[發(fā)明專利]一種防斷箔的后處理單體機、生產(chǎn)工藝、控制方法、控制系統(tǒng)有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 202010112847.4 | 申請日: | 2020-02-24 |
| 公開(公告)號: | CN111364070B | 公開(公告)日: | 2020-11-03 |
| 發(fā)明(設計)人: | 曾尚南;楊劍文;楊雨平;廖平元;劉少華;吳國宏;凌超軍;張任;何宜茂 | 申請(專利權)人: | 廣東嘉元科技股份有限公司 |
| 主分類號: | C25D1/04 | 分類號: | C25D1/04;G01B21/08;G01B21/22 |
| 代理公司: | 北京權智天下知識產(chǎn)權代理事務所(普通合伙) 11638 | 代理人: | 王新愛 |
| 地址: | 514759 廣東省梅州市梅*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 防斷箔 處理 單體 生產(chǎn)工藝 控制 方法 控制系統(tǒng) | ||
1.一種防斷箔生產(chǎn)工藝,采用后處理單體機,其中,后處理單體機為一種防斷箔的后處理單體機,包括:放卷輥、測厚儀組件、控制系統(tǒng)、收卷輥、至少1個以上的處理槽;所述測厚儀組件至少包括:4個測厚儀,其中4個測厚儀分別兩兩布置在銅箔橫幅的兩側(cè),且4個測厚儀與銅箔的前進方向垂直;分布在銅箔一側(cè)的兩個測厚儀用于測量邊部以及鄰近邊部區(qū)域的銅箔厚度;所述測厚儀組件用于檢測銅箔邊部與鄰近邊部區(qū)域的差值;所述測厚儀組件與所述控制系統(tǒng)連接;所述控制系統(tǒng)與后處理驅(qū)動電機組件連接,根據(jù)測厚儀組件的結果來決定是否調(diào)節(jié)后處理單體機的銅箔的運行速度;所述測厚儀組件設置在放卷輥與第一個處理槽之間;
其特征在于,包括以下步驟:
第一,至少4個測厚儀實時測量銅箔的厚度,且將測得的銅箔的厚度數(shù)據(jù)實時傳遞給控制系統(tǒng);
第二,控制系統(tǒng)進行計算得到:左邊部面密度最大差值、右邊部面密度最大差值,對后處理驅(qū)動電機組件進行控制:
當:1g/㎡≥左邊部面密度最大差值或右邊部面密度最大差值時,后處理單體機的運行速度不變,按照預設速度V0運行;
當:1.5g/㎡≥左邊部面密度最大差值或右邊部面密度最大差值>1g/㎡時,控制系統(tǒng)發(fā)送降速指令,控制后處理驅(qū)動電機組件,使得后處理單體機的銅箔運行速度下降到0.8V0-0.9V0的線速度處理銅箔;
當2g/㎡≥左邊部面密度最大差值或右邊部面密度最大差值>1.5g/㎡時,控制系統(tǒng)發(fā)送降速指令,控制后處理驅(qū)動電機組件,使得后處理單體機的銅箔運行速度下降到0.65V0-0.75V0米/分鐘的線速度處理銅箔;
當左邊部面密度最大差值或右邊部面密度最大差值>2g/㎡時,控制系統(tǒng)發(fā)送降速指令,控制后處理驅(qū)動電機組件,使得后處理單體機的銅箔運行速度下降到0.5V0-0.6V0米/分鐘的線速度處理銅箔;
其中,左邊部面密度最大差值=(銅箔左側(cè)布置的測厚儀測得的最大值-銅箔左側(cè)布置的測厚儀測得的最小值)×ρ;
右邊部面密度最大差值=(銅箔右側(cè)布置的測厚儀的最大值-銅箔右側(cè)布置的測厚儀測得的最小值)×ρ;
其中,ρ表示銅箔的密度。
2.如權利要求1所述的防斷箔生產(chǎn)工藝,其特征在于,V0=35米/分鐘,V1=30米/分鐘,V2=25米/分鐘,V3=20米/分鐘。
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