[發明專利]半導體裝置、圖像捕獲裝置、圖像捕獲系統和移動物體有效
| 申請號: | 201980015111.0 | 申請日: | 2019-01-28 |
| 公開(公告)號: | CN111788825B | 公開(公告)日: | 2023-03-28 |
| 發明(設計)人: | 落合慧 | 申請(專利權)人: | 佳能株式會社 |
| 主分類號: | H04N25/40 | 分類號: | H04N25/40;H04N25/78;H01L21/822;H01L27/04 |
| 代理公司: | 中國貿促會專利商標事務所有限公司 11038 | 代理人: | 馬景輝 |
| 地址: | 日本*** | 國省代碼: | 暫無信息 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 半導體 裝置 圖像 捕獲 系統 移動 物體 | ||
根據本發明,考慮了用于延長半導體裝置的剩余壽命的驅動。可提供可以在圖像捕獲操作被實際執行之后估計剩余壽命的圖像捕獲裝置。
技術領域
本發明涉及一種半導體裝置、圖像捕獲系統和移動物體。
背景技術
近年來,已經使用了各種半導體裝置。隨著半導體裝置的操作時段增加,更可能發生半導體裝置的功能的喪失。
例如,對于PTL 1中公開的技術,描述了一種半導體裝置,該半導體裝置包括壽命估計單元,該壽命估計單元獲取半導體裝置的功能單元的劣化程度并根據劣化程度估計半導體的壽命。根據PTL 1,當閾值電壓由于半導體器件的劣化而增加時,電源電壓Vdd增加。這使得功能單元的壽命得以增加。
引用列表
專利文獻
PTL 1:日本專利特許公開號2017-173242
發明內容
技術問題
在PTL 1中公開的技術中,執行用于增加電源電壓的驅動以增加半導體裝置的壽命。但是,在一些情況下,電源電壓的增加導致半導體裝置的壽命的減少,并且驅動對于增加半導體裝置的壽命不是最優的。另外,根本沒有考慮圖像捕獲裝置的壽命的估計。
根據本發明,考慮了用于增加半導體裝置的剩余壽命的驅動。
問題的解決方案
已鑒于以上問題實現了本發明。根據本發明的一方面,一種半導體裝置包括:執行信號處理的半導體器件;控制半導體器件的驅動的驅動控制單元;以及獲取表示半導體器件的剩余壽命的剩余壽命信息的壽命獲取單元。在剩余壽命信息表示第一長度的情況下,驅動控制單元在第一條件下驅動半導體器件。在剩余壽命信息表示比第一長度短的第二長度的情況下,驅動控制單元在第二條件下驅動半導體器件,在第二條件下,信號處理的吞吐量低于在第一條件下驅動半導體器件的情況下的信號處理的吞吐量,并且半導體器件的剩余壽命比在第一條件下驅動半導體器件的情況下的剩余壽命長。
根據另一方面,一種圖像捕獲裝置包括:以行和列布置并且包括相應的光電轉換器的像素;執行用于讀取像素的信號的圖像捕獲操作的圖像傳感器;以及獲取關于圖像傳感器的剩余壽命信息的壽命估計單元。圖像傳感器多次執行圖像捕獲操作。壽命估計單元在圖像捕獲操作被多次執行之后獲取剩余壽命信息。
本發明的有益效果
根據本發明,可以增加半導體裝置的剩余壽命。
此外,根據本發明,提供了可以在圖像捕獲操作被實際執行之后估計剩余壽命的圖像捕獲裝置。
附圖說明
圖1圖示了半導體裝置的結構。
圖2是圖示半導體裝置的操作的流程圖。
圖3A圖示了半導體裝置的操作時間與壽命之間的關系。
圖3B圖示了半導體裝置的操作時間與壽命之間的關系。
圖3C圖示了半導體裝置的操作時間與壽命之間的關系。
圖3D圖示了半導體裝置的操作時間與壽命之間的關系。
圖3E圖示了半導體裝置的操作時間與壽命之間的關系。
圖4圖示了圖像捕獲裝置的結構。
圖5是像素的等效電路圖。
圖6是列電路的框圖。
圖7A圖示了圖像捕獲裝置的操作。
圖7B圖示了圖像捕獲裝置的操作。
圖8圖示了圖像捕獲裝置的結構。
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