[發明專利]用于在存儲器系統中編碼和解碼數據的方法和裝置

在審

• 申請號: 202010025433.8
• 申請日: 2020-01-10
• 公開（公告）號: CN111427717A
• 公開（公告）日: 2020-07-17
• 發明（設計）人: A.杜布查克;D.夏皮羅;A.伯曼
• 申請（專利權）人: 三星電子株式會社
• 主分類號: G06F11/10
• 分類號: G06F11/10;G11C29/42
• 代理公司: 北京市柳沈律師事務所 11105
• 代理人: 邵亞麗

一種解碼電路，包括Bose?Chaudhuri?Hocquenghem(BCH)解碼器。BCH解碼器包括用于基于BCH編碼字來生成校正子的校正子級、對校正子執行Berlekamp?Massey(BM)算法以生成錯誤位置多項式(ELP)系數的Berlekamp?Massey級、使用快速傅立葉變換(FFT)對ELP系數執行Chien搜索以生成錯誤位和迭代信息的Chien級、以及被配置為基于迭代信息將錯誤位重新排序為按順序的幀修復器級。BCH解碼器使用重新排序的錯誤位解碼BCH編碼字。

技術領域

本發明構思的示例性實施例涉及用于在存儲器系統中編碼和解碼數據的方法和裝置。

背景技術

NAND快閃存儲器是電可擦除可編程只讀存儲器(Electrically Erasable AndProgrammable Read Only Memory，EEPROM)的一個示例。通過使用其中多個存儲器單元彼此串聯的NAND單元組(cell unit)，NAND快閃存儲器可以在小芯片區域中存儲大量信息。

當在存儲器設備處存儲數據并且從存儲器設備讀取所存儲的數據時，可能會出現錯誤。各種錯誤校正碼可以用來檢測和校正這樣的錯誤。錯誤校正碼可以包括Reed-Solomon(RS)碼、Bose-Chaudhuri-Hocquenghem(BCH)碼、低密度奇偶校驗(Low DensityParity Check，LDPC)碼等。

發明內容

根據本發明構思的示例性實施例，提供了一種包括Bose-Chaudhuri-Hocquenghem(BCH)解碼器的解碼電路。BCH解碼器包括用于基于BCH編碼字來生成校正子(syndrome)的校正子級(stage)、對校正子執行Berlekamp-Massey(BM)算法以生成錯誤位置多項式(Error Location Polynomial，ELP)系數的Berlekamp-Massey級、使用快速傅立葉變換(Fast Fourier Transform，FFT)對ELP系數執行Chien搜索以生成錯誤位和迭代信息的Chien級、以及被配置為基于迭代信息將錯誤位重新排序為按順序的幀修復器級。BCH解碼器使用重新排序的錯誤位解碼BCH編碼字。

根據本發明構思的示例性實施例，提供了一種對Bose-Chaudhuri-Hocquenghem(BCH)編碼字進行解碼的方法。該方法包括：基于BCH編碼字來生成校正子；對校正子執行Berlekamp-Massey算法以生成錯誤位置多項式(ELP)系數；使用快速傅立葉變換(FFT)對ELP系數執行Chien搜索，以生成錯誤位和迭代信息；基于迭代信息將錯誤位重新排序為按順序的；以及使用重新排序的錯誤位解碼BCH編碼字。

根據本發明構思的示例性實施例，提供了一種包括Bose-Chaudhuri-Hocquenghem(BCH)解碼器的解碼電路。BCH解碼器包括：校正子級，用于基于BCH編碼字來生成校正子；Berlekamp-Massey級，對校正子執行Berlekamp-Massey算法，以生成錯誤位置多項式(ELP)系數；第一快速傅立葉變換(FFT)級，對ELP系數迭代地執行第一FFT運算，以生成第一結果；第二FFT級，對第一結果迭代地執行第二FFT運算，以生成第二結果；以及邏輯電路，被配置為從第二結果生成錯誤位。BCH解碼器使用錯誤位解碼BCH編碼字。

附圖說明

通過參考附圖詳細描述本發明構思的示例性實施例，本發明構思將變得更加顯而易見，其中：

圖1示出了示出根據本發明構思的示例性實施例的存儲器系統的示圖；

圖2A示出了根據本發明構思的示例性實施例的SBCH編碼器的高級框圖；

圖2B示出了可以由SBCH編碼器輸出的編碼數據；

圖3示出了根據本發明構思的示例性實施例的SBCH解碼器的高級框圖；