[發明專利]一種形貌掃描方法及系統

有效

• 申請號: 202010005465.1
• 申請日: 2020-01-03
• 公開（公告）號: CN111174727B
• 公開（公告）日: 2021-08-03
• 發明（設計）人: 郭力振;宋金城;劉柯;朱浩;袁媛
• 申請（專利權）人: 北京航天計量測試技術研究所;中國運載火箭技術研究院
• 主分類號: G01B11/24
• 分類號: G01B11/24;G06T7/11
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

本申請公開了一種形貌方法及裝置，用以實現復雜區域掃描，克服單一的圓形、矩形區域掃描對掃描任務帶來的制約限制，完成自定義非規則的凸多邊形區域遍歷，包括：確定待掃描區域；將所述待掃描區域劃分為N邊形；將所述N邊形分割為S個分割區域；對所述S個分割區域進行形貌掃描。本實施例還提供了一種形貌掃描裝置。通過本實施例的方法，將待掃描區域進行分割，再分別對每個分割區域進行掃描，解決了三維形貌測量儀對復雜區域掃描測量問題，提高了掃描測量效率，提高了穩定性和可靠性。

技術領域

本申請涉及探測領域，尤其涉及三維形貌掃描方法及裝置。

背景技術

區域遍歷指的是給定待掃描區域，然后規劃路徑，依次完成整個區域的遍歷掃描。區域遍歷有很多實現方法和途徑，不同的應用場合對遍歷區域的要求也不盡相同。常規的區域遍歷是規則的，如圓形、矩形、正方形、三角形等區域遍歷，但是這些遍歷區域有一定的限制，在一些特殊的應用場合不能很好的完成預期的工作任務。

發明內容

針對上述技術問題，本申請實施例提供了一種形貌掃描方法及裝置，用以實現復雜區域掃描，克服單一的圓形、矩形區域掃描對掃描任務帶來的制約限制，完成自定義非規則的凸多邊形區域遍歷。

第一方面，本發明實施例提供了一種形貌掃描方法，包括：

確定待掃描區域；

將所述待掃描區域劃分為N邊形；

將所述N邊形分割為S個分割區域；

對所述S個分割區域進行形貌掃描；

其中，所述N邊形的任意一個內角小于180度，N是大于等于3的正整數，S小于等于N-1。

進一步的，將所述待掃描區域劃分為N邊形，具體包括：

將所述待掃描區域轉換為數學坐標；

在所述數學坐標上將所述待掃描區域劃分為N邊形；

其中，所述數學坐標的原點是掃描系統的初始化零點。

進一步的，分個區域的方法包括：

以所述N邊形的每個頂點的橫坐標為分割界限，將所述N邊形區域沿縱坐標方向分割為S個分割區域；

其中，所述S個分割區域從左到右編號為1到S，且第1個分割區域和第S個分割區域為三角形，其他分割區域為梯形。

進一步的，本申請實施例還提供了所述S個分割區域的頂點坐標確定方法，具體包括：

所述S個分割區域的頂點坐標為(a_i,b_i)；

所述頂點坐標(a_i,b_i)在所述N邊形上，從最左邊的頂點開始，沿順時針方向，i的編號從1開始依次增加1，i的值為1到2Q，Q＝S+1；

其中，(a₁,b₁)和(a_2Q,b_2Q)重疊，均為最左邊的頂點；(a_Q,b_Q)和(a_Q+1,b_Q+1)重疊，均為最右邊的頂點。

進一步的，本申請實施例還提供了每個分割區域的掃描方法，具體可以包括：從最左邊的的第1個分割區域開始，從左到右依次對所述S個分割區域分別進行形貌掃描。對于每個分個區域，掃描方法如下，即先向上掃描，再向下掃描：

以每個所述分割區域最左端的坐標為起點，若最左端有兩個坐標，則以縱坐標值小的頂點為起點；

橫坐標向右步進一次，向上掃描；