[發(fā)明專利]板級電子產品可靠性加速試驗裝置

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 202010140685.5
• 申請日: 2020-03-03
• 公開（公告）號: CN111368426B
• 公開（公告）日: 2022-12-09
• 發(fā)明（設計）人: 曾晨暉;孔祥雷;張超逸;馬岳軒;彭超;白春磊
• 申請（專利權）人: 中國航空綜合技術研究所
• 主分類號: G06F30/20
• 分類號: G06F30/20;G06F119/02
• 代理公司: 北京孚睿灣知識產權代理事務所(普通合伙) 11474
• 代理人: 王冬杰

本發(fā)明提供一種板級電子產品可靠性加速試驗裝置，其包括機柜、電源、數據采集系統(tǒng)、信號調理系統(tǒng)、試驗方案優(yōu)化設計模塊、試驗數據處理模塊和可靠性指標評估模塊；該裝置覆蓋了從方案、實施、數據處理、指標評估等加速試驗全流程各項工作內容，為產品實施加速試驗提供了規(guī)范化、流程化的整體解決方案；試驗裝置可實時進行數據采集和數據自動存儲，對被試品狀態(tài)進行在線實時檢測及故障自動判斷，大大提高了試驗效率，節(jié)省人工成本。

技術領域

本發(fā)明涉及加速試驗領域，具體涉及一種板級電子產品可靠性加速試驗裝置。

背景技術

由于電子產品具有質量要求苛刻、研制周期短、壽命要求高的研制特點，具不完全統(tǒng)計，家用電器的研制周期一般為3～6個月，汽車電子產品為6～18個月，通信電子產品研制周期為8～18個月；家用電器預期使用壽命一般為8～16年，汽車電子產品預期使用壽命為6～12年，通信電子產品的預期使用壽命一般為4～10年；而國產電子產品的質量與國際先進水平相比，還存在明顯差距，據2018年質檢中心的統(tǒng)計數據，家用電器抽檢不合格率為15％～45％，汽車電子產品抽檢不合格率為5％～12.8％，通信電子產品抽檢不合格率為13％～22.7％。

由于時間和費用的限制，傳統(tǒng)的可靠性驗證試驗技術難以滿足產品的當前可靠性指標的驗證要求，因此加速試驗方法應運而生。然而當前我國大部分企業(yè)由于技術的欠缺，往往不具備獨立開展加速試驗的能力，因此，迫切需要一套完整的加速試驗輔助工具，提供完整化、規(guī)范化的加速試驗工作流程，并對加速試驗的方案設計優(yōu)化、試驗檢測、數據處理以及可靠性評估等具體工作提供技術支撐，指導企業(yè)規(guī)范合理的開展加速試驗工作。

發(fā)明內容

本發(fā)明要解決的技術問題是設計一套完整的加速試驗設備，該設備能夠覆蓋包括方案實施、數據處理、模型擬合和指標評估的加速試驗全流程，并能提供包括試驗方案優(yōu)化、加速模型選擇和失效機理一致性分析的專業(yè)解決方案，實現產品可靠性快速驗證、縮短研制周期、降低研制成本、提升產品可靠性水平。

為解決上述技術問題，本發(fā)明提出一種板級電子產品可靠性加速試驗裝置，該可靠性加速試驗裝置包括機柜、電源、數據采集系統(tǒng)、信號調理系統(tǒng)、試驗方案優(yōu)化設計模塊、試驗數據處理模塊和可靠性指標評估模塊；

所述機柜為所述數據采集系統(tǒng)、信號調理系統(tǒng)和電源提供支撐，所述機柜還包括用于和操作人員進行交互的按鈕、開關、顯示器、信號指示燈、鍵盤和鼠標；

所述電源包括電源管理模塊，用于對所述實驗設備外部輸入的交流電進行處理，生成滿足所述數據采集系統(tǒng)、信號調理系統(tǒng)、顯示器和待測產品使用的交流電和直流電；

所述數據采集系統(tǒng)包括機箱、總線、控制器和數據集采集卡；所述機箱為控制器和數據采集卡提供電壓、安裝空間和總線連接；機箱由外殼和背板組成，背板上插槽包括系統(tǒng)插槽和外圍插槽；所述外圍插槽包括CPCI、CPCIe、PXI、PXIe、混合和系統(tǒng)定時插槽；所述背板上包括觸發(fā)總線、星形觸發(fā)和局部總線，所屬背板產生本地總線信號和10MHz系統(tǒng)參考時鐘；所述總線用于所述數據采集板卡和控制器之間的通信，所述總線的類型包括PXI、PXIe、PCI和PCIe總線，所述總線類型與所述機箱、控制器和數據采集卡的總線類型相匹配；所述控制器包括CPU、內存、存儲設備、聲卡、顯卡和I/O接口；所述控制器安裝在所述機箱內的系統(tǒng)插槽處，通過所述機箱背板與所述數據采集卡相連，用于向所述數據采集卡發(fā)送控制指令，并接收和存儲所述數據采集卡采集到的數據；所述數據采集卡包括模擬輸入卡、模擬輸出卡、數字I/O卡、計數器/定時器卡、多功能卡、繼電器卡、可編程電阻卡和通訊卡；所述數據采集卡用于采集存儲所述待測設備產生的信號和數據，并可輸出模擬、數字、頻率控制信號，作為所述待測設備的測試激勵信號；