[發明專利]鬼像檢測方法及其系統、電子設備以及鬼像檢測平臺

有效

• 申請號: 202010022300.5
• 申請日: 2020-01-09
• 公開（公告）號: CN113112444B
• 公開（公告）日: 2022-05-31
• 發明（設計）人: 冉成榮;孫杰;蔣坤君;胡增新
• 申請（專利權）人: 舜宇光學（浙江）研究院有限公司
• 主分類號: G06T7/00
• 分類號: G06T7/00;G06T5/00;G06T7/11;G06T7/187;G06T7/136
• 代理公司: 杭州華進聯浙知識產權代理有限公司 33250
• 代理人: 賀才杰

一種鬼像檢測方法及其系統、電子設備以及鬼像檢測平臺。該鬼像檢測方法包括步驟：獲取圖案標板圖像和非圖案標板圖像，其中該圖案標板圖像和該非圖案標板圖像是由相機在相同曝光條件下分別拍攝經由光學顯示系統顯示的圖案標板和非圖案標板而獲得的；對該圖案標板圖像和該非圖案標板圖像進行對比增強處理，以得到增強后的圖案圖像；以及從該增強后的圖案圖像中提取鬼像區域，以檢測鬼像的強弱。

技術領域

本發明涉及光學顯示技術領域，尤其是涉及鬼像檢測方法及其系統、電子設備以及鬼像檢測平臺。

背景技術

鬼像作為諸如近眼顯示設備等光學顯示系統的成像質量的關鍵性指標之一，主要是光學顯示系統的入射光束在元件反射面進行偶次反射而產生與真實像形狀大小相近且亮度較暗的虛擬像。由于鬼像的強弱將直接影響用戶的視覺體驗，因此在投入使用之前，需要對該光學顯示系統中的鬼像強弱進行檢測，以檢驗該光學顯示系統的產品質量。

目前，現有的鬼像檢測方法通常采用一幅正常曝光的圖像作為基準，然后修改相機的曝光參數，使鬼像顯現出來，進而提取鬼像區域，再回到正常曝光圖中計算鬼像強弱，以實現鬼像強弱的檢測。

然而，該現有的鬼像檢測方法不得不多次調整相機的曝光參數，導致本方法的便捷性不夠。另外，該現有的鬼像檢測方法需要根據灰度直方圖分布，迭代地選取鬼像的閾值以進行分割。但由于雜散光的強度可能比鬼像的強度大，因此該現有的鬼像檢測方法容易受到雜散光的影響，使得檢測出的區域只包含雜散光，或者既包含雜散光又包含鬼像，導致該現有的鬼像檢測方法的檢測精度不高。

發明內容

本發明的一優勢在于提供一鬼像檢測方法及其系統、電子設備以及鬼像檢測平臺，其能夠在不改變相機的曝光參數的情況下，完成鬼像的檢測，有助于提升鬼像檢測的便捷性。

本發明的另一優勢在于提供一鬼像檢測方法及其系統、電子設備以及鬼像檢測平臺，其中，在本發明的一實施例中，所述鬼像檢測方法能夠采用線性圖像增強技術，以避免多次調整相機的曝光參數，使得操作簡單，便于實現鬼像檢測的自動化，有助于提升檢測效率。

本發明的另一優勢在于提供一鬼像檢測方法及其系統、電子設備以及鬼像檢測平臺，其中，在本發明的一實施例中，所述鬼像檢測方法采用了新設計的圓形圖案標板，使得特征參數的提取和表達方式均比較簡單，有助于提高檢測效率和檢測精度。

本發明的另一優勢在于提供一鬼像檢測方法及其系統、電子設備以及鬼像檢測平臺，其中，在本發明的一實施例中，所述鬼像檢測方法能夠采用所述圓形圖案板來解決其他形狀在鬼影與實像相交時，無法定位鬼像區域的問題。

本發明的另一優勢在于提供一鬼像檢測方法及其系統、電子設備以及鬼像檢測平臺，其中，在本發明的一實施例中，所述鬼像檢測方法能夠充分利用圓形特征，增加鬼像的定位精確。換言之，所述鬼像檢測方法采用了圓形圖案標板，即使在部分遮擋的情況下，仍能夠非常精確地定位出鬼像區域。

本發明的另一優勢在于提供一鬼像檢測方法及其系統、電子設備以及鬼像檢測平臺，其中，在本發明的一實施例中，所述鬼像檢測方法能夠充分利用鬼像與實像形狀相似的特點，便于排除非鬼像區域。

本發明的另一優勢在于提供一鬼像檢測方法及其系統、電子設備以及鬼像檢測平臺，其中，在本發明的一實施例中，所述鬼像檢測方法能夠在檢測鬼像區域的同時，也能夠檢測出雜散光區域，以便去除雜散光，使得檢測結果更加符合人眼的直觀感受。

本發明的另一優勢在于提供一鬼像檢測方法及其系統、電子設備以及鬼像檢測平臺，其中為了達到上述優勢，在本發明中不需要采用復雜的結構和龐大的計算量，對軟硬件要求低。因此，本發明成功和有效地提供一解決方案，不只提供一鬼像檢測方法及其系統、電子設備以及鬼像檢測平臺，同時還增加了所述鬼像檢測方法及其系統、電子設備以及鬼像檢測平臺的實用性和可靠性。

為了實現上述至少一優勢或其他優勢和目的，本發明提供了鬼像檢測方法，包括步驟：