[發(fā)明專利]一種劃片機檢測工件角度和步進的方法在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 202010017813.7 | 申請日: | 2020-01-08 |
| 公開(公告)號: | CN112330738A | 公開(公告)日: | 2021-02-05 |
| 發(fā)明(設計)人: | 孟繁濱;徐雙雙;趙海洋;周健宇;張明明 | 申請(專利權(quán))人: | 沈陽和研科技有限公司 |
| 主分類號: | G06T7/73 | 分類號: | G06T7/73;G06T7/12;G06T7/66;B28D5/00 |
| 代理公司: | 沈陽晨創(chuàng)科技專利代理有限責任公司 21001 | 代理人: | 張晨 |
| 地址: | 110000 遼*** | 國省代碼: | 遼寧;21 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 劃片 檢測 工件 角度 步進 方法 | ||
本發(fā)明提供了一種劃片機檢測工件角度和步進的方法,屬于劃片機領域,其具體步驟為:獲取包含劃片機工件的目標圖像;根據(jù)所述目標圖像對感興趣區(qū)域二值化,對二值化后的圖像進行連通區(qū)域分析,再提取出具有指定特征的區(qū)域;提取出具有所述指定特征區(qū)域的幾何中心,以幾何中心為特征點,構(gòu)建特征點平面分布圖;隨機抽取其中的兩個特征點,畫出通過它們的直線,再將所有特征點投影到該直線上,并記錄投影點的位置;對投影后的所有投影點進行排序,得到它們之間的最大差距,記錄最大差距值;步驟五:重復步驟三與步驟四至一定次數(shù),提取出每一次中的最大差距值,以及兩個特征點對應工件角度、最大差距值對應工件步進。
技術領域
本發(fā)明屬于劃片機領域,特別提供一種劃片機檢測工件角度和步進的方法。
背景技術
劃片機一般將圓形或者方形的工件切割成具有固定尺寸(長寬)的方形芯粒,這些芯粒上面帶有相同的電路或某些化學特性,為客戶所需要。芯粒的位置由工件上的切割道劃分,切割工件分為兩個方向,第一是豎直方向,第二是水平方向,每個方向由從工件上部到下部的等間距的平行的切割道組成。
劃片機對工件兩個方向的切割由一個旋轉(zhuǎn)工作臺來實現(xiàn),首先將工件放置在旋轉(zhuǎn)臺上,旋轉(zhuǎn)工作臺使切割道與水平方向平行,在豎直方向記錄切割道的位置,然后工作臺順時針旋轉(zhuǎn)90°,使第二個方向的切割道與水平方向平行,記錄切割道的位置,最后分別切割兩個方向的所有切割道。
劃片機在切割工件之前都需要進行自動對準,其目的就是確認旋轉(zhuǎn)臺的角度和豎直方向的位置,傳統(tǒng)的機臺都要求工件放置在旋轉(zhuǎn)臺上的角度在±5°之間,這樣既能區(qū)分切割方向,也能保證自動對準過程快速準確的完成。在LED芯片行業(yè)中,切割間距通常只有幾十微米的大小,操作員幾乎難以用肉眼確定晶片的方向,便無法對產(chǎn)品進行正確放置,產(chǎn)品的角度很任意很隨機,這就間接導致了自動對準難以實施,因為自動對準必須在工件角度偏差不大的基礎之上。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的在于提供一種劃片機檢測工件角度和步進的方法,解決由于切割間距小、放置角度任意而導致的自動對準失效的情況;通過搭載小倍率顯微鏡,實時采集工件圖像,對圖像進行識別處理以達到粗略校正工件角度的目的,最終自動對準過程在此基礎上得以順利實施。
本發(fā)明檢測方法建立在劃片機的運動與圖像識別系統(tǒng)之上,劃片機的運動系統(tǒng)主要由X、Y、Z、T軸組成,其中T軸表示旋轉(zhuǎn)軸,上面有工作臺,T軸固定在X軸上,X軸可以左右運動,顯微鏡固定在Y軸上,Y軸可以前后運動,Z軸固定在Y上,可以上下運動。檢測系統(tǒng)配合軟件算法實現(xiàn)角度識別,該算法提取圖像中的相似特征點,對特征點進行多次隨機抽樣,用樣本點建立角度假設,用其他特征點進行投票驗證,當投票證據(jù)充足即可確定角度信息。
即具體步驟為:首先將工件放置在工作臺中,使其中心區(qū)域覆蓋工作臺中心;顯微鏡運動到工作臺中心,抓取圖像;提取圖像中的特征點;隨機抽取特征點中的幾個樣本點,計算相關角度;用其他點對該角度進行驗證,證據(jù)充分返回該角度;工作臺旋轉(zhuǎn)回轉(zhuǎn)角度時,機臺實施自動對準過程。
本發(fā)明提供了一種劃片機檢測工件角度和步進的方法,其具體步驟為:
步驟一:獲取包含劃片機工件的目標圖像;
根據(jù)所述目標圖像對感興趣區(qū)域二值化,對二值化后的圖像進行連通區(qū)域分析,再提取出具有指定特征的區(qū)域;
步驟二:提取出具有所述指定特征區(qū)域的幾何中心,以幾何中心為特征點,構(gòu)建特征點平面分布圖;
步驟三:隨機抽取其中的兩個特征點,畫出通過它們的直線,再將所有特征點投影到該直線上,并記錄投影點的位置;
步驟四:對投影后的所有投影點進行排序,得到它們之間的最大差距,記錄最大差距值;
步驟五:重復步驟三與步驟四至一定次數(shù),提取出每一次中的最大差距值,以及兩個特征點對應工件角度、最大差距值對應工件步進。
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