[發明專利]像素電路、發光器件老化的檢測補償方法及顯示基板

在審

• 申請號: 202010128180.7
• 申請日: 2020-02-28
• 公開（公告）號: CN111312129A
• 公開（公告）日: 2020-06-19
• 發明（設計）人: 王鑄;于子陽;胡謙;李嵬卿
• 申請（專利權）人: 京東方科技集團股份有限公司;成都京東方光電科技有限公司
• 主分類號: G09G3/00
• 分類號: G09G3/00;G09G3/3225
• 代理公司: 北京中博世達專利商標代理有限公司 11274
• 代理人: 申健

本公開實施例提供一種像素電路、發光器件老化的檢測補償方法及顯示基板，可以解決因OLED器件老化而導致屏幕顯示畫面不均問題。所述像素電路包括像素驅動電路、檢測電路、重置電路以及發光器件。像素驅動電路與柵線、數據線、發光信號線以及發光器件分別連接，配置為驅動發光器件發光。檢測電路與發光器件、檢測信號線和讀取信號線分別連接，配置為讀取發光器件在發光狀態下的陽極電位，并傳輸至讀取信號線。重置電路與重置信號線、讀取信號線分別連接，對讀取信號線進行重置。本公開實施例提供的像素電路、發光器件老化的檢測補償方法及顯示基板用于對發光器件進行老化信息檢測及老化補償。

技術領域

本公開涉及顯示技術領域，尤其涉及一種像素電路、發光器件老化的檢測補償方法及顯示基板。

背景技術

有機發光二極管(Organic Light-Emitting Diode，簡稱OLED)顯示屏具有自發光、廣視角、對比度高、響應速度快、耗電低、超輕薄等特點，在行業內受到了廣泛應用。

目前，OLED顯示屏中的每個像素均包括OLED器件和用于驅動該OLED器件發光的像素驅動電路。OLED器件長時間使用容易發生老化。隨著使用時間的延長，OLED器件的材料特性逐漸變差，導致OLED器件的亮度不斷衰減，也即發生老化。老化后的OLED器件的發光亮度與初始狀態的OLED器件的發光亮度相比會有所下降。由于每個像素中OLED器件的發光亮度下降的程度不同，這就容易造成幕顯示畫面亮度不均，從而影響顯示效果。

發明內容

本公開的實施例提供一種像素電路、發光器件老化的檢測補償方法及顯示基板，可以解決因OLED器件老化而導致屏幕顯示畫面不均問題。

為達到上述目的，本公開的實施例采用如下技術方案：

第一方面，提供一種像素電路。該像素電路包括像素驅動電路、檢測電路、重置電路以及發光器件。像素驅動電路與柵線、數據線、發光信號線以及發光器件分別連接，配置為根據柵線提供的掃描信號、數據線提供的數據信號、以及發光信號線提供的發光控制信號，驅動發光器件發光。檢測電路與發光器件、檢測信號線和讀取信號線分別連接，配置為根據檢測信號線提供的檢測信號，讀取發光器件在發光狀態下的陽極電位，并傳輸至讀取信號線。重置電路與重置信號線、讀取信號線分別連接，配置為根據重置信號線提供的重置信號，對讀取信號線進行重置。

本公開實施例提供的像素電路中，當像素驅動電路驅動發光器件發光之后，根據檢測信號線提供的檢測信號，能夠控制檢測電路對發光器件在發光狀態下的陽極電位進行檢測，并將其傳輸至讀取信號線輸出。并且，像素電路中還包括重置電路，該重置電路能夠在重置信號的控制下對讀取信號線進行重置，從而方便讀取信號線為下一次檢測數據的讀取做好準備。

這樣，該像素電路能夠在屏幕常規顯示之前，例如屏幕每次開機時，對發光器件在發光狀態下的陽極電位進行檢測并輸出，以使得像素電路所在的顯示裝置能夠根據該發光器件的陽極電位確定其老化信息，并獲取對應補償后的數據信號。從而在屏幕常規顯示的時段，根據補償后的數據信號對應驅動像素顯示，進而利于解決顯示裝置因發光器件老化而導致的屏幕顯示畫面不均的問題。

由上，本公開實施例提供的像素電路可以根據實際需求選擇性的通過檢測電路對發光器件的老化信息進行檢測，并根據該老化信息對像素電路所在的顯示裝置的顯示進行補償，以使各發光器件的發光亮度能夠達到預期，從而避免因發光器件老化帶來的顯示亮度不足的情況出現，有效保證了屏幕顯示亮度的可靠性以及均一性。在一些實施例中，像素電路設置于襯底上，且讀取信號線與數據線異層設置。讀取信號線在襯底上的正投影與數據線在襯底上的正投影不交疊。

在一些實施例中，讀取信號線和數據線為同一條信號線，且該信號線分時復用為數據線或讀取信號線。

在一些實施例中，讀取信號線與像素驅動電路中的晶體管的第一極或第二極異層設置。