[發明專利]使用主/復制陣列進行空間檢測的方法

在審

• 申請號: 201980091989.2
• 申請日: 2019-12-06
• 公開（公告）號: CN113439124A
• 公開（公告）日: 2021-09-24
• 發明（設計）人: P·肖
• 申請（專利權）人: 10x基因組學有限公司
• 主分類號: C12Q1/6837
• 分類號: C12Q1/6837;C12Q1/6841
• 代理公司: 上海專利商標事務所有限公司 31100
• 代理人: 陳揚揚;錢文宇

1.一種在基材上產生捕獲探針陣列的方法，該方法包括：

提供包括多個孔的基材，所述多個孔中的孔具有凹陷表面；

將掩模施加到基材的不對應于所述多個孔的一個或多個區域；和

將多個捕獲探針施加到多個孔中的孔，其中多個捕獲探針中的捕獲探針包含對于所述孔而言獨特的條形碼，從而使捕獲探針的一端固定在所述孔的凹陷表面上。

2.根據權利要求1所述的方法，其中將多個捕獲探針施加到孔包括光刻。

3.根據權利要求1或2所述的方法，還包括在將多個捕獲探針施加于孔之前將多個引物施加于孔。

4.根據前述權利要求中任一項所述的方法，其中所述捕獲探針包含對于所述孔而言獨特的條形碼。

5.根據前述權利要求中任一項所述的方法，其中所述捕獲探針包含裂解域、捕獲域、功能域、獨特分子標識符或其組合中的至少一個。

6.根據權利要求4所述的方法，其中，條形碼包括第一部分和第二部分，并且其中，所述陣列的同一行中的捕獲探針包括條形碼的相同的第一部分，并且其中，所述陣列的同一列中的捕獲探針包括條形碼的相同的第二部分。

7.根據權利要求5所述的方法，其中，條形碼在所述條形碼的第一部分和第二部分之間包含其它核苷酸。

8.根據權利要求1所述的方法，其中，孔中捕獲探針的密度為約800/μm²至10,000/μm²。

9.根據權利要求1或8所述的方法，其中，所述孔包含約10,000至300,000個捕獲探針。

10.根據權利要求1、8或9中任一項所述的方法，其中所述孔具有20pL至500μL的體積。

11.根據權利要求1或8-10中任一項所述的方法，其中所述孔具有0.5μm至10μm的深度。

12.根據權利要求1或8-11中任一項所述的方法，其中所述孔具有0.5μm至10μm的在由基材表面限定的平面中測量的最大截面尺寸。

13.根據權利要求1或8-12中任一項所述的方法，其中所述孔包括圓柱形、杯形、底切或圓錐形。

14.根據權利要求1或8-13中任一項所述的方法，其中，所述基材上的多個孔的密度為約100個孔/mm²至1x10⁴個孔/mm²。

15.根據權利要求1所述的方法，其中所述孔在由所述基材表面限定的平面中測量的最大截面尺寸為0.5μm至10μm，并且包括約10,000至30,000個捕獲探針。

16.基材上的捕獲探針陣列，該陣列包括：

包括多個孔的基材，所述多個孔中的孔包括具有多個固定的捕獲探針的凹陷表面，其中多個固定的捕獲探針包括共約10,000個至約300,000個的捕獲探針，并且其中捕獲探針包含對于所述孔而言獨特的條形碼，并且

其中，孔具有在由基材的表面限定的平面中測量的約0.5μm至約10μm的最大截面尺寸。

17.如權利要求16所述的陣列，其中，所述孔包括圓柱形、杯形、底切或圓錐形。

18.根據權利要求16或17所述的陣列，其中，所述基材上的多個孔的密度為約100個孔/mm²至1x10⁴個孔/mm²。