[發明專利]顯示基板及其制備方法、顯示裝置在審
| 申請號: | 202010099422.4 | 申請日: | 2020-02-18 |
| 公開(公告)號: | CN111276415A | 公開(公告)日: | 2020-06-12 |
| 發明(設計)人: | 董中飛;袁洪光;黃建雄;劉國棟;董一民;郭曉亮 | 申請(專利權)人: | 京東方科技集團股份有限公司;成都京東方光電科技有限公司 |
| 主分類號: | H01L21/66 | 分類號: | H01L21/66;H01L21/67;H01L21/84;H01L27/12;H01L27/32;G09F9/33 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 顯示 及其 制備 方法 顯示裝置 | ||
本發明提供了一種顯示基板及其制備方法、顯示裝置,該顯示基板的制備方法包括:在基底上形成隔離柱;在形成所述隔離柱的過程中,通過檢測所述隔離柱的線性電阻值,以確定所述隔離柱的側蝕深度。從而解決現有顯示基板無法實時監控隔離柱隔離效果的問題。
技術領域
本發明涉及顯示技術領域,具體涉及一種顯示基板及其制備方法、顯示裝置。
背景技術
有機發光二極管(Organic Light Emitting Diode,OLED)為主動發光顯示器件,具有自發光、廣視角、高對比度、較低耗電、反應速度快等優點。隨著顯示技術的不斷發展,OLED技術越來越多的應用各種顯示裝置中,特別是手機和平板電腦等智能終端產品中。
對于智能終端產品,大部分廠商都在追求更高的屏占比,如全面屏和無邊框屏,以期給用戶帶來更炫的視覺沖擊。由于智能終端等產品通常需要設置前置攝像頭、光線傳感器等硬件,因此在OLED顯示屏的有效顯示區域開設安裝孔以設置攝像頭等硬件的方案,正備受業內的高度關注。而在屏幕上開孔容易使公共發光材料層形成水氧入侵通道。目前,主要是通過隔離柱設計,來實現對公共發光材料層的阻斷作用,進而截斷水氧入侵通道,防止封裝不良產生。
現階段,作為前沿技術的柔性有機發光二極管(FOLED)逐步體現出它在顯示行業中的優勢。隨著市場的需求,柔性有機發光二極管技術越來越普及,同時各大手機廠商以此作為推出亮點來吸引消費者目光。然而,柔性有機發光二極管顯示基板中無法實時監控隔離柱的隔離效果,導致產品無法實現量產。
發明內容
本發明實施例所要解決的技術問題是,提供一種顯示基板及其制備方法、顯示裝置,以解決現有顯示基板無法實時監控隔離柱隔離效果的問題。
為了解決上述技術問題,本發明實施例提供了一種顯示基板的制備方法,包括:
在基底上形成隔離柱;
在形成所述隔離柱的過程中,通過檢測所述隔離柱的線性電阻值,以確定所述隔離柱的側蝕深度。
可選地,包括:
通過同一制備過程,在所述基底之上形成所述隔離柱以及模擬柱;
在形成所述隔離柱和所述模擬柱的過程中,通過檢測所述模擬柱的線性電阻值,以確定所述隔離柱的線性電阻值,進而確定所述隔離柱的側蝕深度。
可選地,所述模擬柱與所述隔離柱的形狀和尺寸相同。
可選地,所述通過同一制備過程,在所述基底之上形成所述隔離柱以及模擬柱,包括:
在所述基底之上形成隔離膜層,
采用同一刻蝕工藝將所述隔離膜層形成所述隔離柱以及所述模擬柱。
可選地,在所述模擬柱上形成至少兩個檢測焊盤;通過檢測所述檢測焊盤之間的線性電阻值,以檢測所述模擬柱的線性電阻值。
可選地,所述在形成所述隔離柱的過程中,通過檢測所述隔離柱的線性電阻值,以確定所述隔離柱的側蝕深度,包括:
在所述基底之上形成檢測鍵組;
通過所述檢測鍵組檢測所述隔離柱的線性電阻值,以確定所述隔離柱的側蝕深度。
可選地,在所述基底之上形成檢測鍵組,包括:
在所述基底之上形成源漏極層;
在所述源漏極層之上形成多個檢測焊盤,每個檢測焊盤通過相互電性隔離的引線與所述源漏極層連接,以形成所述檢測鍵組。
可選地,所述基底之上形成有電子參數測量區域,所述檢測鍵組位于所述電子參數測量區域中。
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H01L 半導體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導體或固體器件或其部件的方法或設備
H01L21-02 .半導體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個器件所使用的除半導體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過程中的測試或測量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內或其上形成的多個固態組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造





