[實用新型]一種連接器短針與漏針檢測裝置

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201922301223.2
• 申請日: 2019-12-20
• 公開（公告）號: CN211856860U
• 公開（公告）日: 2020-11-03
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 袁亮
• 申請（專利權(quán)）人: 蘇州埃博斯電氣有限公司
• 主分類號: G01R31/66
• 分類號: G01R31/66
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

本實用新型涉及一種連接器短針與漏針檢測裝置，具有底板，所述底板的左右兩端設(shè)置有支撐座，所述支撐座上設(shè)置有下承座，所述下承座的中部設(shè)置有導(dǎo)電片，所述導(dǎo)電片上設(shè)置有上承座，所述上承座和下承座的中部均開有口形槽，所述導(dǎo)電片、上承座和下承座上均開有檢測孔，所述下承座上還開有導(dǎo)電孔，所述導(dǎo)電片的下方設(shè)置有導(dǎo)電探針和檢測探針，所述導(dǎo)電探針和檢測探針的上端均與導(dǎo)電片的下端面接觸。本實用新型的有益效果為：能夠快速對連接器的PIN針進行檢測，檢測效率較高。

技術(shù)領(lǐng)域

本實用新型涉及檢測設(shè)備領(lǐng)域，具體涉及一種連接器短針與漏針檢測裝置。

背景技術(shù)

隨著現(xiàn)在科技的發(fā)展，各行各業(yè)的產(chǎn)品都越來越集成與智能化，對電氣功能的要求不斷增加，連接器作為所有電氣功能的基本連接方式，也隨著應(yīng)用面的增加其零件的質(zhì)量水平也在隨之增高。在連接器中，多種PIN針同時使用時容易混料，組裝時容易漏裝PIN針，造成產(chǎn)品不良，電氣功能異常，現(xiàn)有的檢測裝置需要將連接器插入對應(yīng)的插座內(nèi)再拔出進行檢測，效率較低，檢測精度不高。

實用新型內(nèi)容

本實用新型的目的是：提供一種連接器短針與漏針檢測裝置，能夠快速對連接器的PIN針進行檢測，檢測效率較高。

為了實現(xiàn)上述目的，本實用新型提供如下的技術(shù)方案：一種連接器短針與漏針檢測裝置，具有底板，所述底板的左右兩端設(shè)置有支撐座，所述支撐座上設(shè)置有下承座，所述下承座的中部設(shè)置有導(dǎo)電片，所述導(dǎo)電片上設(shè)置有上承座，所述上承座和下承座的中部均開有口形槽，所述導(dǎo)電片、上承座和下承座上均開有檢測孔，所述下承座上還開有導(dǎo)電孔，所述導(dǎo)電片的下方設(shè)置有導(dǎo)電探針和檢測探針，所述導(dǎo)電探針和檢測探針的上端均與導(dǎo)電片的下端面接觸。

進一步的，所述檢測探針具體有多個，所述檢測孔的數(shù)目與檢測探針的數(shù)目相同，且多個檢測探針分別設(shè)置于下承座的多個檢測孔內(nèi)。

進一步的，所述導(dǎo)電探針具體有兩個，所述導(dǎo)電孔具體有兩個，兩個導(dǎo)電孔設(shè)置于下承座口形槽內(nèi)的對角處，且兩個導(dǎo)電探針分別設(shè)置于兩個導(dǎo)電孔內(nèi)。

進一步的，所述支撐座與底板螺紋連接，所述上承座、導(dǎo)電片、導(dǎo)電探針、檢測探針和支撐座與下承座螺紋連接。

本實用新型的有益效果為：通過導(dǎo)電探針、導(dǎo)電片和檢測探針的配合使用能夠快速對連接器的PIN針進行檢測，檢測效率較高。

附圖說明

圖1為本實用新型一種連接器短針與漏針檢測裝置的爆炸示意圖；

圖2為本實用新型一種連接器短針與漏針檢測裝置的軸測示意圖。

圖中：1.底板；2.支撐座；3.下承座；301.導(dǎo)電孔；4.上承座；5.導(dǎo)電片；6.導(dǎo)電探針；7.檢測探針；8.檢測孔；9.連接器。

具體實施方式

為了使本實用新型的目的、技術(shù)方案及優(yōu)點更加清楚明白，以下結(jié)合附圖及實施例，對本實用新型作進一步的詳細說明。應(yīng)當(dāng)理解，此處所描述的具體實施例僅用以解釋本實用新型，并不用于限定本實用新型。

參考圖1-圖2所示的一種連接器短針與漏針檢測裝置，具有底板1，所述底板1的左右兩端設(shè)置有支撐座2，所述支撐座2上設(shè)置有下承座3，所述下承座3的中部設(shè)置有導(dǎo)電片5，所述導(dǎo)電片5上設(shè)置有上承座4，所述上承座4和下承座3的中部均開有口形槽，所述導(dǎo)電片5、上承座4和下承座3上均開有檢測孔8，所述下承座3上還開有導(dǎo)電孔301，所述導(dǎo)電片5的下方設(shè)置有導(dǎo)電探針6和檢測探針7，所述導(dǎo)電探針6和檢測探針7的上端均與導(dǎo)電片5的下端面接觸。

所述檢測探針7具體有多個，所述檢測孔8的數(shù)目與檢測探針7的數(shù)目相同，且多個檢測探針7分別設(shè)置于下承座3的多個檢測孔8內(nèi)。