[發明專利]面部殘留物檢測方法及相關設備

有效

• 申請號: 202010105428.8
• 申請日: 2020-02-20
• 公開（公告）號: CN111325732B
• 公開（公告）日: 2023-07-11
• 發明（設計）人: 王晶
• 申請（專利權）人: 深圳數聯天下智能科技有限公司
• 主分類號: G06T7/00
• 分類號: G06T7/00;G06T7/136;G06T7/90;A61B5/00
• 代理公司: 北京市浩天知識產權代理事務所(普通合伙) 11276
• 代理人: 王廣濤

本申請提供面部殘留物檢測方法及相關設備，其中，方法包括：獲取經放大測膚儀器基于紫外光成像采集到的面部放大紫光圖像；將所述面部放大紫光圖像輸入至面部殘留物檢測模型，以獲取所述面部放大紫光圖像對應的面部中的殘留疑似物，以及所述殘留疑似物在所述面部放大紫光圖像中的位置；根據所述殘留疑似物在所述面部放大紫光圖像中的位置，在所述面部放大紫光圖像中截取所述殘留疑似物對應的局部圖像；在根據所述局部圖像確定所述殘留疑似物符合預設的顏色條件和預設的形狀條件的情況下，確定所述殘留疑似物為所述面部中的殘留物。通過該技術方案，可以實現對面部殘留物的檢測，并提高面部中殘留物檢測的精準度和準確性。

技術領域

本申請涉及物質檢測領域，尤其涉及面部殘留物檢測方法及相關設備。

背景技術

容貌及外形一直是一個亙古不變的討論話題，隨著時代的發展，人們越來越關注自身的容貌及外形。特別是對于女性來說，更希望能夠通過某些方式準確獲知自己的面部皮膚狀態以便能夠進行有針對性地保養。因此，用于檢測皮膚狀態的各種測膚儀器應運而生。

目前，大多數測膚儀器主要是用于檢測面部有無色斑、痘痘或者面部皮膚的干濕度情況等反映面部皮膚本身特性的一些皮膚情況，但是對于不屬于面部皮膚自身的但肉眼難以識別的一些殘留物，卻未有相關技術方案。

發明內容

本申請提供面部殘留物檢測方法及相關設備，以解決目前未有檢測面部殘留物的相關技術方案的技術問題。

第一方面，提供一種面部殘留物檢測方法，該方法可以應用于測膚儀器或與測膚儀器相關聯的設備上，該方法包括：獲取經放大測膚儀器基于紫外光成像采集到的面部放大紫光圖像；將面部放大紫光圖像輸入至殘留物檢測模型，以獲取面部放大紫光圖像對應的面部中的殘留疑似物，以及殘留疑似物在面部放大紫光圖像中的位置；根據殘留疑似物在面部放大紫光圖像中的位置，在面部放大紫光圖像中截取殘留疑似物對應的局部圖像；在根據殘留疑似物對應的局部圖像確定殘留疑似物符合預設的顏色條件和預設的形狀條件的情況下，確定前述殘留疑似物為面部放大紫光圖像對應的面部中的殘留物。

在上述技術方案中，先通過獲取經過放大測膚儀器基于紫光外成像采集到的面部放大紫光圖像，將面部放大紫光圖像輸入到面部殘留物檢測模型中，獲取到面部放大紫光圖像中的殘留疑似物，首先確定了面部中可能為殘留物的物質；然后在面部放大紫光圖像中截取殘留疑似物對應的局部圖像，并在根據殘留疑似物對應的局部圖像確定殘留疑似物符合預設的顏色條件和預設的形狀條件的情況下，確定殘留疑似物確實為面部中的殘留物，實現了面部中殘留物的檢測。為了防止面部殘留物模型的檢測度不夠精準，通過進一步分析面部殘留物檢測模型檢測出的殘留疑似物(即殘留物)的物質的顏色和形狀特征，從而實現對殘留物的進一步篩選和確認，提高了面部殘留物檢測的精確度和準確性。

結合第一方面，在一些可能的實現方式中，上述將面部放大紫光圖像輸入至殘留物檢測模型，以獲取面部放大紫光圖像對應的面部中的殘留疑似物，以及殘留疑似物在面部放大紫光圖像中的位置的步驟，具體包括：基于面部殘留物檢測模型對應的至少一個圖像備選區域，以及，面部殘留物檢測模型中的至少一個卷積特征層，提取面部放大紫光圖像的局部圖像特征，以得到用于表征面部放大紫光圖像的局部圖像特征的多個局部卷積特征圖，圖像備選區域用于在面部放大紫光圖像中定位殘留疑似物的位置；基于面部殘留物檢測模型中的類別識別層，識別各局部卷積特征圖所屬的特征圖類別，特征圖類別為殘留疑似物特征或非殘留疑似物特征圖中的一種；根據各局部卷積特征圖所屬的特征圖類別，確定面部放大紫光圖像對應的面部中的殘留疑似物，以及，該殘留疑似物在面部放大紫光圖像中的位置。基于卷積的方式提取用于表征面部放大紫光圖像的局部圖像特征的局部卷積特征圖，并根據局部卷積特征圖所屬的特征圖類別確定面部放大紫光圖像對應的面部中的殘留疑似物以及殘留疑似物的位置，卷積的方式可以使得面部放大紫光圖像中的多個像素能夠共享卷積層中的部分參數，從而減少面部殘留物檢測模型中參數的數量，降低運算量，進而可以提高對殘留疑似物和殘留疑似物的位置的檢測速度。