[發明專利]內孔質量控制方法及系統

有效

• 申請號: 202010141309.8
• 申請日: 2020-03-04
• 公開（公告）號: CN111382932B
• 公開（公告）日: 2023-09-05
• 發明（設計）人: 蹤雪梅;閆乃晴;畢夢雪
• 申請（專利權）人: 江蘇徐工工程機械研究院有限公司
• 主分類號: G06Q10/0631
• 分類號: G06Q10/0631;G06Q10/0639;G06F16/25;G01B21/00;G01B21/02;G01B21/20
• 代理公司: 中國貿促會專利商標事務所有限公司 11038
• 代理人: 顏鏑

1.一種內孔質量控制方法，其特征在于，包括：

驅動螺旋紋檢測裝置(2)以預設步長沿內孔的軸線(11)在內孔內步進，以便在所述內孔內的多個采樣位置進行數據采樣；

接收所述螺旋紋檢測裝置(2)在每個采樣位置的采樣數據，根據所述采樣數據確定內孔側母線在內孔坐標系中的位置；

根據所述內孔側母線在內孔坐標系中的位置擬合內孔側母線方程；

根據所述內孔側母線方程判斷所述內孔的螺旋紋高度值是否存在異常，如果存在異常，則發出報警提示，以便操作人員對所述內孔的加工工藝進行優化；

其中，所述內孔質量控制方法還包括：

根據內孔螺旋紋的異常數據在失效模式庫(7)內創建新的失效模式記錄，或更新失效模式庫(7)內已建立的失效模式記錄，以便對所述內孔螺旋紋的失效模式進行查詢和分析，所述異常數據包括異常內孔的內孔產品信息、加工工藝參數、螺旋紋檢測數據和對應的失效模式。

2.根據權利要求1所述的內孔質量控制方法，其特征在于，擬合內孔側母線方程的步驟包括：

根據最小二乘擬合方法對所述內孔側母線在內孔坐標系中的各個位置進行擬合，以獲得所述內孔側母線方程。

3.根據權利要求1所述的內孔質量控制方法，其特征在于，所述內孔的螺旋紋高度值的計算步驟包括：

根據所述內孔側母線方程確定所述內孔側母線在內孔坐標系中的各個位置的相對側母線的最大偏移量和最小偏移量；

根據所述最大偏移量和最小偏移量的差值確定所述內孔的螺旋紋高度值。

4.根據權利要求1所述的內孔質量控制方法，其特征在于，還包括：

根據所述內孔側母線方程繪制內孔內表面螺旋紋輪廓曲線。

5.根據權利要求1～4任一所述的內孔質量控制方法，其特征在于，還包括：

將所述內孔的相關信息進行存入數據庫(6)，以便對所述內孔的相關信息進行查詢和分析，所述內孔的相關信息包括所述內孔對應的產品信息、加工工藝參數、檢測過程參數及螺旋紋檢測數據。

6.根據權利要求5所述的內孔質量控制方法，其特征在于，還包括：

接收智能移動終端(5)遠程發送的數據庫查詢指令；

根據所述數據庫查詢指令獲得所述內孔的相關信息，并返回給所述智能移動終端(5)。

7.根據權利要求5所述的內孔質量控制方法，其特征在于，還包括：

根據從所述數據庫(6)中查詢到的所述內孔的相關信息，對符合指定檢測時間、產品信息和加工參數中的至少一種的內孔的螺旋紋檢測數據進行統計分析，建立統計過程控制圖。

8.一種內孔質量控制系統，其特征在于，包括：

螺旋紋檢測裝置(2)，被配置為以預設步長沿內孔的軸線(11)在內孔內步進，以便在所述內孔內的多個采樣位置進行數據采樣；

工控機(4)，與所述螺旋紋檢測裝置(2)信號連接，被配置為接收所述螺旋紋檢測裝置(2)在每個采樣位置的采樣數據，根據所述采樣數據確定內孔側母線在內孔坐標系中的位置，并根據所述內孔側母線在內孔坐標系中的位置擬合內孔側母線方程，再根據所述內孔側母線方程判斷所述內孔的螺旋紋高度值是否存在異常，如果存在異常，則發出報警提示，以便操作人員對所述內孔的加工工藝進行優化；

其中，所述內孔質量控制系統還包括：

失效模式庫(7)，被配置為根據內孔螺旋紋的異常數據創建新的失效模式記錄或更新已建立的失效模式記錄，并提供對所述內孔螺旋紋的失效模式進行查詢和分析的接口，所述異常數據包括異常內孔的內孔產品信息、加工工藝參數、螺旋紋檢測數據和對應的失效模式。

9.根據權利要求8所述的內孔質量控制系統，其特征在于，所述工控機(4)被配置為根據所述內孔側母線方程繪制內孔內表面螺旋紋輪廓曲線。

10.根據權利要求8～9任一所述的內孔質量控制系統，其特征在于，還包括：

數據庫(6)，被配置為保存所述內孔的相關信息，并提供對所述內孔的相關信息進行查詢和分析的接口，所述內孔的相關信息包括所述內孔對應的產品信息、加工工藝參數、檢測過程參數及螺旋紋檢測數據。