[發(fā)明專利]一種薄不銹鋼零件鍍層定性測(cè)厚方法在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 202010122909.X | 申請(qǐng)日： | 2020-02-27 |
| 公開(kāi)（公告）號(hào)： | CN111238384A | 公開(kāi)（公告）日： | 2020-06-05 |
| 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人： | 孫黎明 | 申請(qǐng)（專利權(quán)）人： | 無(wú)錫市振華開(kāi)祥科技有限公司 |
| 主分類號(hào)： | G01B11/06 | 分類號(hào)： | G01B11/06 |
| 代理公司： | 北京品源專利代理有限公司 11332 | 代理人： | 胡彬 |
| 地址： | 214161 江蘇省無(wú)錫市*** | 國(guó)省代碼： | 江蘇;32 |
| 權(quán)利要求書(shū)： | 查看更多 | 說(shuō)明書(shū)： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 一種 不銹鋼 零件 鍍層 定性 方法 | ||
1.一種薄不銹鋼零件鍍層定性測(cè)厚方法，其特征在于，用光源照射不銹鋼零件表面，設(shè)定鍍層標(biāo)準(zhǔn)厚度δ0下的反光強(qiáng)度值為I0，用CCD相機(jī)采集光照區(qū)的亮度情況，當(dāng)測(cè)量鍍層厚度δδ0時(shí)，光照區(qū)亮度II0，判斷未鍍層或鍍層厚度不達(dá)標(biāo)；當(dāng)測(cè)量鍍層厚度δδ0時(shí)，光照區(qū)亮度II0，判斷鍍層厚度合格。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的薄不銹鋼零件鍍層定性測(cè)厚方法，其特征在于：當(dāng)測(cè)量鍍層厚度δδ0時(shí)，光照區(qū)整體呈灰色；當(dāng)測(cè)量鍍層厚度δδ0時(shí)，光照區(qū)整體呈亮銀色。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的薄不銹鋼零件鍍層定性測(cè)厚方法，其特征在于：δ0設(shè)定為3微米。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的薄不銹鋼零件鍍層定性測(cè)厚方法，其特征在于：I0設(shè)定為2000mcd。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的薄不銹鋼零件鍍層定性測(cè)厚方法，其特征在于：所述不銹鋼零件的厚度為0～5微米。
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