[發(fā)明專利]一種空心微針陣列裝置及其制作方法在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 202010089390.X | 申請日: | 2020-02-12 |
| 公開(公告)號: | CN111228643A | 公開(公告)日: | 2020-06-05 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 孟令款;李可為 | 申請(專利權(quán))人: | 成都工業(yè)學(xué)院 |
| 主分類號: | A61M37/00 | 分類號: | A61M37/00 |
| 代理公司: | 北京秉文同創(chuàng)知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 11859 | 代理人: | 趙星;張文武 |
| 地址: | 610031*** | 國省代碼: | 四川;51 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 空心 陣列 裝置 及其 制作方法 | ||
1.一種空心微針陣列裝置,包括一支撐結(jié)構(gòu),所述支撐結(jié)構(gòu)一面具有凹槽,所述支撐結(jié)構(gòu)背面具有由多個(gè)中空微針形成的中孔微針陣列,其特征在于:
所述中空微針具有一高深寬比的針筒結(jié)構(gòu)以及位于微針頭部的逐漸尖銳圓滑的梯次狀凸起結(jié)構(gòu),可以是中心對稱或非對稱的中空微針陣列,所述中空微針具有內(nèi)部通孔,所述內(nèi)部通孔與支撐結(jié)構(gòu)另一面的凹槽連通,使得流體可以從凹槽經(jīng)過內(nèi)部通孔流入或流出。
2.如權(quán)利要求1所述的空心微針陣列裝置,其特征在于,所述梯次狀凸起結(jié)構(gòu)的頂部橫向尺寸在50-300微米,深度為50-300微米,所述空心微針上側(cè)的梯次狀溝槽以及長度大于100微米,其中具有貫穿至支撐結(jié)構(gòu)的中心孔,大小在50-300微米,高深寬比的針筒結(jié)構(gòu)長度至少為100微米。
3.一種如權(quán)利要求1所述空心微針陣列裝置的制作方法,其特征在于,具體包括以下步驟:
S1:提供一襯底,在所述襯底上定義微針陣列的光刻圖案;
S2:根據(jù)所述光刻圖案對所述襯底進(jìn)行多次交替的各向同性刻蝕和各向異性刻蝕,形成微針陣列的梯次狀凸起結(jié)構(gòu);
S3:對所述襯底再次進(jìn)行各向異性刻蝕,形成微針陣列的高深寬比側(cè)壁結(jié)構(gòu);
S4:在所述微針陣列中定義中孔加工圖案,然后在所述微針頂端凸起中形成通孔;
S5:在所述襯底背面構(gòu)建支撐結(jié)構(gòu),形成所述空心微針陣列結(jié)構(gòu)。
4.如權(quán)利要求3所述的空心微針陣列裝置的制作方法,其特征在于,所述光刻圖案為線條形、圓形、橢圓形或不規(guī)則圖形。
5.如權(quán)利要求3所述的空心微針陣列裝置的制作方法,其特征在于,所述襯底可以選自Si、Ge、SiGe、SiC、SiGeC、SOI或III/V化合物等半導(dǎo)體材料,也可以選擇非半導(dǎo)體材料如聚合物、絕緣層材料等。
6.如權(quán)利要求3所述的空心微針陣列裝置的制作方法,其特征在于,通過在所述半導(dǎo)體襯底上形成硬掩膜層和光刻膠層形成所述微針陣列的光刻圖案,其中所述硬掩膜層選自氧化硅、氮化硅、旋涂或CVD旋涂的非晶碳、硅基抗反射材料中的一種或多種,優(yōu)選為氧化硅/氮化硅、硅基抗反射材料/SOC/氧化硅或SiARC/SOC/氮化硅復(fù)合結(jié)構(gòu)。
7.如權(quán)利要求3所述的空心微針陣列裝置的制作方法,其特征在于,步驟S2進(jìn)一步包括:
S2-1:通入第一刻蝕氣體對所述襯底進(jìn)行刻蝕,以形成第一梯次溝槽;
S2-2通入第一鈍化氣體,沉積在所述第一梯次溝槽的底部和側(cè)壁上;
S2-3通入第二刻蝕氣體以去除所述第一梯次溝槽底部的鈍化保護(hù)層,繼續(xù)刻蝕所述第一梯次溝槽底部以形成第二梯次溝槽;
將步驟S2-1至S2-3交替執(zhí)行若干次,優(yōu)選地為8次,形成所述梯次狀溝槽側(cè)壁結(jié)構(gòu)。
8.如權(quán)利要求7所述的空心微針陣列裝置的制作方法,所述各向同性刻蝕與各向異性刻蝕的速率可以相同也可以不同,通過控制每一循環(huán)的速率來形成不同形狀的結(jié)構(gòu),優(yōu)選地為頭部逐漸尖銳圓滑的凸起狀微針陣列結(jié)構(gòu)。
9.如權(quán)利要求7所述的空心微針陣列裝置的制作方法,其特征在于,所述步驟S4進(jìn)一步包括:
對所述頂端凸起的微針陣列定義中孔結(jié)構(gòu)圖案;
根據(jù)所述中孔結(jié)構(gòu)圖案對所述微針陣列進(jìn)行各向異性刻蝕,形成內(nèi)部空心的微針陣列。
10.如權(quán)利要求3所述的空心微針陣列裝置的制作方法,其特征在于,所述對所述襯底遠(yuǎn)離所述微針陣列的一面構(gòu)建支撐結(jié)構(gòu)還包括:
對所述襯底遠(yuǎn)離所述微針陣列的一面定義支撐結(jié)構(gòu)的圖案;
對所述支撐街頭的圖案進(jìn)行刻蝕,直至露出所述微針陣列的內(nèi)部通孔。
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