[發(fā)明專利]母線電容老化測(cè)試方法、裝置、計(jì)算機(jī)設(shè)備及存儲(chǔ)介質(zhì)有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 202010123096.6 | 申請(qǐng)日: | 2020-02-27 |
| 公開(公告)號(hào): | CN111273102B | 公開(公告)日: | 2020-12-08 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 王遠(yuǎn)航;王春輝;周健;黃創(chuàng)綿;李小兵;孟苓輝;丁小健;梁超;陸樹漢;董成舉;楊劍鋒;劉文威 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 中國(guó)電子產(chǎn)品可靠性與環(huán)境試驗(yàn)研究所((工業(yè)和信息化部電子第五研究所)(中國(guó)賽寶實(shí)驗(yàn)室)) |
| 主分類號(hào): | G01R31/00 | 分類號(hào): | G01R31/00;G01R27/26 |
| 代理公司: | 廣州華進(jìn)聯(lián)合專利商標(biāo)代理有限公司 44224 | 代理人: | 黃麗霞 |
| 地址: | 511300 廣東省*** | 國(guó)省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 母線 電容 老化 測(cè)試 方法 裝置 計(jì)算機(jī) 設(shè)備 存儲(chǔ) 介質(zhì) | ||
本申請(qǐng)公開了一種母線電容老化測(cè)試方法、裝置、計(jì)算機(jī)設(shè)備及存儲(chǔ)介質(zhì),涉及伺服驅(qū)動(dòng)技術(shù)領(lǐng)域,該母線電容老化測(cè)試方法包括:控制所述伺服驅(qū)動(dòng)電路進(jìn)行功率消耗,在伺服驅(qū)動(dòng)電路進(jìn)行功率消耗的過程中,控制電路周期性地控制功率驅(qū)動(dòng)電路停止運(yùn)行,控制電路控制放電電路對(duì)母線電容進(jìn)行放電,并控制電容檢測(cè)電路采集母線電容在放電過程中的電壓數(shù)據(jù);對(duì)于每次采集到的電壓數(shù)據(jù),根據(jù)電壓數(shù)據(jù)確定母線電容的容值;根據(jù)每次確定的母線電容的容值確定母線電容的老化測(cè)試結(jié)果。在伺服驅(qū)動(dòng)電路工作過程中,周期性地對(duì)母線電容的進(jìn)行老化測(cè)試,將母線電容的老化測(cè)試放入伺服驅(qū)動(dòng)電路這一實(shí)際工作場(chǎng)景中進(jìn)行,因此,對(duì)老化測(cè)試的測(cè)試結(jié)果更準(zhǔn)確。
技術(shù)領(lǐng)域
本申請(qǐng)涉及伺服驅(qū)動(dòng)技術(shù)領(lǐng)域,特別是涉及一種母線電容老化測(cè)試方法、裝置、計(jì)算機(jī)設(shè)備及存儲(chǔ)介質(zhì)。
背景技術(shù)
伺服驅(qū)動(dòng)電路是自動(dòng)化生產(chǎn)領(lǐng)域的常用驅(qū)動(dòng)系統(tǒng),伺服驅(qū)動(dòng)電路中通過母線電容吸收伺服驅(qū)動(dòng)電路母線端的高脈沖電流,以保證伺服驅(qū)動(dòng)電路的安全。在伺服驅(qū)動(dòng)電路運(yùn)作的過程中,由于伺服電機(jī)負(fù)載變化較大,加減速非常頻繁,母線電容受到的沖擊較為強(qiáng)烈,導(dǎo)致母線電容容易老化,因此,需要對(duì)母線電容進(jìn)行老化測(cè)試,得到母線電容的老化結(jié)果,并根據(jù)母線電容的老化結(jié)果對(duì)母線電容的老化故障進(jìn)行預(yù)測(cè)。
現(xiàn)有技術(shù)中,對(duì)母線電容進(jìn)行老化測(cè)試的方法是:將母線電容放到老化測(cè)試爐中進(jìn)行加熱,然后每隔固定時(shí)長(zhǎng)檢測(cè)母線電容的質(zhì)量和電阻,根據(jù)母線電容的質(zhì)量和電阻確定母線電容的電容容值,并根據(jù)母線電容的容值確定母線電容的老化結(jié)果。
然而,上述老化測(cè)試方法僅從溫度這個(gè)因素對(duì)母線電容進(jìn)行老化測(cè)試,得到的母線電容的老化測(cè)試結(jié)果不準(zhǔn)確。
發(fā)明內(nèi)容
