[發明專利]墻面平整度檢測方法、裝置、計算機設備和存儲介質

在審

• 申請號: 202010069652.6
• 申請日: 2020-01-21
• 公開（公告）號: CN111256628A
• 公開（公告）日: 2020-06-09
• 發明（設計）人: 房亮;朱海斌;何志峰
• 申請（專利權）人: 浙江清華柔性電子技術研究院
• 主分類號: G01B11/30
• 分類號: G01B11/30;G06T5/00;G06T17/00
• 代理公司: 杭州華進聯浙知識產權代理有限公司 33250
• 代理人: 金無量

本申請涉及一種墻面平整度檢測方法、裝置、計算機設備和存儲介質。方法包括：獲取墻面的第一圖像、第二圖像以及攝像設備的參數信息；根據第一圖像以及第二圖像，獲得第一相位圖像以及第二相位圖像；根據第一相位圖像、第二相位圖像以及攝像設備參數信息進行三維重構，生成三維圖像；根據三維圖像，計算墻面的平整度。采用本方法能夠根據墻面的圖像以及攝像設備參數信息，建立三維圖像，根據三維圖像，計算墻面的平整度，采用非接觸式測量方式計算墻面的平整度，無需標定基準面，直接測量墻面平整度，具有測量速度快、測量范圍廣、對被測墻面無影響等特點，可以替代人工進行測量墻面，減少安全事故、提高建筑效率。

技術領域

本申請涉及機器視覺技術領域，特別是涉及一種墻面平整度檢測方法、裝置、計算機設備和存儲介質。

背景技術

隨著人工智能技術的高速發展，越來越多的工業設備要求達到智能化水平，這就使得“機器視覺”成為當下的研究熱點，而三維成像技術又是機器視覺中的熱點。三維成像需要先進行三維測量，獲得被測物表面在世界坐標系下的三維坐標信息，然后生成點云圖，構建出其表面三維形貌。三維測量技術是獲取被測物表面點的世界坐標的一種統稱，可分為接觸式測量和非接觸式測量兩大類。接觸式的測量方案主要是通過傳統的機械式傳感器去實現的，通過探頭或探針在被測物表面滑動而得出的。非接觸式測量主要通過廣播或電磁波、超聲波等，通過波的發射和反射來實現測量。相比而言，非接觸式測量方案具有速度快、應用場景限制較少、對被測物無影響等優點而越來越得到廣泛的應用。光學三維測量技術是通過光學儀器和電子設備對被測物的表面三維信息進行掃描，運用計算機視覺和計算機圖形學的相關知識，在計算機中快速的再現物體的三維幾何形態。

目前基于視覺測量的方法要獲得物體的三維信息方式，測量誤差較大，測量耗時長，不適用于建筑物墻面平整度的測量。

發明內容

基于此，有必要針對上述技術問題，提供一種能夠精確測量墻面平整度的墻面平整度檢測方法、裝置、計算機設備和存儲介質。

一種墻面平整度檢測方法，所述方法包括：

獲取墻面的第一圖像、第二圖像以及攝像設備的參數信息；

根據所述第一圖像以及第二圖像，獲得第一相位圖像以及第二相位圖像；

根據所述第一相位圖像、第二相位圖像以及所述參數信息進行三維重構，生成三維圖像；

根據所述三維圖像，計算所述墻面的平整度。

在其中一個實施例中，所述攝像設備包括第一攝像設備和第二攝像設備；

向墻面投射條紋投影；

獲取所述第一攝像設備對墻面采集的第一原始圖像以及所述第二攝像設備對墻面采集的第二原始圖像，所述第一原始圖像與所述第二原始圖像具有重合區域；

對所述第一原始圖像以及第二原始圖像進行圖像處理，得到第一圖像以及第二圖像，其中，所述圖像處理包括濾波、插值、曲面擬合至少一種處理方式。

在其中一個實施例中，根據所述第一圖像以及第二圖像的像素灰度值，檢索對應的相位映射表，獲得所述第一相位圖像以及所述第二相位圖像。

在其中一個實施例中，所述第一相位圖像包括第一水平相位圖像以及第一垂直相位圖像；所述第二相位圖像包括第二水平相位圖像以及第二垂直相位圖像；

根據所述第一水平相位圖像、第一垂直相位圖像、第二水平相位圖像以及第二垂直相位圖像進行圖像匹配，得到圖像視差；

根據所述圖像視差以及所述參數信息進行三維重構，生成三維圖像。