[發明專利]波長的選擇方法、裝置、計算設備及計算機存儲介質

有效

• 申請號: 202010006904.0
• 申請日: 2020-01-03
• 公開（公告）號: CN111222455B
• 公開（公告）日: 2022-04-01
• 發明（設計）人: 葉景泰;羅勇洪;章若弢
• 申請（專利權）人: 深圳數聯天下智能科技有限公司
• 主分類號: G06K9/00
• 分類號: G06K9/00;G06K9/62
• 代理公司: 北京市浩天知識產權代理事務所(普通合伙) 11276
• 代理人: 宋菲

1.一種波長的選擇方法，其特征在于，所述方法包括：

S1：獲取不同溫度下采集的多組光譜數據，一組光譜數據包括通過預設波段的近紅外光照射糖度檢測對象時得到的多個吸光度，所述預設波段的近紅外光包括多個不同的波長，所述吸光度與所述波長一一對應；

S2：對所述多組光譜數據進行預處理，得到多組標準光譜數據；

S3：將所述多組標準光譜數據劃分為多個數據集，一個數據集中的多組標準光譜數據對應的溫度值和糖度值相同，所述糖度值為所述糖度檢測對象在目標區域的糖度測定值，所述目標區域為在采集所述光譜數據時所述近紅外光在所述糖度檢測對象上的照射位置；

S4：按預設比例將各數據集中的標準光譜數據劃分為訓練數據和測試數據，以得到訓練集和測試集，所述訓練集由所述各數據集中的訓練數據組成，所述測試集由所述各數據集中的測試數據組成；

S5：生成多個二進制向量，所述二進制向量用于指示多個待驗證波長；

S6：根據第一二進制向量指示的多個待驗證波長在所述訓練集中確定與所述多個待驗證波長對應的多個吸光度，以得到多組目標吸光度，所述第一二進制向量為所述多個二進制向量中的任意一個二進制向量，一組目標吸光度由屬于同一組光譜數據的與所述多個待驗證波長對應的多個吸光度組成；

S7：根據每一組目標吸光度及每一組目標吸光度對應的糖度值建立吸光度變量和糖度值變量之間的函數關系式；

S8：根據所述測試集驗證所述函數關系式，以得到所述第一二進制向量對應的均方誤差；

S9：根據所有二進制向量對應的均方誤差在所述多個二進制向量中確定至少一個有效二進制向量；

S10：基于所述至少一個有效二進制向量重新生成多個二進制向量，并返回執行步驟S6至步驟S9，直至達到預設更新次數，得到至少一個目標二進制向量；

S11：重復執行步驟S4至步驟S10，直至達到預設劃分次數，得到多個目標二進制向量；

S12：將所有目標二進制向量指示的波長中出現頻率最高的波長作為對所述糖度檢測對象進行糖度檢測的波長。

2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述根據每一組目標吸光度及每一組目標吸光度對應的糖度值建立吸光度變量和糖度值變量之間的函數關系式，包括：

對所述多組目標吸光度進行降維，得到降維后的多組第一吸光度；

將每一組第一吸光度和每一組第一吸光度對應的糖度值進行線性回歸，得到第一吸光度變量和糖度值變量之間的函數關系式；

根據所述第一吸光度變量和糖度值變量之間的函數關系式確定所述吸光度變量和糖度值變量之間的函數關系式。

3.根據權利要求2所述的方法，其特征在于，根據所述測試集驗證所述函數關系式，以得到所述第一二進制向量對應的均方誤差，包括：

根據所述第一二進制向量指示的多個待驗證波長在所述測試集中確定與所述多個待驗證波長對應的多個吸光度，以得到多組測試吸光度，一組測試吸光度由屬于同一組光譜數據的與所述多個待驗證波長對應的吸光度組成；

對所述多組測試吸光度進行降維，得到降維后的多組第二吸光度；

根據所述多組第二吸光度和所述函數關系式得到所述測試集中每一組標準光譜數據的預測糖度值；

計算第一組標準光譜數據的預測糖度值與所述第一組標準光譜數據對應的糖度值的差值，所述第一組標準光譜數據為所述測試集中的多組標準光譜數據中的任意一組標準光譜數據；

根據所述測試集中所有的標準光譜數據各自對應的所述差值計算所述第一二進制向量對應的均方誤差。

4.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述根據所有二進制向量對應的均方誤差在所述多個二進制向量中確定至少一個有效二進制向量，包括：

將所有二進制向量對應的均方誤差按照從小到大的順序進行排序，得到排序后的均方誤差；

從所述排序后的均方誤差中依次選擇至少一個均方誤差，并將所述至少一個均方誤差對應的二進制向量確定為所述至少一個有效二進制向量。