[發明專利]金屬微細結構體和檢測裝置

在審

• 申請號: 201980025271.3
• 申請日: 2019-06-27
• 公開（公告）號: CN112041666A
• 公開（公告）日: 2020-12-04
• 發明（設計）人: 管野天;柳川博人
• 申請（專利權）人: 松下知識產權經營株式會社
• 主分類號: G01N21/64
• 分類號: G01N21/64;G01N33/543
• 代理公司: 北京市中咨律師事務所 11247
• 代理人: 段承恩;李照明

1.一種金屬微細結構體，具備：

具有以預定間隔配置的多個突起部的基材；和

由被覆所述基材的金屬膜構成，通過照射光而產生表面等離激元的多個凸狀結構體，

位于所述多個凸狀結構體之中相鄰的凸狀結構體的間隙的底部的所述金屬膜的膜厚，大于所述多個突起部的高度，并且是在所述多個突起部的頂部上堆積的所述金屬膜的膜厚的90％以上且100％以下的厚度。

2.根據權利要求1所述的金屬微細結構體，

所述多個凸狀結構體各自的縱截面形狀為正錐狀。

3.根據權利要求1或2所述的金屬微細結構體，

所述基材由樹脂構成，

所述多個突起部各自的形狀為圓柱型，

所述多個突起部在俯視圖中配置成正三角形格子，

所述多個突起部的粗度分別為184nm以上且276nm以下，

所述多個突起部之中相鄰的突起部的間隔分別為184nm以上且276nm以下。

4.根據權利要求1～3中任一項所述的金屬微細結構體，

所述多個突起部的高度分別為160nm以上且240nm以下，

位于所述多個凸狀結構體之中相鄰的凸狀結構體的間隙的所述金屬膜的膜厚為200nm以上且600nm以下。

5.根據權利要求1～4中任一項所述的金屬微細結構體，

所述多個凸狀結構體之中相鄰的凸狀結構體的間隔，在穿過各個凸狀結構體的俯視圖的中心的、與所述基材垂直的截面中，在凸狀結構體的頂部側為40nm以上且120nm以下，

并且，在所述凸狀結構體的底部側為10nm以上且40nm以下。

6.根據權利要求1～5中任一項所述的金屬微細結構體，

所述金屬膜由金、銀、銅、鋁或包含這些金屬中的任一種金屬作為主成分的合金構成。

7.一種檢測裝置，具備：

權利要求1～6中任一項所述的金屬微細結構體；

將可能包含被檢測物質的試料和發光體導入所述金屬微細結構體的導入部；

向所述金屬微細結構體、以及所述被檢測物質與所述發光體的結合體照射光的照射部；和

檢測通過由所述照射部照射的光激發的所述發光體所發出的光的光檢測部。

8.根據權利要求7所述的檢測裝置，

還具備固定在所述金屬微細結構體上的第一抗體、和被所述發光體標記了的第二抗體，

所述第一抗體具有與作為病毒或所述病毒的構成成分的被檢測物質特異性結合的性質，

所述第二抗體具有與已經與所述第一抗體特異性結合了的所述被檢測物質特異性結合的性質。

9.根據權利要求7或8所述的檢測裝置，

所述照射部照射出的光的波長和由所述光檢測部檢測的光的波長分別為400nm以上且850nm以下。