[發明專利]檢查裝置和檢查方法在審
| 申請號： | 202010025454.X | 申請日： | 2020-01-10 |
| 公開（公告）號： | CN111435118A | 公開（公告）日： | 2020-07-21 |
| 發明（設計）人： | 小野健太郎;山本泰秀;森永國仁;木本智幸 | 申請（專利權）人： | 日商登肯股份有限公司;獨立行政法人國立高等專門學校機構 |
| 主分類號： | G01N21/88 | 分類號： | G01N21/88 |
| 代理公司： | 北京三友知識產權代理有限公司 11127 | 代理人： | 朱麗娟;崔成哲 |
| 地址： | 日本*** | 國省代碼： | 暫無信息 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 檢查 裝置 方法 | ||
1.一種檢查裝置，其具有：
攝像部，該攝像部拍攝被檢查對象物；以及圖像處理部，該圖像處理部對由所述攝像部獲得的所述被檢查對象物的攝像數據進行處理，生成處理圖像數據，其中，
該檢查裝置具有：
第1判定部，其根據所述處理圖像數據、和預先規定的空洞和傷痕的數據，判定所述被檢查對象物是否存在缺陷；以及
第2判定部，其根據所述處理圖像數據和預先構建的機器學習模型，判定所述被檢查對象物是否存在所述空洞和所述傷痕，
所述第1判定部針對由所述第2判定部判定為存在所述空洞、為不合格品的所述被檢查對象物判定是否存在該空洞，
所述第1判定部針對由所述第2判定部判定為存在所述傷痕、為不合格品的所述被檢查對象物判定是否存在該傷痕。
2.一種檢查裝置，其具有：攝像部，該攝像部拍攝被檢查對象物；以及圖像處理部，該圖像處理部對由所述攝像部獲得的所述被檢查對象物的攝像數據進行處理，生成處理圖像數據，其中，
該檢查裝置具有：
第1判定部，其根據所述處理圖像數據和預先規定的多種缺陷的數據，判定所述被檢查對象物是否存在缺陷；以及
第2判定部，其根據所述處理圖像數據和預先構建的機器學習模型，針對所述被檢查對象物判定是否存在所述多種缺陷，
在所述第2判定部將所述被檢查對象物判定為存在特定種類的所述缺陷、為不合格品的情況下，所述第1判定部針對該不合格品判定是否存在該特定種類的缺陷。
3.一種檢查方法，其使用檢查裝置檢查被檢查對象物，
其中，該檢查裝置具有：
攝像部，其拍攝所述被檢查對象物；
圖像處理部，其對由所述攝像部獲得的所述被檢查對象物的攝像數據進行處理，生成處理圖像數據；
第1判定部，其根據所述處理圖像數據和預先規定的多種缺陷的數據，判定所述被檢查對象物是否存在缺陷；以及
第2判定部，其根據所述處理圖像數據和預先構建的機器學習模型，針對所述被檢查對象物判定是否存在所述多種缺陷，其中，
在所述第2判定部將所述被檢查對象物判定為存在特定種類的所述缺陷、為不合格品的情況下，所述第1判定部針對該不合格品判定是否存在該特定種類的缺陷。
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