道型光波導，所述光波導的兩臂一端連通構成Y型波導，兩臂的另一端均為直波導，所述兩個直波導末端經傾斜切割后不等長，所述切割的端面鍍上一層金屬反射膜。

8.根據權利要求7所述的集成BGO晶體光波導的閉環電場檢測系統，其特征在于，所述其中一條直波導的兩側設有金屬電極和金屬偶極子天線。