[發明專利]耿氏二極管和用于生成太赫茲輻射的方法在審
| 申請號: | 201980072140.0 | 申請日: | 2019-08-23 |
| 公開(公告)號: | CN112997333A | 公開(公告)日: | 2021-06-18 |
| 發明(設計)人: | O·伊爾馬佐格盧;A·S·豪約 | 申請(專利權)人: | 達姆施塔特工業大學 |
| 主分類號: | H01L47/02 | 分類號: | H01L47/02 |
| 代理公司: | 廣州嘉權專利商標事務所有限公司 44205 | 代理人: | 黃曉升 |
| 地址: | 德國達*** | 國省代碼: | 暫無信息 |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 耿氏二極管 用于 生成 赫茲 輻射 方法 | ||
本發明涉及一種耿氏二極管,所述耿氏二極管包括第一接觸層(110)和第二接觸層(120)、有源層(130)、襯底(140)和用于激光器(50)的光學輸入端(150);所述有源層(130)基于氮化鎵(GaN)基半導體材料,所述有源層(130)形成于第一接觸層(110)和第二接觸層(120)之間;所述有源層(130)連同所述第一接觸層(110)和所述第二接觸層(120)形成在所述襯底(140);所述光學輸入端(150)用以通過激光照射促進或觸發所述有源層(130)的能量帶的極值(210、220)之間的電荷載流子轉移。
技術領域
本發明的示例性實施例涉及一種耿氏二極管、一種用于生成太赫茲輻射(THz輻射)的開關、和一種用于生成THz輻射并且特別地以激光照射和場板技術在GaN耿氏二極管上生成THz輻射的方法。
背景技術
耿氏效應已成功地用于GaAs或InP基半導體元件中以生成高頻信號。這些半導體材料具有材料性質,諸如能帶過程、電荷載流子速度和可遷移率,這些特性引發了耿氏效應的電子轉移。
通過適當布線(例如,施加對應供應電壓)使電子在二極管中成批地(諸如波)積累和遷移,耿氏二極管利用了這種效應。這繼而導致電磁波根據該頻率的生成和隨后輻射。
特別對于極高頻率(例如,在太赫茲范圍內),已知GaAs基半導體元件具有一系列缺點。這些缺點是有原因的,因為電子的飽和速度和電子轉移時間對于這些高頻來說太低了。因此,這些半導體元件很難用于太赫茲范圍內的頻率。此外,所謂“電子轉移效應”的閾值電場強度或能帶隙對于高輸出功率來說太小了。
因為還存在對于THz輻射源的漸增需求,所以可期望的是找到GaAs基半導體元件的替代品。
發明內容
上述問題的至少一部分通過根據權利要求1所述的耿氏二極管,通過根據權利要求10所述的開關和根據權利要求14所述的方法來解決。從屬權利要求限定了獨立權利要求的主題的其它有利實施例。
本發明涉及一種耿氏二極管,該耿氏二極管具有第一接觸層、第二接觸層、有源層、襯底和光學輸入端。有源層基于氮化鎵(GaN)基半導體材料(例如,Alx Iny Ga(1-x-y)N),并且形成于第一接觸層和第二接觸層之間。
有源層連同第一接觸層和第二接觸層形成于襯底上。光學輸入端形成用于接收激光,以通過激光照射促進或觸發有源層的能帶之間的電荷載流子轉移。
用于有源層的GaN基半導體材料可特別地包括以下項:二元化合物半導體(即,GaN)、三元化合物半導體(例如,AlGaN、InGaN)或四元化合物半導體(例如,AlInGaN)或具有甚至更多組分的其它化合物半導體,但GaN作為一種成分。
襯底任選地包括下述材料的一者:氮化鎵、硅、碳化硅。
任選地,耿氏二極管還包括陽極觸點(陽極電極)和陰極觸點(陰極電極)。相比于有源層,第一接觸層和/或第二接觸層可為相同基體材料的較高摻雜區域。陽極觸點可任選地形成于襯底的后側上,使得其經由襯底(電氣地)連接至第一接觸層。陰極觸點可電氣地接觸第二接觸層。例如,第一接觸層和第二接觸層包括1x 1018cm-3至5x 1018cm-3的范圍內的摻雜,并且陽極觸點包括至少1020cm-3的摻雜。有源層也可進行摻雜以生成期望帶結構。任選地,第一接觸層可由襯底形成。在本發明不限于此的情況下,摻雜可例如以硅來進行(然而,許多其它材料為可能的)。
任選地,耿氏二極管還包括冷卻本體(有源或無源),該冷卻本體具有相比于襯底的較高導熱性,以形成散熱片。有源層與冷卻本體的熱連接可經由襯底來產生。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于達姆施塔特工業大學,未經達姆施塔特工業大學許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作,請聯系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201980072140.0/2.html,轉載請聲明來源鉆瓜專利網。





