[發明專利]成像系統探測器剪切引起的偏置校正

在審

• 申請號: 201980053326.1
• 申請日: 2019-07-09
• 公開（公告）號: CN112566554A
• 公開（公告）日: 2021-03-26
• 發明（設計）人: K·M·布朗
• 申請（專利權）人: 皇家飛利浦有限公司
• 主分類號: A61B6/03
• 分類號: A61B6/03;A61B6/00;G06T11/00
• 代理公司: 永新專利商標代理有限公司 72002
• 代理人: 劉兆君

1.一種系統(116)，包括

去對數器(202)，其被配置為對取對數的數據進行去對數以產生去對數的經剪切的數據，所述取對數的數據包括衰減線積分和剪切引起的偏置；

均值估計器(204)，其被配置為估計所述去對數的經剪切的數據的平均值；

校正確定器(206)，其被配置為基于所述去對數的經剪切的數據的所估計的平均值來確定對所述剪切引起的偏置的校正；以及

加法器(210)，其被配置為利用所述校正來校正所述取對數的數據以產生經校正的取對數的數據。

2.根據權利要求1所述的系統，還包括：

校正函數(208)，其中，所述校正確定器還被配置為基于所述校正函數來確定所述校正。

3.根據權利要求2所述的系統，其中，所述校正函數指示平均值在未經剪切的數據的真實平均值與去對數的經剪切的數據的平均值之間的偏移，所述未經剪切的數據被取對數以創建所述取對數的數據。

4.根據權利要求1至3中的任一項所述的系統，還包括：

校準和/或校正模塊(120)，其被配置為應用一個或多個校準和/或一個或多個校正。

5.根據權利要求4所述的系統，其中，所述校準和/或校正模塊被配置為將所述一個或多個校準和/或一個或多個校正應用于所述經校正的取對數的數據。

6.根據權利要求4所述的系統，其中，所述校準和/或校正模塊被配置為將所述一個或多個校準和/或一個或多個校正應用于所述取對數的數據。

7.根據權利要求4所述的系統，其中，所述校準和/或校正模塊被配置為：將校準和/或校正的一個或多個集合應用于所述取對數的數據，并且將校準和/或校正的不同集合應用于所述經校正的取對數的數據。

8.一種包括根據權利要求1所述的系統的計算機斷層攝影成像系統(100)。

9.根據權利要求1至8中的任一項所述的系統，還包括：

重建器(122)，其被配置為重建所述經校正的取對數的數據以產生體積圖像數據。

10.根據權利要求1至9中的任一項所述的系統，還包括：

探測器陣列(110)；以及

所述探測器陣列的處理電子器件(114)，所述處理電子器件被配置為響應于探測到X射線輻射而生成所述取對數的數據。

11.一種編碼有計算機可執行指令的計算機可讀介質，其中，所述計算機可執行指令在由處理器執行時使所述處理器：

對取對數的數據去對數以產生去對數的經剪切的數據，所述取對數的數據包括衰減線積分和剪切引起的偏置；

估計所述去對數的經剪切的數據的平均值；

基于所述去對數的經剪切的數據的所估計的平均值，確定對所述剪切引起的偏置的校正；并且

利用所述校正來校正所述取對數的數據，以產生經校正的取對數的數據。

12.根據權利要求11所述的計算機可讀介質，其中，所述指令還使所述處理器：

基于校正函數來確定所述校正。

13.根據權利要求12所述的計算機可讀介質，其中，校正函數指示平均值在未經剪切的數據的真實平均值與所述去對數的經剪切的數據的平均值之間偏移。

14.根據權利要求11至13中的任一項所述的計算機可讀介質，其中，所述指令還使所述處理器：

在校正所述取對數的數據之前和/或之后，應用一個或多個校準和/或一個或多個校正。

15.根據權利要求11至14中的任一項所述的計算機可讀介質，其中，所述指令還使所述處理器：

重建所述經校正的取對數的數據以產生體積圖像數據。