基于此,有必要針對(duì)上述存在的母線電容的老化測(cè)試結(jié)果不準(zhǔn)確的問題,提供一種母線電容老化測(cè)試方法、裝置、計(jì)算機(jī)設(shè)備及存儲(chǔ)介質(zhì)。
一種母線電容老化測(cè)試方法,應(yīng)用于伺服驅(qū)動(dòng)電路中,伺服驅(qū)動(dòng)電路包括控制電路、母線電容、放電電路、電容檢測(cè)電路和功率驅(qū)動(dòng)電路,該方法包括:
控制伺服驅(qū)動(dòng)電路進(jìn)行功率消耗,在伺服驅(qū)動(dòng)電路進(jìn)行功率消耗的過程中,控制電路周期性地控制功率驅(qū)動(dòng)電路停止運(yùn)行,在每次功率驅(qū)動(dòng)電路停止運(yùn)行后,控制電路控制放電電路對(duì)母線電容進(jìn)行放電,并控制電容檢測(cè)電路采集母線電容在放電過程中的電壓數(shù)據(jù);
對(duì)于每次功率驅(qū)動(dòng)電路停止運(yùn)行后采集到的電壓數(shù)據(jù),根據(jù)電壓數(shù)據(jù)確定母線電容的容值;
根據(jù)每次功率驅(qū)動(dòng)電路停止運(yùn)行后確定的母線電容的容值確定母線電容的老化測(cè)試結(jié)果。
在本申請(qǐng)的一個(gè)實(shí)施例中,母線電容上設(shè)置有加熱設(shè)備,該方法還包括:
在伺服驅(qū)動(dòng)電路工作過程中,控制電路控制加熱設(shè)備對(duì)母線電容進(jìn)行加熱。
在本申請(qǐng)的一個(gè)實(shí)施例中,該方法還包括:
對(duì)于每次功率驅(qū)動(dòng)電路停止運(yùn)行后確定的母線電容的容值,比較母線電容的容值與預(yù)存的容值閾值,當(dāng)母線電容的容值小于容值閾值時(shí),控制電路停止周期性地控制功率驅(qū)動(dòng)電路停止運(yùn)行。
在本申請(qǐng)的一個(gè)實(shí)施例中,放電電路包括第一放電電路和第二放電電路,控制電路控制放電電路對(duì)母線電容進(jìn)行放電,包括:
控制電路先控制第一放電電路將母線電容的電壓下降至第一目標(biāo)電壓,然后控制第二放電電路將母線電容的電壓從第一目標(biāo)電壓下降至第二目標(biāo)電壓。
在本申請(qǐng)的一個(gè)實(shí)施例中,控制電容檢測(cè)電路采集母線電容在放電過程中的電壓數(shù)據(jù),包括:
控制電路控制電容檢測(cè)電路采集母線電容的電壓從第一目標(biāo)電壓下降至第二目標(biāo)電壓的過程中,母線電容的電壓數(shù)據(jù)。
在本申請(qǐng)的一個(gè)實(shí)施例中,控制電容檢測(cè)電路采集母線電容在放電過程中的電壓數(shù)據(jù),包括:
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于中國(guó)電子產(chǎn)品可靠性與環(huán)境試驗(yàn)研究所((工業(yè)和信息化部電子第五研究所)(中國(guó)賽寶實(shí)驗(yàn)室)),未經(jīng)中國(guó)電子產(chǎn)品可靠性與環(huán)境試驗(yàn)研究所((工業(yè)和信息化部電子第五研究所)(中國(guó)賽寶實(shí)驗(yàn)室))許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請(qǐng)聯(lián)系【客服】
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- 專利分類
G01R 測(cè)量電變量;測(cè)量磁變量
G01R31-00 電性能的測(cè)試裝置;電故障的探測(cè)裝置;以所進(jìn)行的測(cè)試在其他位置未提供為特征的電測(cè)試裝置
G01R31-01 .對(duì)相似的物品依次進(jìn)行測(cè)試,例如在成批生產(chǎn)中的“過端—不過端”測(cè)試;測(cè)試對(duì)象多點(diǎn)通過測(cè)試站
G01R31-02 .對(duì)電設(shè)備、線路或元件進(jìn)行短路、斷路、泄漏或不正確連接的測(cè)試
G01R31-08 .探測(cè)電纜、傳輸線或網(wǎng)絡(luò)中的故障
G01R31-12 .測(cè)試介電強(qiáng)度或擊穿電壓
G01R31-24 .放電管的測(cè)試
- 軟件測(cè)試系統(tǒng)及測(cè)試方法
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