[發明專利]測試電路及電子裝置

在審

• 申請號: 202010138215.5
• 申請日: 2020-03-03
• 公開（公告）號: CN113345508A
• 公開（公告）日: 2021-09-03
• 發明（設計）人: 蕭鈞元;唐伯元;陳韋廷;郭峰志
• 申請（專利權）人: 世界先進積體電路股份有限公司
• 主分類號: G11C29/10
• 分類號: G11C29/10;G11C29/56
• 代理公司: 北京三友知識產權代理有限公司 11127
• 代理人: 王濤;湯在彥

1.一種測試電路，用以測試一存儲電路，其特征在于，還包括：

一控制器，用以產生多個內部測試信號；

一圖案產生電路，根據所述內部測試信號，寫入一測試數據于所述存儲電路的一存儲區塊中，并讀取所述存儲區塊，用以產生一讀取數據；

一比較電路，比較所述測試數據及所述讀取數據，用以產生一測試結果；以及

一第一暫存器，暫存所述測試結果；

其中所述控制器根據所述第一暫存器所存儲的所述測試結果，判斷所述存儲電路是否正常。

2.根據權利要求1所述的測試電路，其特征在于，所述存儲電路為一靜態隨機存取存儲電路。

3.根據權利要求1所述的測試電路，其特征在于，在一正常測試模式下，所述圖案產生電路根據多個外部測試信號，產生所述測試數據，在一自我測試模式下，所述圖案產生電路根據所述內部測試信號，產生所述測試數據。

4.根據權利要求3所述的測試電路，其特征在于，還包括：

一測試存取電路，用以接收所述外部測試信號以及一模式選擇信號；

其中：

當所述模式選擇信號的一特征參數符合一第一預設條件時，所述測試存取電路命令所述控制器停止提供所述內部測試信號，使得所述圖案產生電路根據所述外部測試信號，產生所述測試數據；

當所述模式選擇信號的所述特征參數符合一第二預設條件時，所述測試存取電路命令所述控制器提供所述內部測試信號，使得所述圖案產生電路根據所述內部測試信號，產生所述測試數據。

5.根據權利要求3所述的測試電路，其特征在于，所述圖案產生電路包括：

一數據產生器，根據所述內部測試信號中的至少一內部數據，產生一內部測試數據；

一第一選擇電路，根據一選擇信號，將所述內部測試數據或是所述外部測試信號中的一外部測試數據作為所述測試數據；

一地址產生器，根據所述內部測試信號中的至少一地址信號，產生一第一存取地址；

一第二選擇電路，根據所述選擇信號，輸出所述第一存取地址或是所述外部測試信號中的一第二存取地址予所述存儲電路；

一控制產生器，根據所述內部測試信號中的至少一控制信號，產生一第一控制指令；以及

一第三選擇電路，根據所述選擇信號，輸出所述第一控制指令或是所述外部測試信號中的第二控制指令予所述存儲電路。

6.根據權利要求1所述的測試電路，其特征在于，所述第一暫存器為一第一D型正反器，所述第一D型正反器根據一操作時脈，接收所述測試結果，并將所述測試結果作為一第一輸出信號提供予所述控制器。

7.根據權利要求6所述的測試電路，其特征在于，所述控制器包括：

一第一組合邏輯電路，接收所述第一輸出信號，當所述第一輸出信號表示所述讀取數據符合所述測試數據時，所述第一組合邏輯電路產生狀態信號；

一第二D型正反器，根據所述操作時脈，接收所述狀態信號，并將所述狀態信號作為一第二輸出信號；以及

一第二組合邏輯電路，根據所述第二輸出信號，產生所述內部測試信號。

8.根據權利要求7所述的測試電路，其特征在于，當所述第一D型正反器輸出所述第一輸出信號時，所述第二D型正反器輸出所述第二輸出信號。

9.根據權利要求1所述的測試電路，其特征在于，還包括：

一第二暫存器，用以暫存所述測試結果，以及

一邏輯門，耦接所述第一暫存器及第二暫存器，并根據第一暫存器及第二暫存器所存儲的所述測試結果，產生一輸出信號；

其中所述控制器根據所述輸出信號，判斷所述存儲電路是否正常。

10.根據權利要求9所述的測試電路，其特征在于，所述邏輯門為一或門。