[發明專利]一種強電磁環境下傳導干擾信號測量方法

有效

• 申請號: 202010074060.3
• 申請日: 2020-01-22
• 公開（公告）號: CN111220855B
• 公開（公告）日: 2022-03-04
• 發明（設計）人: 張瑜;程杰;李銳;喻斌雄;徐秀棟;趙亮
• 申請（專利權）人: 西北核技術研究院
• 主分類號: G01R29/08
• 分類號: G01R29/08;G01R13/00
• 代理公司: 西安智邦專利商標代理有限公司 61211
• 代理人: 史曉麗

本發明屬于傳導干擾信號測試方法，解決現有強電磁環境下復雜電路系統的電路傳導干擾信號測試方法中，電磁兼容標準所規定的測試方法很難進行準確測量，用于電壓、電流等信號測試的常規測試探頭進行測試時，自身感應出的本底干擾信號和有用信號易混合，造成無法準確分辨真實傳導干擾信號的技術問題，提供一種強電磁環境下傳導干擾信號測量方法，通過采用屏蔽三通測試纜甩線引出、供電隔離的差分電壓探頭屏蔽采樣和隔離供電示波器測試，合理構建外屏蔽層，實現了電路系統傳輸線纜中信號線之間、信號線與地之間、接地機殼表面任意兩點之間傳導電壓干擾信號的準確測量，以及接地線傳導電流干擾信號的準確測量。

技術領域

本發明屬于傳導干擾信號測試方法，具體涉及一種強電磁環境下傳導干擾信號測量方法。

背景技術

在強電磁環境下，電路系統外部的電磁輻射會通過天線、線纜、閉合環路等結構感應耦合到電路系統中，在電路系統內部形成強烈的不必要的傳導干擾；復雜電路系統運行過程中，本身也會產生對外的電磁輻射和傳導干擾，從而加劇外部電磁環境和內部傳導干擾的惡劣程度。在強烈的電磁環境和傳導干擾作用下，一旦電磁不兼容，電路系統內部的敏感終端，包括芯片、處理器、比較器和電路板等，就會出現擾亂、功能喪失、器件損傷和電路燒毀等問題，嚴重降低了電路系統的穩定可靠性。研究和解決強電磁環境下復雜電路系統的電磁不兼容性和干擾問題，前提和基礎是必須對問題線路的電路傳導干擾進行準確測量和評估。

在強于kV/m級外部強電磁環境下，現有的電磁兼容標準所規定的測試方法很難對復雜電路內部的傳導干擾信號進行準確測量；用于電壓、電流等信號測試的常規測試探頭即使不接入電路，只在強電磁環境下短接，即在探頭輸出側感應出強烈的本底干擾信號，當探頭本底干擾信號和有用信號混合在一起，根本就無法準確分辨線路中原先的真實傳導干擾信號。

發明內容

本發明的主要目的是解決現有強電磁環境下復雜電路系統的電路傳導干擾信號測試方法中，電磁兼容標準所規定的測試方法很難進行準確測量，用于電壓、電流等信號測試的常規測試探頭進行測試時，自身感應出的本底干擾信號和有用信號易混合，造成無法準確分辨真實傳導干擾信號的技術問題，提供一種強電磁環境下傳導干擾信號測量方法。

為實現上述目的，本發明提供如下技術方案：

一種強電磁環境下傳導干擾信號測量方法，其特殊之處在于，包括以下步驟：

S1，屏蔽三通測試纜甩線引出及連接

S1.1，取一段外部包裹有屏蔽層的屏蔽三通測試纜，將其內部所有待測信號線一分為二，形成對應的待測甩線；

S1.2，在待測甩線的外側包裹導電屏蔽層，端部留出接線端子，并在每個接線端子處進行標記；

S1.3，在屏蔽三通測試纜的中間處開設小孔，將各待測甩線的接線端子均從所述小孔中穿出，形成待測甩線束；并在待測甩線束外部、待測甩線束與所述小孔之間的縫隙處包裹導電屏蔽層，將待測甩線束中各待測甩線的接線端子留出；

S1.4，將經步驟S1.3處理后的屏蔽三通測試纜連接在機箱外部的信號傳輸電纜與機箱配套電纜插座之間，進行轉接；

S2，差分電壓探頭屏蔽

S2.1，取帶寬大于等于1GHz的差分電壓探頭，將其與示波器相連；

S2.2,將差分電壓探頭的測試端分別與所述待測甩線束中各待測甩線的接線端子對應的引線端子相連；

S2.3，在差分電壓探頭與待測甩線束的連接處由內至外依次包裹紫銅網和紫銅箔，使屏蔽三通測試纜到差分電壓探頭屏蔽；

S3，接地線串接屏蔽示流電阻

S3.1，將兩塊紫銅板平行擺放于同一平面，兩塊紫銅板之間預留小于等于30mm的空隙；