[發明專利]一種基于特殊結構光的鏡面物體及透明物體檢測方法

在審

• 申請號: 202010124636.2
• 申請日: 2020-02-27
• 公開（公告）號: CN111351795A
• 公開（公告）日: 2020-06-30
• 發明（設計）人: 楊孝蘭
• 申請（專利權）人: 楊孝蘭
• 主分類號: G01N21/94
• 分類號: G01N21/94;G01N21/95;G01N21/958
• 代理公司: 成都弘毅天承知識產權代理有限公司 51230
• 代理人: 崔翠翠

本發明公開了一種基于特殊結構光的鏡面物體及透明物體檢測方法，檢測方法包括以下步驟：步驟一、產生特殊結構光投射至被測物體，所述特殊結構光反射或透射經過被測物體；步驟二、采集所述攜帶臟污及缺陷信息的反射或透射結構光圖像；步驟三、處理攜帶信息的反射或透射結構光圖像，獲取被測物體上的臟污及缺陷信息。通過采集經由被測物體反射或透射的單幀結構光，能夠非接觸、簡單、快速地得到被測物體表面臟污及缺陷分布，相對于暗場檢測法，本發明效果更好，而相對于調制度檢測法，本發明速度更快，整個檢測流程中，不需要復雜的標定過程，具有快速、易操作、簡單實用的特點。

技術領域

本發明屬于鏡面物體、透明物體的缺陷及臟污檢測識別領域，涉及一種基于特殊結構光的鏡面物體及透明物體檢測方法。

背景技術

隨著國內外電子信息產業的高速發展，各類型的光電器件也在快速地推陳出新。而在各類器件的構成中，具有反射特性或透射特性的零件往往是不可或缺的，玻璃就是其中一個典型的例子。

在玻璃制品的生產過程中，由于材料、制作工藝等原因，往往會生產出一定比例的帶有缺陷的產品，同時在制造過程中可能會引入部分污染物。對于生產廠家來說，產品質量是其要考慮的重要環節。產品的質量檢測系統能避免次品進入后序工序中，提高質量，降低成本，高速可靠的檢測系統對各類型的玻璃生產廠家來說都是至關重要的。

目前，受限于檢測精度和檢測速度，生產線上的玻璃制品較多還是依靠人工檢測。人眼在強光下檢測產品，效率低下且受個體差異的影響較大，缺乏統一的評判標準。該方法既不利于工人的健康，也有損企業的利益。因此，提出一種新的針對鏡面物體及透明物體的缺陷及臟污的檢測識別方法十分必要。

發明內容

本發明的目的在于：提供一種基于特殊結構光的鏡面物體及透明物體檢測方法，解決了受限于檢測精度和檢測速度，生產線上的玻璃制品較多還是依靠人工檢測的問題，用以替代既不利于工人的健康，也有損企業的利益的人工檢測方法，由此來實現鏡面物體、透明物體上臟污及缺陷的快速準確檢測。

本發明采用的技術方案如下：

一種基于特殊結構光的鏡面物體及透明物體檢測方法，包括以下步驟：

步驟一：產生特殊結構光投射至被測物體，所述特殊結構光反射或透射經過被測物體，反射或透射結構光將會攜帶被測物體上的臟污及缺陷信息；

步驟二：采集所述攜帶信息的反射或透射結構光圖像；

步驟三：處理攜帶信息的反射或透射結構光圖像，獲取被測物體上的臟污及缺陷信息。

具體的，所述步驟一中投射的結構光公式為：

其中，核心區域：指的是為需要檢測臟污及缺陷的物體或物體上的待檢測部位提供入射光的光源區域；非核心區域：指的是除去核心區域的其它區域；式中A、B為不同類型的參量。

進一步地，所述該核心區域提供的入射光范圍可以大于、等于或小于被測物體或物體上待檢測部位的所在范圍。

進一步地，所述核心區域提供的入射光范圍可以與被測物體或物體上待檢測部位的所在范圍完全等同。

進一步地，所述核心區域可以添加可分離去除的光學干擾成分，即A上可以添加這些可去除的干擾成分；而非核心區域可以添加除B以外的其他光學成分，用以豐富B的信息多樣性或同樣用作干擾成分，B甚至可以直接采用環境光。

綜上所述，本發明提出了一種基于特殊結構光的鏡面物體及透明物體檢測方法，特殊結構光反射或透射經過被測物體，通過采集經被測物體反射或透射出的結構光，并結合一定的算法對采集到的圖片結果進行處理，即可得到被測物體上的臟污及缺陷分布。