[發明專利]檢查方法、檢查系統及記錄介質

有效

• 申請號: 201980039712.5
• 申請日: 2019-07-02
• 公開（公告）號: CN112272968B
• 公開（公告）日: 2022-03-04
• 發明（設計）人: 紺田隆一郎
• 申請（專利權）人: 歐姆龍株式會社
• 主分類號: H05K13/08
• 分類號: H05K13/08
• 代理公司: 北京同立鈞成知識產權代理有限公司 11205
• 代理人: 馬爽;臧建明

本發明提供一種檢查方法、檢查系統及記錄介質，能夠針對每個零件來管理檢查項目和/或檢查基準的質量，由此能夠針對每個零件而使基板檢查等中的檢查項目或檢查基準最佳化。一種檢查方法，通過檢查程序來進行搭載有零件的物品的檢查，包括：設定步驟，針對每個零件來設定檢查中的包含零件的檢查項目和/或檢查基準的檢查信息；以及判定步驟，通過檢查程序來判定物品的品質，且檢查信息進而包含作為所述檢查信息的可靠性的指標的檢查品質水平信息，在設定步驟中，基于針對零件的每個產品編號而設置且每當檢查信息變更時加以更新的產品編號數據群，來設定檢查信息，在判定步驟中，基于參照產品編號數據群而獲得的檢查信息，針對每個零件來判定品質。

技術領域

本發明屬于與搭載零件的物品的檢查相關的技術領域，尤其涉及一種檢查方法、檢查系統及記錄介質。

背景技術

作為檢查零件對基板的安裝狀態等的裝置，廣泛使用自動外觀檢查裝置。此種裝置中，通過傳感器而獲得安裝有零件的基板(也包括焊接前的狀態的基板)的外觀信息，并對各零件進行與此零件相應的項目的測量。而且，通過將所得的結果與規定的檢查基準相對照，而進行良品或不良品的判別。

此處，若所設定的檢查項目或檢查基準并不恰當，則會發生：將實際上為良品者判斷為不良品的“錯檢”、或將實際上為不良品者判斷為良品的“漏檢”。“錯檢”會導致檢查效率的惡化，“漏檢”會降低制造步驟的可靠性且使后續步驟的作業效率惡化。而且，任一者均成為使制造步驟的費用增加的原因，因而理想的是使“錯檢”及“漏檢”最小化。

然而，若為了減少“漏檢”而使檢查基準變嚴格，則“錯檢”增加，若為了減少“錯檢”而放寬檢查基準，則“漏檢”增加，因此需要設定恰當的檢查項目及檢查基準。

因此，在實施量產品的檢查之前，利用基板或零件的驗證圖像來進行檢查項目或檢查基準的調整，在完成所述調整后將所述檢查項目或檢查基準應用于實際的生產線中。然而，之前是在對一個基板上所配置的全部零件產品編號進行檢查項目或檢查基準的調整后，以可在量產檢查中實施的方式擴展至量產程序中，因而，根據零件產品編號的不同，也會存在品質不固定者，存在產生“錯檢”或“漏檢”的情況。

此處，關于能夠識別各零件的數據的可靠性的技術，提出有以下技術：當制作電子零件裝配裝置的圖案程序中使用的電子零件的零件程序館(1ibrary)的數據時，根據制作狀態來進行可靠度的分級，將已分級的制作狀態附加至所述數據中，由此，在建立(setup)作業時等，在使用零件程序館的情況下，哪一電子零件為可靠者便一目了然(參照專利文獻1)。然而，所述現有技術并不能夠針對每個零件而使基板檢查等中的檢查項目或檢查基準最佳化。

現有技術文獻

專利文獻

專利文獻1：日本專利特開2014-183216號公報(日本專利第6219579號公報)

專利文獻2：日本專利特開2008-45952號公報

專利文獻3：日本專利特開2006-250610號公報

專利文獻4：日本專利特開2001-24321號公報

發明內容

發明所要解決的問題

本發明是鑒于如上所述的實際情況而成，其目的在于提供一種能夠針對每個零件來管理檢查項目和/或檢查基準的質量，由此能夠針對每個零件而使基板檢查等中的檢查項目或檢查基準最佳化的技術。

解決問題的技術手段

為了實現所述目的，本發明采用以下構成。

本發明的檢查方法為通過對搭載有零件的物品的品質加以判定的檢查程序，來進行所述物品的檢查的檢查方法，所述檢查方法包括：

設定步驟，針對每個零件來設定所述檢查中的包含所述零件的檢查項目和/或檢查基準的檢查信息；以及