[發明專利]一種基于特殊結構光的鏡面物體及透明物體檢測方法

在審

• 申請號: 202010124636.2
• 申請日: 2020-02-27
• 公開（公告）號: CN111351795A
• 公開（公告）日: 2020-06-30
• 發明（設計）人: 楊孝蘭
• 申請（專利權）人: 楊孝蘭
• 主分類號: G01N21/94
• 分類號: G01N21/94;G01N21/95;G01N21/958
• 代理公司: 成都弘毅天承知識產權代理有限公司 51230
• 代理人: 崔翠翠

1.一種基于特殊結構光的鏡面物體及透明物體檢測方法，其特征在于，該方法包括如下步驟：

步驟一、產生特殊結構光投射至被測物體，所述特殊結構光反射或透射經過被測物體，反射或透射結構光將會攜帶被測物體上的臟污及缺陷信息；

步驟二、采集所述攜帶信息的反射或透射結構光圖像；

步驟三、處理攜帶信息的反射或透射結構光圖像，獲取被測物體上的臟污及缺陷信息。

2.根據權利要求1所述的一種基于特殊結構光的鏡面物體及透明物體檢測方法，其特征在于，所述步驟一產生的特殊結構光的公式表達為：

其中，核心區域：指的是為需要檢測臟污及缺陷的物體或物體上的待檢測部位提供入射光的光源區域；非核心區域：指的是除去核心區域的其它區域；式中A、B為不同類型的參量。

3.根據權利要求2所述的一種基于特殊結構光的鏡面物體及透明物體檢測方法，其特征在于，所述該核心區域提供的入射光范圍可以大于、等于或小于被測物體或物體上待檢測部位的所在范圍。

4.根據權利要求3所述的一種基于特殊結構光的鏡面物體及透明物體檢測方法，其特征在于，所述核心區域提供的入射光范圍可以與被測物體或物體上待檢測部位的所在范圍完全等同。

5.根據權利要求2所述的一種基于特殊結構光的鏡面物體及透明物體檢測方法，其特征在于，所述核心區域可以添加可分離去除的光學干擾成分；而非核心區域可以添加除B以外的其他光學成分。