[發明專利]金屬微粒陷阱捕捉試驗裝置及方法

在審

• 申請號: 202010027000.6
• 申請日: 2020-01-10
• 公開（公告）號: CN113109062A
• 公開（公告）日: 2021-07-13
• 發明（設計）人: 葉三排;譚盛武;郭煜敬;高克利;金光耀;柏長宇;顏湘蓮;王劉芳;王志剛;裴濤;李麗娜;王之軍;王春艷;李瓊可;劉偉;劉子恩
• 申請（專利權）人: 平高集團有限公司;國網安徽省電力有限公司電力科學研究院;中國電力科學研究院有限公司;國家電網有限公司
• 主分類號: G01M99/00
• 分類號: G01M99/00;G01R29/12
• 代理公司: 鄭州睿信知識產權代理有限公司 41119
• 代理人: 賈東東

本發明涉及一種金屬微粒陷阱捕捉試驗裝置及方法，該金屬微粒陷阱捕捉試驗裝置，包括：模擬筒體，其內壁上設有試驗位，用于支撐放置具備待測微粒捕捉器的支柱絕緣子組件；導電桿，用于由處于試驗位的支柱絕緣子組件支撐裝配在所述模擬筒體中；套管總裝，與所述模擬筒體裝配以向所述導電桿施加電壓；微粒放置孔，設置于所述模擬筒體的筒壁上，位于所述試驗位的旁側，用于向模擬筒體中放置金屬微粒；孔蓋，對應所述微粒放置孔布置，孔蓋可開合的裝配于所述模擬筒體的筒壁上，以用于封蓋所述微粒放置孔。通過該試驗裝置對微粒捕捉器進行試驗，能夠對微粒捕捉器的有效性進行驗證，優化現場老練試驗的加壓程序，為GIL的可靠運行提供重要的試驗依據。

技術領域

本發明涉及一種金屬微粒陷阱捕捉試驗裝置及方法。

背景技術

GIL/GIS在生產、運輸、組裝、運行等階段，由于滑動部件之間的摩擦碰撞、設備振動以及熱伸縮摩擦等不可控制因素的存在，都會不可避免的產生金屬微粒污染物，在庫倫力、電場梯度力、重力、氣體黏滯力等作用下，金屬微粒會在GIL/GIS內部運動甚至粘附在絕緣子表面，引起氣體間隙放電或絕緣子沿面閃絡，而造成設備耐受電壓的顯著降低。

目前，針對金屬微粒的運動抑制措施主要是在GIL/GIS內部設置微粒陷阱。如授權公告號為CN205384910U的中國專利公開了一種氣體絕緣母線用三支柱絕緣子，包括呈管狀的基體和呈筒狀的微粒捕捉器，基體外周壁上沿基體周向間隔設有三個徑向延伸的絕緣支柱，微粒捕捉器連接在絕緣支柱上，微粒捕捉器在底部區域設有圓孔，圓孔可以收集摩擦產生的金屬微粒等污染物。

上述的微粒捕捉器雖然能夠捕捉一定量的金屬微粒，但由于GIL/GIS自身結構較為復雜，直接在GIL/GIS上進行微粒捕捉試驗，不僅操作不方便，而且還會對GIL/GIS內部的支柱絕緣子造成污染，影響GIL/GIS的正常工作。

發明內容

本發明的目的在于提供一種金屬微粒陷阱捕捉試驗裝置，以解決現有技術中在GIL/GIS直接上進行微粒捕捉試驗，會對GIL/GIS內部的支柱絕緣子造成污染，影響GIL/GIS的正常工作的技術問題。本發明的目的還在于提供一種金屬微粒陷阱捕捉試驗方法，以解決現有技術中在GIL/GIS直接上進行微粒捕捉試驗，會對GIL/GIS內部的支柱絕緣子造成污染，影響GIL/GIS的正常工作的技術問題。

為實現上述目的，本發明金屬微粒陷阱捕捉試驗裝置的技術方案是：

金屬微粒陷阱捕捉試驗裝置，包括：模擬筒體，其內壁上設有試驗位，用于支撐放置具備待測微粒捕捉器的支柱絕緣子組件；導電桿，用于由處于試驗位的支柱絕緣子組件支撐裝配在所述模擬筒體中；套管總裝，與所述模擬筒體裝配以向所述導電桿施加電壓；微粒放置孔，設置于所述模擬筒體的筒壁上，位于所述試驗位的旁側，用于向模擬筒體中放置金屬微粒；孔蓋，對應所述微粒放置孔布置，孔蓋可開合的裝配于所述模擬筒體的筒壁上，以用于封蓋所述微粒放置孔。

有益效果是：在試驗時，將具備待測微粒捕捉器的支柱絕緣子組件支撐放置在筒體內壁的試驗位處，打開孔蓋，通過微粒放置孔向模擬筒體的試驗位旁側放置金屬微粒，之后關閉孔蓋，向模擬筒體和套管總裝內充入氣體絕緣介質。氣體絕緣介質充入完成后，通過套管總裝向導電桿施加一定幅值的電壓，并使電壓幅值大于金屬微粒的起舉電壓，持續一段時間后撤去電壓，觀察微粒捕捉器對金屬微粒的捕捉效果。通過該試驗裝置對微粒捕捉器進行試驗，能夠對微粒捕捉器的有效性進行驗證，優化現場老練試驗的加壓程序，為氣體絕緣輸電線路可靠運行提供重要的試驗依據，具有工程實踐指導意義。

進一步的，所述試驗位沿所述模擬筒體的軸向間隔設置有至少兩個。

有益效果是：通過設置至少兩個試驗位，可以同時對至少兩個微粒捕捉器進行試驗，有利于對比各微粒捕捉器的捕捉效果，進而直觀的得出不同結構的微粒捕捉器的捕捉性能。

進一步的，所述孔蓋為觀察窗。