[發(fā)明專利]一種提高測(cè)試流效率的半導(dǎo)體自動(dòng)測(cè)試設(shè)備及測(cè)試方法

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• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 202010107641.2
• 申請(qǐng)日: 2020-02-21
• 公開（公告）號(hào): CN111381142A
• 公開（公告）日: 2020-07-07
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 曾海燕
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 上海御渡半導(dǎo)體科技有限公司
• 主分類號(hào): G01R31/26
• 分類號(hào): G01R31/26
• 代理公司: 上海天辰知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(特殊普通合伙) 31275
• 代理人: 陶金龍;尹一凡

1.一種提高測(cè)試流效率的半導(dǎo)體自動(dòng)測(cè)試裝置，其特征在于，包括：

設(shè)備端，包括多個(gè)分布式板卡；

數(shù)據(jù)庫(kù)，至少包括測(cè)試項(xiàng)數(shù)據(jù)表和測(cè)試類型數(shù)據(jù)表，所述測(cè)試項(xiàng)數(shù)據(jù)表為以測(cè)試項(xiàng)為維度的存儲(chǔ)有每個(gè)測(cè)試項(xiàng)數(shù)據(jù)的表，所述測(cè)試類型數(shù)據(jù)表用于存儲(chǔ)測(cè)試類型ID和測(cè)試類型名稱Name的數(shù)據(jù)；其中，每個(gè)測(cè)試項(xiàng)數(shù)據(jù)包括測(cè)試項(xiàng)ID、測(cè)試項(xiàng)名稱Name和測(cè)試類型的數(shù)據(jù)；

測(cè)試流工具，分別與設(shè)備端和數(shù)據(jù)庫(kù)相連，用于根據(jù)設(shè)備端所需測(cè)試的測(cè)試類型要求，管理存儲(chǔ)于所述數(shù)據(jù)庫(kù)中的測(cè)試項(xiàng)數(shù)據(jù)以完成發(fā)送給所述設(shè)備端的所述測(cè)試項(xiàng)的代碼文件，其包括：

常規(guī)功能模塊，用于根據(jù)所述測(cè)試類型選擇測(cè)試項(xiàng)模板，以新建所述測(cè)試類型數(shù)據(jù)表中的測(cè)試項(xiàng)數(shù)據(jù)；

擴(kuò)展功能模塊，其包括提取單元，所述提取單元根據(jù)所述測(cè)試類型所對(duì)應(yīng)的所述測(cè)試項(xiàng)數(shù)據(jù)表中的所述測(cè)試項(xiàng)ID或測(cè)試項(xiàng)名稱Name，獲取所需的測(cè)試項(xiàng)數(shù)據(jù)；

生成模塊，用于將所述測(cè)試項(xiàng)數(shù)據(jù)所對(duì)應(yīng)指向一個(gè)信息及代碼文件，發(fā)送給所述設(shè)備端。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的提高測(cè)試流效率的半導(dǎo)體自動(dòng)測(cè)試裝置，其特征在于，所述擴(kuò)展功能模塊還包括更新單元，所述更新單元支持將已存在所述數(shù)據(jù)庫(kù)中的所述測(cè)試項(xiàng)數(shù)據(jù)表中的所述測(cè)試項(xiàng)數(shù)據(jù)和/或所述測(cè)試類型數(shù)據(jù)表中的內(nèi)容進(jìn)行更新，然后再保存到數(shù)據(jù)庫(kù)表中。

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的提高測(cè)試流效率的半導(dǎo)體自動(dòng)測(cè)試裝置，其特征在于，所述擴(kuò)展功能模塊還包括刪除單元，所述刪除單元支持將已存在所述數(shù)據(jù)庫(kù)中的所述測(cè)試項(xiàng)數(shù)據(jù)表中的所述測(cè)試項(xiàng)數(shù)據(jù)進(jìn)行刪除。

4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的提高測(cè)試流效率的半導(dǎo)體自動(dòng)測(cè)試裝置，其特征在于，所述測(cè)試類型包括AC測(cè)試類型、DC測(cè)試類型和Functional測(cè)試類型。

5.一種采用權(quán)利要求1所述提高測(cè)試流效率的半導(dǎo)體自動(dòng)測(cè)試裝置的測(cè)試方法，其特征在于，包括建庫(kù)步驟和測(cè)試步驟：

所述建庫(kù)步驟包括：

步驟S11：在數(shù)據(jù)庫(kù)中建立測(cè)試項(xiàng)數(shù)據(jù)表和測(cè)試類型數(shù)據(jù)表，所述測(cè)試項(xiàng)數(shù)據(jù)表為以測(cè)試項(xiàng)為維度的存儲(chǔ)有每個(gè)測(cè)試項(xiàng)數(shù)據(jù)的表，所述測(cè)試類型數(shù)據(jù)表用于存儲(chǔ)測(cè)試類型ID和測(cè)試類型名稱Name的數(shù)據(jù)；其中，每個(gè)測(cè)試項(xiàng)數(shù)據(jù)包括測(cè)試項(xiàng)ID、測(cè)試項(xiàng)名稱Name和測(cè)試類型的數(shù)據(jù)；

步驟S12：根據(jù)所述測(cè)試類型選擇測(cè)試項(xiàng)模板，以新建所述測(cè)試類型數(shù)據(jù)表中的測(cè)試項(xiàng)數(shù)據(jù)；

所述測(cè)試步驟包括：

步驟S21：接收從設(shè)備端所需測(cè)試的測(cè)試類型要求；

步驟S22：根據(jù)所述測(cè)試類型所對(duì)應(yīng)的所述測(cè)試項(xiàng)數(shù)據(jù)表中的所述測(cè)試項(xiàng)ID或測(cè)試項(xiàng)名稱Name，獲取所需的測(cè)試項(xiàng)數(shù)據(jù)；

步驟S23：將所述測(cè)試項(xiàng)數(shù)據(jù)所對(duì)應(yīng)指向一個(gè)信息及代碼文件，發(fā)送給所述設(shè)備端。

6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的測(cè)試方法，其特征在于，所述建庫(kù)步驟還包括步驟S13，將已存在所述數(shù)據(jù)庫(kù)中的所述測(cè)試項(xiàng)數(shù)據(jù)表中的所述測(cè)試項(xiàng)數(shù)據(jù)和/或所述測(cè)試類型數(shù)據(jù)表中的內(nèi)容進(jìn)行更新，然后再保存到數(shù)據(jù)庫(kù)表中。

7.根據(jù)權(quán)利要求5所述的測(cè)試方法，其特征在于，所述建庫(kù)步驟還包括步驟S14，將已存在所述數(shù)據(jù)庫(kù)中的所述測(cè)試項(xiàng)數(shù)據(jù)表中的所述測(cè)試項(xiàng)數(shù)據(jù)進(jìn)行刪除。

8.根據(jù)權(quán)利要求5所述的測(cè)試方法，其特征在于，所述測(cè)試類型包括AC測(cè)試類型、DC測(cè)試類型和Functional測(cè)試類型。