[發明專利]熔斷器用測試貼標設備

在審

• 申請號: 202010074784.8
• 申請日: 2020-01-22
• 公開（公告）號: CN111153009A
• 公開（公告）日: 2020-05-15
• 發明（設計）人: 王永剛;夏春雷;代波;杜斌
• 申請（專利權）人: 庫柏西安熔斷器有限公司
• 主分類號: B65C9/18
• 分類號: B65C9/18;B65C9/02;G01R27/02;B07C5/344;B07C5/02;B07C5/36
• 代理公司: 北京泛華偉業知識產權代理有限公司 11280
• 代理人: 胡強

1.一種熔斷器用測試貼標設備，所述熔斷器包括熔管和分別設置在所述熔管兩端的兩個外帽，其特征是，所述測試貼標設備包括：

電阻檢測站(1)，其被構造成與兩個所述外帽電連接以檢測所述熔斷器的電阻值并將測得的電阻值發送給控制器；

旋轉站(2)，其布置在所述電阻檢測站(1)的下游且設計用于夾緊所述熔斷器的至少一端以驅動所述熔斷器轉動；

傳送裝置(6)，其設計用于將所述熔斷器從位于上游的站傳送至位于下游的站；

送標裝置(3)，其設計用于提供已經從底紙剝離的標簽；

取標貼標裝置(4)，其包括取標機構和貼標機構，所述取標機構被設計成從所述送標裝置(3)處吸取標簽并將所述標簽局部貼靠在位于所述旋轉站(2)處的所述熔管的外周面，所述貼標機構被設計為抵靠于膠粘在所述熔管上的標簽以隨著所述熔斷器的轉動將整個標簽壓靠于所述熔管的外周面。

2.根據權利要求1所述的測試貼標設備，其特征是，所述取標機構被構造為包括抽吸頭部、第一豎向移位機構和第一橫向移位機構，所述抽吸頭部在所述第一豎向移位機構和第一橫向移位機構的驅動下能夠沿豎向和橫向移位。

3.根據權利要求2所述的測試貼標設備，其特征是，所述抽吸頭部被構造為包括吸標件和沿縱向布置在所述吸標件的対置兩側的一對爪件，所述吸標件的下端面開設有至少一個抽吸孔，所述抽吸孔與負壓裝置流體連通，所述爪件被設計為能朝向所述吸標件轉動以執行閉合動作且在閉合時按壓位于所述旋轉站處的所述熔管的外周面。

4.根據權利要求3所述的測試貼標設備，其特征是，所述貼標機構被構造為包括滾壓件和用于驅動所述滾壓件朝向或遠離所述旋轉站運動的伸縮機構，所述滾壓件被設計為在伸出時抵靠在位于所述旋轉站處的所述熔管的外周面。

5.根據前述權利要求1至4中任一項所述的測試貼標設備，其特征是，所述送標裝置被構造為包括沿豎向延伸的安裝板以及設置在所述安裝板上的標簽帶開卷機構、張緊和導向機構、剝離機構和標簽帶收卷機構，所述剝離機構被構造為包括具有供標簽和底紙將在此處分離的剝離端的剝離板和布置在所述剝離板的下方以供該底紙繞經的剝離撥桿，所述剝離板和所述剝離撥桿被設計為能沿彼此相反的第一方向和第二方向同步往復地執行節拍式移動，其中所述第一方向平行于標簽在所述剝離板的上表面的行進方向，所述剝離端在所述剝離板沿第一方向行進至最大行程時與所述取標機構、尤其是所述抽吸頭部橫向對齊。

6.根據權利要求1所述的測試貼標設備，其特征是，所述電阻檢測站包括電阻儀、沿橫向相對布置且分別用作所述電阻儀的兩個測量端的兩組檢測夾頭和用于驅動所述檢測夾頭豎向移位的第二豎向移位機構，每組檢測夾頭在下降時分別對應夾持住所述兩個外帽。

7.根據權利要求1所述的測試貼標設備，其特征是，在所述電阻檢測站和所述旋轉站之間設置緩沖站，所述緩沖站包括定位壓頭和驅動所述定位壓頭豎向移動的第三豎向移位機構，所述定位壓頭在下降時將位于所述緩沖站處的熔斷器保持就位。

8.根據權利要求1所述的測試貼標設備，其特征是，所述傳送裝置被構造為包括關于水平面成角度地布置的進料機構和布置在所述進料機構的下游且縱向延伸的傳料機構，在所述進料機構和所述傳料機構之間設有分料站，所述分料站被設計為一次僅允許一個熔斷器進入所述傳料機構。

9.根據權利要求8所述的測試貼標設備，其特征是，所述傳料機構包括承載平臺、至少一個承托件、第四豎向移位機構和第一縱向移位機構，所述承載平臺在縱向上延伸并沿縱向開設有豎向貫通的傳料通道，所述承托件在所述第一縱向移位機構的驅動下在傳料通道內沿縱向移位，所述承托件在所述第四豎向移位機構的驅動下豎向上升和下降，在所述承托件上開設有用于容置所述熔斷器的下凹部，所述承托件在上升時承托住所述熔斷器，所述承托件在下降時釋放所述熔斷器。

10.根據權利要求1所述的測試貼標設備，其特征是，在所述取標貼標裝置的下游還設置有分選站，所述分選站被構造為包括至少兩個沿橫向排列的分選料道和在所述控制器的控制下驅動所述分選料道沿橫向移位的第二橫向移位機構，其中每個分選料道對應于不同的收集容器。